Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
processor testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/89)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed functional built-in self-test methodology for processors [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Indus, Viljar
;
Kalmend, Oliver
Proceedings of the IASTED International Conference on Engineering and Applied Science : December 27-29, 2012, Columbo, Sri Lanka
2012
/
p. 168-172 : ill [CD-ROM]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas
High-Level Implementation-Independent Functional Software-Based Self-Test for RISC Processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Journal of electronic testing : theory and applications
2020
/
p. 87-103
https://doi.org/10.1007/s10836-020-05856-7
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
89
1.
processor testing
2.
RISC processor testing
3.
processor core testing
4.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
5.
microprocessor testing
6.
ARM processor
7.
crypto processor
8.
digital signal processor (DSP)
9.
multicore processor
10.
multi-processor
11.
multi-processor system-on-chip
12.
multi-processor system-on-chips (MPSoCs)
13.
Muti-Processor System on Chip (MPSoC)
14.
processor architecture
15.
processor designs
16.
processor-centric board
17.
processor-centric board test
18.
accelerated testing
19.
acoustomechanical testing
20.
anaerobic testing
21.
aspect-oriented testing
22.
at-speed testing
23.
benchmark testing
24.
Berridge testing
25.
cancer genomic testing
26.
compliance testing
27.
compositional testing
28.
computer aided testing
29.
conformance testing
30.
courses on electronic testing and design
31.
cybersecurity testing
32.
D. non-destructive testing
33.
design field testing
34.
destructive testing
35.
eddy current testing
36.
eddy current testing (ECT)
37.
erosion testing
38.
fatigue testing
39.
fire testing
40.
hierarchical testing
41.
hypotheses testing
42.
integration testing
43.
laboratory scale testing
44.
load testing
45.
macro mechanical testing and green surface tribology
46.
material testing
47.
materials testing
48.
measurement and testing
49.
mechanical testing
50.
memory testing
51.
metamorphic testing
52.
model based testing
53.
model-based mutation testing
54.
model-based testing
55.
mutation testing
56.
network-testing
57.
non destructive testing
58.
nondestructive testing
59.
non-destructive testing
60.
on-site testing
61.
pin on disc wear testing
62.
PMU calibration testing
63.
PMU testing
64.
point-of-care testing
65.
real-time HiL testing
66.
regression testing
67.
robustness testing
68.
safety and security testing
69.
scenario testing
70.
scratch testing
71.
security testing
72.
small-scale fire testing
73.
software testing
74.
software-in-the-loop (SIL) testing
75.
stand-alone testing
76.
stress-testing
77.
substation testing methods
78.
system testing
79.
tensile testing
80.
testing
81.
testing methods
82.
testing of digital devices
83.
testing of generator
84.
testing of phasor measurement units
85.
two-dimensional array testing
86.
wafer testing
87.
wear testing
88.
vibration testing
89.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT