Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
processor testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/103)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed functional built-in self-test methodology for processors [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Indus, Viljar
;
Kalmend, Oliver
Proceedings of the IASTED International Conference on Engineering and Applied Science : December 27-29, 2012, Columbo, Sri Lanka
2012
/
p. 168-172 : ill [CD-ROM]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas
High-Level Implementation-Independent Functional Software-Based Self-Test for RISC Processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Journal of electronic testing : theory and applications
2020
/
p. 87-103
https://doi.org/10.1007/s10836-020-05856-7
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
103
1.
processor testing
2.
RISC processor testing
3.
processor core testing
4.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
5.
microprocessor testing
6.
ARM processor
7.
crypto processor
8.
digital signal processor (DSP)
9.
multicore processor
10.
multi-processor
11.
multi-processor system-on-chip
12.
multi-processor system-on-chips (MPSoCs)
13.
Muti-Processor System on Chip (MPSoC)
14.
processor architecture
15.
processor designs
16.
processor-centric board
17.
processor-centric board test
18.
RISC-V Processor
19.
accelerated testing
20.
acoustomechanical testing
21.
anaerobic testing
22.
aspect-oriented testing
23.
assessment and testing
24.
at-speed testing
25.
benchmark testing
26.
Berridge testing
27.
burst testing
28.
cancer genomic testing
29.
circuit testing
30.
compliance testing
31.
compositional testing
32.
computer aided testing
33.
cone heater testing
34.
conformance testing
35.
courses on electronic testing and design
36.
cybersecurity testing
37.
D. non-destructive testing
38.
deformation testing
39.
design field testing
40.
destructive testing
41.
eddy current testing
42.
eddy current testing (ECT)
43.
erosion testing
44.
fabric testing
45.
fatigue testing
46.
fire testing
47.
hierarchical testing
48.
hypotheses testing
49.
integration testing
50.
laboratory scale testing
51.
load testing
52.
macro mechanical testing and green surface tribology
53.
material testing
54.
materials testing
55.
measurement and testing
56.
mechanical testing
57.
memory testing
58.
metamorphic testing
59.
model based testing
60.
model-based mutation testing
61.
model-based testing
62.
multi-scenario testing
63.
mutation testing
64.
network-testing
65.
non destructive testing
66.
nondestructive testing
67.
non-destructive testing
68.
non-destructive testing (NDT)
69.
On-site drug testing
70.
on-site testing
71.
pin on disc wear testing
72.
PMU calibration testing
73.
PMU testing
74.
point-of-care testing
75.
real-time HiL testing
76.
regression testing
77.
robustness testing
78.
safety and security testing
79.
scenario testing
80.
Scenario-Based Testing
81.
scratch testing
82.
security testing
83.
shear testing
84.
small-scale fire testing
85.
software testing
86.
software-in-the-loop (SIL) testing
87.
stand-alone testing
88.
stress-testing
89.
substation testing methods
90.
system testing
91.
tensile testing
92.
testing
93.
testing methods
94.
testing of digital devices
95.
testing of generator
96.
testing of phasor measurement units
97.
two-dimensional array testing
98.
ultrasonic testing
99.
wafer testing
100.
wear testing
101.
well testing
102.
vibration testing
103.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT