Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
nondestructive testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
4
Vaata veel..
(1/90)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(4)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Convolution of Barker and Mutually Orthogonal Golay Complementary Codes for Ultrasonic Testing
Peng, Chengxiang
;
Annus, Paul
;
Rist, Marek
;
Land, Raul
;
Ratassepp, Madis
Sensors
2025
/
art. 5007
https://doi.org/10.3390/s25165007
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Flexible data acquisition system with custom front-end for ultrasonic NDT research
Peng, Chengxiang
;
Ratassepp, Madis
;
Annus, Paul
;
Rist, Marek
;
Land, Raul
;
Märtens, Olev
2024 19th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC)
2024
/
4 p
https://doi.org/10.1109/BEC61458.2024.10737989
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
3
artikkel ajakirjas
Higlights in the research into complexity of nonlinear waves
Engelbrecht, Jüri
;
Berezovski, Arkadi
;
Soomere, Tarmo
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences
2010
/
p. 61-65
https://doi.org//10.3176/proc.2010.2.01
artikkel ajakirjas
4
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Tone bursts in exponentially graded materials characterized by parametric plots
Ravasoo, Arvi
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences
2013
/
p. 258-266
https://doi.org/10.3176/proc.2013.4.06
Journal metrics at Scopus
at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 4, kuvan
1 - 4
võtmesõna
90
1.
nondestructive testing
2.
nondestructive material characterization
3.
ultrasonic nondestructive evaluation
4.
accelerated testing
5.
acoustomechanical testing
6.
anaerobic testing
7.
aspect-oriented testing
8.
assessment and testing
9.
at-speed testing
10.
benchmark testing
11.
Berridge testing
12.
burst testing
13.
cancer genomic testing
14.
compliance testing
15.
compositional testing
16.
computer aided testing
17.
cone heater testing
18.
conformance testing
19.
courses on electronic testing and design
20.
cybersecurity testing
21.
D. non-destructive testing
22.
deformation testing
23.
design field testing
24.
destructive testing
25.
eddy current testing
26.
eddy current testing (ECT)
27.
erosion testing
28.
fabric testing
29.
fatigue testing
30.
fire testing
31.
hierarchical testing
32.
hypotheses testing
33.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
34.
integration testing
35.
laboratory scale testing
36.
load testing
37.
macro mechanical testing and green surface tribology
38.
material testing
39.
materials testing
40.
measurement and testing
41.
mechanical testing
42.
memory testing
43.
metamorphic testing
44.
microprocessor testing
45.
model based testing
46.
model-based mutation testing
47.
model-based testing
48.
multi-scenario testing
49.
mutation testing
50.
network-testing
51.
non destructive testing
52.
non-destructive testing
53.
non-destructive testing (NDT)
54.
On-site drug testing
55.
on-site testing
56.
pin on disc wear testing
57.
PMU calibration testing
58.
PMU testing
59.
point-of-care testing
60.
processor core testing
61.
processor testing
62.
real-time HiL testing
63.
regression testing
64.
RISC processor testing
65.
robustness testing
66.
safety and security testing
67.
scenario testing
68.
Scenario-Based Testing
69.
scratch testing
70.
security testing
71.
shear testing
72.
small-scale fire testing
73.
software testing
74.
software-in-the-loop (SIL) testing
75.
stand-alone testing
76.
stress-testing
77.
substation testing methods
78.
system testing
79.
tensile testing
80.
testing
81.
testing methods
82.
testing of digital devices
83.
testing of generator
84.
testing of phasor measurement units
85.
two-dimensional array testing
86.
ultrasonic testing
87.
wafer testing
88.
wear testing
89.
vibration testing
90.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT