Guarnieri, V., Hantson, H., Raik, J., Jenihhin, M., Ubar, R.

täiskirje prindi

On the reuse of TLM mutation analysis at RTL

autor

Guarnieri, Valerio

Hantson, Hanno

Raik, Jaan

Jenihhin, Maksim

Ubar, Raimund-Johannes

vastutusandmed

Valerio Guarnieri, ... Hanno Hantson, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar [et al.]

allikas

Journal of electronic testing : theory and applications

ajakirja aastakäik number kuu

Vol. 28, 4

ilmumisaasta

2012

leheküljed

p. 435-448 : ill

ISSN

0923-8174

märkused

Bibliogr.: 35 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

võtmesõna

mutation analysis

mutation testing

systemC

transaction-level modeling

Guarnieri, V., Hantson, H., Raik, J., Jenihhin, M., Ubar, R. On the reuse of TLM mutation analysis at RTL // Journal of electronic testing : theory and applications (2012) Vol. 28, 4, p. 435-448 : ill.