Otsing - TalTech teadusportaal

Multiple fault testing in systems-on-chip with high-level decision diagrams (pealkiri)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Multiple fault testing in systems-on-chip with high-level decision diagramsUbar, Raimund-Johannes; Oyeniran, Adeboye Stephen; Schölzel, Mario; Vierhaus, Heinrich TheodorProceedings of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT) : Dead Sea, Jordan, 14-16 December 20152015 / p. 66-71 : ill http://dx.doi.org/10.1109/IDT.2015.7396738

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1