Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
high-level fault coverage (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
4
Vaata veel..
(1/120)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(4)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
High-Level Implementation-Independent Functional Software-Based Self-Test for RISC Processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Journal of electronic testing : theory and applications
2020
/
p. 87-103
https://doi.org/10.1007/s10836-020-05856-7
artikkel ajakirjas
2
artikkel kogumikus
High-level test generation for processing elements in many-core systems
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Raik, Jaan
12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC2017), July 12-14, 2017, Madrid, Spain : proceedings
2017
/
8 p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Implementation-independent functional test generation for RISC microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]
2019
/
p. 82-87 : ill
https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920323
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
On test generation for microprocessors for extended class of functional faults
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC: New technology enabler : 27th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019 Cusco, Peru, October 6–9, 2019 : Revised and Extended Selected Papers
2020
/
p. 21-44
https://doi.org/10.1007/978-3-030-53273-4
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Kirjeid leitud 4, kuvan
1 - 4
võtmesõna
120
1.
high-level fault coverage
2.
high-level control fault model
3.
high-level fault model
4.
high-level fault simulation
5.
high-level functional fault model
6.
fault coverage
7.
logic level and high level BDDs
8.
low-level fault redundancy
9.
high level DD (HLDD)
10.
high level of security
11.
high level synthesis
12.
high-level control faults
13.
high-level decision diagram
14.
high-level decision diagrams
15.
high-level decision diagrams (HLDD) synthesis
16.
High-level Decision Diagrams for Modeling Digital Systems
17.
high-level expert group on AI
18.
high-level synthesis
19.
High-Level Synthesis (HLS)
20.
high-level synthesis for test
21.
high-level test data generation
22.
High-Pressure High-Temperature Spark Plasma Sintering
23.
code coverage
24.
code-coverage
25.
conceptual coverage
26.
coverage
27.
coverage factor
28.
diagnostic coverage
29.
gaps in coverage
30.
insurance coverage
31.
NB-IoT coverage
32.
Security Coverage
33.
stress coverage
34.
test coverage
35.
5G coverage
36.
asynchronous fault detection
37.
automatic fault diagnosis
38.
bearing fault diagnosis
39.
bi-directional fault monitoring devices
40.
conditional fault collapsing
41.
control fault models
42.
critical path fault tracing
43.
cross-layer fault tolerance
44.
cross-layered fault management
45.
extended fault class
46.
fault currents
47.
fault analysis
48.
fault analysis model
49.
fault classification
50.
fault classification
51.
fault collapsing
52.
fault compensation
53.
fault current and voltage measurements
54.
Fault current limite
55.
fault current limiter
56.
fault detection
57.
fault detection and diagnoses
58.
fault detection and diagnosis
59.
fault diagnosis
60.
fault diagnostic
61.
fault diagnostic resolution
62.
fault diagnostics
63.
fault dignosis
64.
fault effects
65.
fault emulation
66.
fault equivalence and dominance
67.
fault handling
68.
fault handling strategy
69.
fault indicator
70.
fault injection
71.
Fault Injection Simulation
72.
fault Interruption
73.
fault localization
74.
fault location
75.
fault management
76.
fault masking
77.
fault modeling
78.
fault models
79.
fault monitoring
80.
fault prediction
81.
fault protection
82.
fault redundancy
83.
fault resilience
84.
fault ride through
85.
Fault ride through enhancement
86.
fault signal
87.
fault simulastion
88.
fault simulation
89.
fault simulation with critical path tracing
90.
fault tolerance
91.
fault tolerant
92.
fault tolerant control
93.
fault tolerant operation
94.
fault tolerant router design
95.
fault tolerant systems
96.
fault tree analysis
97.
fault-injection attack
98.
fault-plane solution
99.
fault-resilience
100.
fault-resistant
101.
fault-ride-through (FRT)
102.
fault-tolerance
103.
fault-tolerant
104.
Fault-tolerant (FT) converters
105.
fault-tolerant control
106.
fault-tolerant converter
107.
functional fault model
108.
Katun fault
109.
no fault found
110.
No-Fault-Found
111.
open circuit fault
112.
Parallel Fault Simulation with Critical Path Backtracing
113.
parallel fault-simulation
114.
short circuit fault
115.
spectrum-based fault localization
116.
stacking fault
117.
stuck-at fault model
118.
test generation and fault diagnosis
119.
transient fault mitigation
120.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT