Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

26

dissertatsioon

dissertatsioon

27

artikkel ajakirjas

Probabilistic analysis of CMOS physical defects in VLSI circuits for test coverage improvementBlyzniuk, M.; Kazymyra, I.; Kuzmicz, W.; Pleskacz, Witold A.; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesMicroelectronics reliability2001 / p. 2023-2040 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271401000920

artikkel ajakirjas

28

artikkel kogumikus

Representing transparency conditions in test generation for VLSI by decision diagramsUbar, Raimund-JohannesProceedings of the First Electronic Circuits and Systems Conference : Bratislava, Slovakia, September 4-5, 19971997 / p. 213-216

artikkel kogumikus

29

raamat

Riistvara kirjeldamiskeel - VHDL : metoodiline materjalTammemäe, Kalle2003 http://www.ester.ee/record=b1605950*est

raamat

30

raamat

Riistvara kirjeldamiskeel VHDL : metoodiline materjalTammemäe, Kalle2002 http://www.ester.ee/record=b1605950*est

raamat

31

artikkel ajakirjas

Runtime contention and bandwidth-aware adaptive routing selection strategies for networks-on-chipSamman, Faizal; Hollstein, Thomas; Glesner, ManfredIEEE transactions on parallel and distributed systems2013 / p. 1411-1421 : ill

artikkel ajakirjas

32

dissertatsioon

dissertatsioon

33

raamat

raamat