Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
at-speed testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/109)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed self-testing of high-performance pipe-lined processing architectures [Electronic resource]
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
31st Norchip Conference : Vilnius, Lithuania, 11-12 November 2013 : conference program and papers
2013
/
p. 1-6 : ill [USB]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas
Functional self-test of high-performance pipe-lined signal processing architectures
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
Microprocessors and microsystems
2015
/
p. 909-918 : ill
http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2014.11.002
artikkel ajakirjas
3
artikkel kogumikus
Self-testing of pipe-lined signal processing architectures at-speed
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
2013
/
p. 25-28 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
109
1.
at-speed testing
2.
boundedness and summability with speed
3.
boundedness with speed
4.
convergence and absolute convergence with speed
5.
convergence and boundedness with speed
6.
convergence and α-absolute convergence with speed
7.
convergence with speed
8.
Drilling speed
9.
high speed boat
10.
high speed craft (HSC)
11.
high speed machining
12.
high speed measurement
13.
high-speed
14.
high-speed craft
15.
high-speed design
16.
high-speed MAS (magic angle spinning)
17.
high-speed planing crafts
18.
high-speed railway
19.
high-speed serial link test
20.
high-speed temperature scanner
21.
high-speed thermogravimetric analysis
22.
low speed
23.
operational speed
24.
Pollen fall speed
25.
speed
26.
speed and position estimation
27.
speed of convergence
28.
speed tracking setpoints
29.
summability and boundedness with speed
30.
variable speed drive
31.
variable speed drives
32.
variable speed wind turbines
33.
variable-speed drives
34.
variable-speed drives (VSDs)
35.
wind speed
36.
α-absolute convergence with speed
37.
accelerated testing
38.
acoustomechanical testing
39.
anaerobic testing
40.
aspect-oriented testing
41.
benchmark testing
42.
Berridge testing
43.
cancer genomic testing
44.
compliance testing
45.
compositional testing
46.
computer aided testing
47.
conformance testing
48.
courses on electronic testing and design
49.
cybersecurity testing
50.
D. non-destructive testing
51.
design field testing
52.
destructive testing
53.
eddy current testing
54.
erosion testing
55.
fatigue testing
56.
fire testing
57.
hierarchical testing
58.
hypotheses testing
59.
integration testing
60.
laboratory scale testing
61.
load testing
62.
macro mechanical testing and green surface tribology
63.
material testing
64.
materials testing
65.
measurement and testing
66.
mechanical testing
67.
memory testing
68.
metamorphic testing
69.
microprocessor testing
70.
model based testing
71.
model-based mutation testing
72.
model-based testing
73.
mutation testing
74.
network-testing
75.
non destructive testing
76.
nondestructive testing
77.
non-destructive testing
78.
on-site testing
79.
pin on disc wear testing
80.
PMU calibration testing
81.
PMU testing
82.
point-of-care testing
83.
processor core testing
84.
processor testing
85.
real-time HiL testing
86.
regression testing
87.
RISC processor testing
88.
robustness testing
89.
scenario testing
90.
scratch testing
91.
security testing
92.
small-scale fire testing
93.
software testing
94.
software-in-the-loop (SIL) testing
95.
stand-alone testing
96.
stress-testing
97.
substation testing methods
98.
system testing
99.
tensile testing
100.
testing
101.
testing methods
102.
testing of digital devices
103.
testing of generator
104.
testing of phasor measurement units
105.
two-dimensional array testing
106.
wafer testing
107.
wear testing
108.
vibration testing
109.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT