Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Handbook of testing electronic systems (pealkiri)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/91)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
raamat
Handbook of testing electronic systems
Novak, Ondrej
;
Gramatova, Elena
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
2005
https://www.ester.ee/record=b2102523*est
raamat
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
91
1.
courses on electronic testing and design
2.
Electronic Document and Records Management Systems (EDRMS)
3.
electronic payment systems
4.
nano-electronic systems design
5.
handbook
6.
MIL-HDBK-217F handbook
7.
accelerated testing
8.
acoustomechanical testing
9.
anaerobic testing
10.
aspect-oriented testing
11.
assessment and testing
12.
at-speed testing
13.
benchmark testing
14.
Berridge testing
15.
burst testing
16.
cancer genomic testing
17.
compliance testing
18.
compositional testing
19.
computer aided testing
20.
cone heater testing
21.
conformance testing
22.
cybersecurity testing
23.
D. non-destructive testing
24.
deformation testing
25.
design field testing
26.
destructive testing
27.
eddy current testing
28.
eddy current testing (ECT)
29.
erosion testing
30.
fabric testing
31.
fatigue testing
32.
fire testing
33.
hierarchical testing
34.
hypotheses testing
35.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
36.
integration testing
37.
laboratory scale testing
38.
load testing
39.
macro mechanical testing and green surface tribology
40.
material testing
41.
materials testing
42.
measurement and testing
43.
mechanical testing
44.
memory testing
45.
metamorphic testing
46.
microprocessor testing
47.
model based testing
48.
model-based mutation testing
49.
model-based testing
50.
mutation testing
51.
network-testing
52.
non destructive testing
53.
nondestructive testing
54.
non-destructive testing
55.
non-destructive testing (NDT)
56.
On-site drug testing
57.
on-site testing
58.
pin on disc wear testing
59.
PMU calibration testing
60.
PMU testing
61.
point-of-care testing
62.
processor core testing
63.
processor testing
64.
real-time HiL testing
65.
regression testing
66.
RISC processor testing
67.
robustness testing
68.
safety and security testing
69.
scenario testing
70.
scratch testing
71.
security testing
72.
shear testing
73.
small-scale fire testing
74.
software testing
75.
software-in-the-loop (SIL) testing
76.
stand-alone testing
77.
stress-testing
78.
substation testing methods
79.
system testing
80.
tensile testing
81.
testing
82.
testing methods
83.
testing of digital devices
84.
testing of generator
85.
testing of phasor measurement units
86.
two-dimensional array testing
87.
ultrasonic testing
88.
wafer testing
89.
wear testing
90.
vibration testing
91.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT