Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

Ubar, Raimund-Johannes (TTÜ autor)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 831
Vaata veel.. (4/149)
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (831)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
276

artikkel kogumikus

Feasibility of structurally synthesized BDD models for test generationRaik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the IEEE European Test Workshop, Barcelona, Spain, May 27-29, 19981998 / p. 145-146

artikkel kogumikus
277

raamat

Fehler in Automaten1989 http://www.ester.ee/record=b2015320*est

raamat
278

artikkel ajakirjas

Fehlerbestimmung in kombinatorischen Scaltungen durch Lösung der Booleschen DifferentialgleichungenUbar, Raimund-JohannesNachrichtentechnik, Elektronik : technisch-wissenschaftlishe Zeitschrift für die gesamte elektronische Nachrichtentechnik1978 / p. 330-334 : ill https://www.ester.ee/record=b1550811*est

artikkel ajakirjas
279

artikkel kogumikus

ForewordUbar, Raimund-Johannes; Prinetto, Paolo; Al-Hashimi, BashirInformal Digest of Papers : 10 IEEE European Test Symposium : Tallinn, Estonia, May 22-25, 20052005 / p. III

artikkel kogumikus
280

artikkel kogumikus

Foreword to the 12th IEEE DDECS SymposiumPliva, Zdenek; Manhaeve, Hans; Renovell, Michel; Novak, Ondrej; Ubar, Raimund-Johannes; Drabkova, JindraProceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 15-17, 2009, Liberec, Czech Republic2009 / p. iii http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2009.5012081

artikkel kogumikus
281

dissertatsioon

Formal verification and error correction on high-level decision diagrams = Formaalne verifitseerimine ja vigade parandamine kõrgtasemelistel otsustusdiagrammidelKarputkin, Anton2012

dissertatsioon
282

artikkel kogumikus

FPGA based fault emulation of synchronous sequential circuitsEllervee, Peeter; Raik, Jaan; Tihhomirov, Valentin; Ubar, Raimund-JohannesProceedings [of] 22nd NORCHIP Conference : Oslo, Norway, 8-9 November 20042004 / p. 59-62 https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/1423822

artikkel kogumikus
283

artikkel kogumikus

FPGA design flow with automated test generationElst, G.; Diener, Karl-Heinz; Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProc. of German 11th Workshop on Test Technology and Reliability of Circuits and Systems : Potsdam, 19991999 / p. 120-123

artikkel kogumikus
284

artikkel ajakirjas

FPGA-based fault emulation of synchronous sequential circuitsEllervee, Peeter; Raik, Jaan; Tammemäe, Kalle; Ubar, Raimund-JohannesIET computers and digital techniques2007 / 2, p. 70-76 : ill https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/1423822

artikkel ajakirjas
285

artikkel kogumikus

From online fault detection to fault management in network-on-chips : a ground-up approachAzad, Siavoosh Payandeh; Niazmand, Behrad; Janson, Karl; Nevin, George; Oyeniran, Adeboye Stephen; Putkaradze, Tsotne; Apneet Kaur; Raik, Jaan; Jervan, Gert; Ubar, Raimund-Johannes; Hollstein, ThomasProceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany2017 / p. 48-53 : ill https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553

artikkel kogumikus
286

artikkel kogumikus

FTGEN - система генерирования функциональных тестовUbar, Raimund-Johannes; Dušina, Julia; Zaugarov, Viktor; Крупнова Е.; Storožev, SergeiProceedings of CAD-93 : new information technologies for science, education and business, Yalta, May 4-13, 19931993 / p. 123-125

artikkel kogumikus
287

artikkel kogumikus

Functional built-in self-test for processor cores in SoCUbar, Raimund-Johannes; Indus, Viljar; Kalmend, Oliver; Evartson, Teet; Orasson, Elmet30th IEEE NORCHIP Conference : Copenhagen, Denmark, November 12-14, 20122012 / p. 1-4 : ill

artikkel kogumikus
288

artikkel kogumikus

Functional level controllability analysis for digital circuitsUbar, Raimund-Johannes; Kuchcinski, KtzysztofProc. of the Design Automation Conference, Kaunas, Lithuania, June 1-4, 19921992 / p. 13-21

artikkel kogumikus
289

artikkel kogumikus

Functional level test set generation methodsUbar, Raimund-JohannesProceedings of the 12th Conference on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics, Prague, Czechoslovakia, September, 19891989 / p. 46-55

artikkel kogumikus
290

artikkel kogumikus

Functional level testability analysis for digital circuitsUbar, Raimund-Johannes; Kuchcinski, KtzysztofETC '93 : European Test Conference, Rotterdam, The Netherlands, April 19-22, 19931993 / p. 545-546

artikkel kogumikus
291

raamat

Functional level testability analysis for digital circuitsUbar, Raimund-Johannes1992

raamat
292

artikkel ajakirjas

Functional self-test of high-performance pipe-lined signal processing architecturesGorev, Maksim; Ubar, Raimund-Johannes; Ellervee, Peeter; Devadze, Sergei; Raik, Jaan; Min, MartMicroprocessors and microsystems2015 / p. 909-918 : ill http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2014.11.002

artikkel ajakirjas
293

artikkel kogumikus

Functional specification and testing of digital systemsUbar, Raimund-JohannesMultimicroprocessor systems: Proceedings of the 3rd Symposium, Stralsund, oct. 16-20, 1989, Vol 11989 / p. 207-217

artikkel kogumikus
294

artikkel kogumikus

Functional test generation for finite state machinesUbar, Raimund-Johannes; Brik, Marina; Jutman, Artur; Raik, Jaan; Bengtsson, Tomas; Kumar, ShashiBEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006, Tallinn, Estonia : proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference2006 / p. 205-208 : ill

artikkel kogumikus
295

artikkel kogumikus

Functional test program generation for digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Dušina, Julia; Krupnova, Helena; Storožev, Sergei; Zaugarov, ViktorTestmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen : proceedings of the 6th workshop, Vaals (Niederlande), March 6-8, 19941994 / p. 14-18: ill

artikkel kogumikus
296

artikkel kogumikus

Funktsionaalsete alternatiivsete graafide mudeli süntees digitaallülitusteleKivi, E.; Ubar, Raimund-JohannesXXXII üliõpilaste teaduslik-tehnilise konverentsi ettekannete teesid : pühendatud V. I. Lenini 110. sünniaastapäevale : 16.-18. aprill 19801981 / lk. 91 https://www.ester.ee/record=b1322611*est

artikkel kogumikus
297

artikkel kogumikus

GA-based test generation for sequential circuitsBrik, Marina; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Ivask, EeroProceedings of East–West Design & Test Workshop (EWDTW’04) : Yalta, Alushta, Crimea, Ukraine, September 23-26, 20042004 / p. 30-34

artikkel kogumikus
298

artikkel kogumikus

Gate-level modelling of NBTI-induced delays under process variationsCopetti, Thiago; Cardoso Medeiros, Guilherme; Bolzani Poehls, Leticia; Vargas, Fabian; Kostin, Sergei; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesLATS 2016 : 17th IEEE Latin-American Test Symposium, Foz do Iguacu, Brazil, 6th-9th April 20162016 / p. 75-80 : ill http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2016.7483343

artikkel kogumikus
299

artikkel kogumikus

Generating directed tests for C programs using RTL ATPGRaik, Jaan; Drenkhan, Tiia; Jenihhin, Maksim; Viilukas, Taavi; Karputkin, Anton; Tšepurov, Anton; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the IEEE 13th Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT'12)2012 / p. 1-6

artikkel kogumikus
300

artikkel kogumikus

Generation of tests for the localization of single gate design errors in combinational circuits using the stuck-at fault modelUbar, Raimund-Johannes; Borrione, DominiqueXI Brasilian Symposium on Integrated Circuit Design, September 30 - October 3, 1998, Rio de Janeiro, Brazil : proceedings1998 / p. 51-54 https://ieeexplore.ieee.org/document/715409

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 831, kuvan 276 - 300

eelmine
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
järgmine

1. Ubar, Raimund-Johannes
2. Palm, Raimund
3. Räämet, Raimund 1918-2004
4. Aare, Johannes 1915-2000
5. Aavik, Eduard-Johannes
6. Ahrenschild, Johannes (-1936)
7. Alaots, Johannes
8. Aljak, Arnold Johannes
9. Allik, Erich-Johannes
10. Avik, Eduard Johannes 1891-1942
11. Drechsler, Wolfgang Johannes Max
12. Ehala, Johannes
13. Hint, Johannes 1914-1985
14. Johannes, Ille
15. Johannson, Johannes
16. Johanson, Johannes
17. Juhans, Johannes 1874-1956
18. Kajander, Aleksi Oskar Johannes
19. Kiiwet, Johannes
20. Kiivet, Johannes 1879-1967
21. Kivit, Johannes
22. Kollist, Johannes 1884-1937
23. Kollist, Johannes Theodor
24. Korv, August Johannes 1911-1981
25. Krimmer, Robert Johannes
26. Käpp, Martin Johannes
27. Langel, Johannes 1900-1985
28. Langell, Johannes
29. Livländer, Robert Johannes
30. Lutsar, Richard-Johannes
31. Madise, Johannes 1920-?
32. Maltenek, Evald Leonhard Johannes
33. Matsulevitš, Johannes
34. Meitre, Johannes 1906-1978
35. Messer, Johannes
36. Muru, Johannes
37. Mäll, Johannes 1911-1981
38. Mühlman, Johannes
39. Mühlmann, Johannes 1888-1936
40. Notermans, Antonius Johannes Hubertus
41. Nuudi, Johannes 1895-1975
42. Palo, Johannes 1925-1960
43. Pals, Johannes 1903-1941
44. Pello, Johannes
45. Pervik, Johannes 1892-1958
46. Pervik, Johannes-Eduard
47. Presmann, Johannes 1942-2013
48. Putk, Aksel-Johannes 1928-1999
49. Püümann, Mait Johannes
50. Renter, Olav-Johannes
51. Roes, Johannes
52. Russwurm, Johannes
53. Russvurm, Johannes 1855-1939
54. Russvurm, Johannes Carl Gysbert Immanuel
55. Sakeus, Johannes 1880-1934
56. Taimsalu, Johannes 1891-1942
57. Teiman, Johannes
58. Teimann, Johannes Rudolf (kuni 22.05.1935)
59. Tomson, Johannes
60. Tuulre, Feliks Johannes 1908-1987
61. Veerus, Johannes Voldemar 1897-1972
62. Verus, Johannes Voldemar
63. Vuhk, Oskar Johannes

1. Ubar, Raimund-Johannes, 1941-
2. Hagelberg, Raimund, 1927-2012
3. Räämet, Raimund, 1918-2004
4. Aare, Johannes, 1915-2000
5. Aavik, Johannes, 1880-1973
6. Avik, Eduard Johannes, 1891-1942
7. Bender, Naatan Johannes
8. Erm, Johannes, 1998-
9. Granö, Johannes Gabriel
10. Hint, Johannes, 1914-1985
11. Johannes Paulus II, paavst, 1920-2005
12. Kert, Johannes
13. Kiivet, Johannes, 1879-1967
14. Kollist, Johannes
15. Käis, Johannes
16. Lang, Johannes
17. Maide, Johannes Voldemar
18. Mossov, Johannes
19. Pals, Johannes, 1903-1941
20. Pello, Johannes
21. Putk, Aksel-Johannes
22. Rammul, Aleksander Johannes, 1875-1949
23. Steinbrunn, Johannes
24. Taimsalu, Johannes, 1891-1942
25. Talu, Martin Johannes
26. Veerus, Johannes Voldemar, 1897-1972
27. Veski, Johannes Voldemar, 1873-1968
28. Voll, Johannes

1. Johannes Mittus, vasevalamise tööstus

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu