Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

Ubar, Raimund-Johannes (TTÜ autor)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 831
Vaata veel.. (4/149)
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (831)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
226

artikkel ajakirjas

Elektroonika kompetentsuskeskus Tallinna Tehnikaülikooli juuresUbar, Raimund-JohannesArvutustehnika ja Andmetöötlus1994 / 2, lk. 33-36 ; 3, lk. 28-33

artikkel ajakirjas
227

artikkel ajakirjas

Elektroonika kompetentsuskeskus Tallinna TehnikaülikoolisUbar, Raimund-JohannesSõnumileht1996 / 13. veebr., lk. 17

artikkel ajakirjas
228

artikkel ajakirjas

Elektroonika kompetentsuskeskusest Tallinna Tehnikaülikooli juuresUbar, Raimund-JohannesArvutustehnika ja Andmetöötlus1996 / 1, lk. 2-4

artikkel ajakirjas
229

artikkel kogumikus

Elektroonika kui Eesti innovatsioonisüsteemi infrastruktuurMin, Mart; Rang, Toomas; Ubar, Raimund-JohannesEesti teadlaste kongress, 11.-15. augustini 1996. a. Tallinnas : ettekannete kokkuvõtted1996 / lk. 265 https://www.ester.ee/record=b1052731*est

artikkel kogumikus
230

artikkel ajakirjas

Elektroonikadisaini uued paradigmadUbar, Raimund-JohannesA & A1998 / 5, lk. 5-10

artikkel ajakirjas
231

artikkel ajakirjas

Elektroonikatööstuse 50 miljonitUbar, Raimund-JohannesLuup1999 / 1, lk. 23-25: ill

artikkel ajakirjas
232

artikkel kogumikus

Embedded diagnosis in digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Raik, Jaan2008 26th International Conference on Microelectronics : Niš, Serbia, 11-14 May 2008 : proceedings. Vol. 22008 / p. 421-424 : ill

artikkel kogumikus
233

artikkel ajakirjas

Embedded fault diagnosis in digital systems with BISTUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Raik, JaanMicroprocessors and microsystems2008 / 5/6, p. 279-287 : ill

artikkel ajakirjas
234

artikkel kogumikus

Energy minimization for hybrid BIST in a system-on-chip test environmentUbar, Raimund-Johannes; Shchenova, Tatjana; Jervan, Gert; Peng, ZeboEuropean Test Symposium : ETS 2005 : 22-25 May 2005, Tallinn, Estonia : proceedings2005 / p. 2-7 : ill

artikkel kogumikus
235

artikkel kogumikus

Enhancing hierarchical ATPG with a functional fault model for multiplexers [Electronic resource]Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes7th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 18-21, 2004, Stará Lesná, Slovakia : proceedings2004 / p. 219-222 : ill. [CD-ROM]

artikkel kogumikus
236

artikkel ajakirjas

Environment for FPGA-based fault emulationEllervee, Peeter; Raik, Jaan; Tammemäe, Kalle; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering2006 / 3-2, p. 323-335 : ill

artikkel ajakirjas
237

artikkel kogumikus

Environment for innovative university research training in the field of digital testOyeniran, Adeboye Stephen; Ademilua, Tolulope; Kruus, Margus; Ubar, Raimund-Johannes2021 30th Annual Conference of the European Association for Education in Electrical and Information Engineering (EAEEIE)2021 https://doi.org/10.1109/EAEEIE50507.2021.9531003

artikkel kogumikus
238

artikkel ajakirjas

Environment for the analysis of functional self-test quality in digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Kruus, Helena; Aarna, Margit; Devadze, SergeiProceedings of the Estonian Academy of Sciences2014 / p. 151-162 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b2673964*est

artikkel ajakirjas
239

artikkel kogumikus

Equivalent transformations of structurally synthesized BDDs and applicationsJürimägi, Lembit; Ubar, Raimund-Johannes; Viies, Vladimir2019 8th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO)2019 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/MECO.2019.8760283

artikkel kogumikus
240

artikkel kogumikus

Evolutionary approach to test generation for functional BISTSkobtsov, Y.A.; Ivanov, D.E.; Skobtsov, V.Y.; Ubar, Raimund-Johannes; Raik, JaanInformal Digest of Papers : 10 IEEE European Test Symposium : Tallinn, Estonia, May 22-25, 20052005 / p. 151-155 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b1018764*est

artikkel kogumikus
241

artikkel kogumikus

Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuitsSkobtsov, Y.A.; Ivanov, D.E.; Skobtsov, V.Y.; Ubar, Raimund-JohannesBEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia2004 / p. 229-232 : ill

artikkel kogumikus
242

artikkel ajakirjas

Exact parallel critical path fault tracing to speed-up fault simulation in sequential circuitsKõusaar, Jaak; Ubar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Devadze, Sergei; Raik, JaanInternational journal of microelectronics and computer science2018 / p. 9−18 https://ijmcs.dmcs.pl/web/guest/vol.-9-no.-1 https://ijmcs.dmcs.pl/documents/10630/345460/IJMCS_1_2018_2.pdf

artikkel ajakirjas
243

artikkel kogumikus

Exact static compaction of independent test sequencesRaik, Jaan; Jutman, Artur; Ubar, Raimund-JohannesBEC 2002 : proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference : October 6-9, 2002, Tallinn, Estonia2002 / p. 315-318 : ill

artikkel kogumikus
244

artikkel kogumikus

Exact static compaction of sequential circuit tests using branch-and-bound and search state registrationRaik, Jaan; Jutman, Artur; Ubar, Raimund-JohannesETW'02 : 7th IEEE European Test Workshop, Gorfu Greece, May 26-29, 2002 : informal digest2002 / p. 19-20 https://www.researchgate.net/publication/250423148_Exact_Static_Compaction_of_Sequential_Circuit_Tests_Using_Branch_and-Bound_and_Search_State_Registration

artikkel kogumikus
245

artikkel kogumikus

Experimental comparison of different diagnosis algorithms in the BIST environmentUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Raik, Jaan; Kruus, MargusProceedings of the 16th IASTED International Conference on Applied Simulation and Modelling : August 29-31, 2007, Palma de Mallorca, Spain2007 / p. 271-276 : ill

artikkel kogumikus
246

artikkel kogumikus

Exploiting high-level descriptions for circuits fault tolerance assessmentsBenso, A.; Prinetto, Paolo; Rebaudengo, M.; Sonza Reorda, Matteo; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Paris, October 20-22, 19971997 / p. 212-216 https://ieeexplore.ieee.org/document/628327

artikkel kogumikus
247

artikkel kogumikus

Explorations in low area overhead DfT techniques for sequential BISTRaik, Jaan; Raidma, Rein; Ubar, Raimund-JohannesIEEE NORCHIP 2003 : 21 Norchip Conference : Riga, Latvia, 10-11 November 2003 : proceedings2003 / p. 220-223 : ill

artikkel kogumikus
248

artikkel kogumikus

An external diagnosis method for network-on-a-chipRaik, Jaan; Govind, Vineeth; Ubar, Raimund-JohannesIEEE/ACM Design Automation and Test in Europe, Workshop on Diagnostic Services in Networks-on-Chips - Test, Debug and On-line Monitoring : April 16-20, 2007, Nice, France2007 / [2] p. : ill

artikkel kogumikus
249

artikkel kogumikus

Fast and efficient static compaction of test sequences based on greedy algorithmsRaik, Jaan; Jutman, Artur; Ubar, Raimund-JohannesIEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - IEEE DDECS 2001 : Fourth International Workshop on IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : Györ, Hungary, April 18-20, 20012001 / p. 117-122

artikkel kogumikus
250

artikkel kogumikus

Fast and efficient static compaction of test sequences using bipartite graph representationsMarkus, Antti; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesECS'99 : proceedings of the 2nd Electronic Circuits and Systems Conference : September 6-8, 1999, Bratislava, Slovakia1999 / p. 17-20

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 831, kuvan 226 - 250

eelmine
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
järgmine

1. Ubar, Raimund-Johannes
2. Palm, Raimund
3. Räämet, Raimund 1918-2004
4. Aare, Johannes 1915-2000
5. Aavik, Eduard-Johannes
6. Ahrenschild, Johannes (-1936)
7. Alaots, Johannes
8. Aljak, Arnold Johannes
9. Allik, Erich-Johannes
10. Avik, Eduard Johannes 1891-1942
11. Drechsler, Wolfgang Johannes Max
12. Ehala, Johannes
13. Hint, Johannes 1914-1985
14. Johannes, Ille
15. Johannson, Johannes
16. Johanson, Johannes
17. Juhans, Johannes 1874-1956
18. Kajander, Aleksi Oskar Johannes
19. Kiiwet, Johannes
20. Kiivet, Johannes 1879-1967
21. Kivit, Johannes
22. Kollist, Johannes 1884-1937
23. Kollist, Johannes Theodor
24. Korv, August Johannes 1911-1981
25. Krimmer, Robert Johannes
26. Käpp, Martin Johannes
27. Langel, Johannes 1900-1985
28. Langell, Johannes
29. Livländer, Robert Johannes
30. Lutsar, Richard-Johannes
31. Madise, Johannes 1920-?
32. Maltenek, Evald Leonhard Johannes
33. Matsulevitš, Johannes
34. Meitre, Johannes 1906-1978
35. Messer, Johannes
36. Muru, Johannes
37. Mäll, Johannes 1911-1981
38. Mühlman, Johannes
39. Mühlmann, Johannes 1888-1936
40. Notermans, Antonius Johannes Hubertus
41. Nuudi, Johannes 1895-1975
42. Palo, Johannes 1925-1960
43. Pals, Johannes 1903-1941
44. Pello, Johannes
45. Pervik, Johannes 1892-1958
46. Pervik, Johannes-Eduard
47. Presmann, Johannes 1942-2013
48. Putk, Aksel-Johannes 1928-1999
49. Püümann, Mait Johannes
50. Renter, Olav-Johannes
51. Roes, Johannes
52. Russwurm, Johannes
53. Russvurm, Johannes 1855-1939
54. Russvurm, Johannes Carl Gysbert Immanuel
55. Sakeus, Johannes 1880-1934
56. Taimsalu, Johannes 1891-1942
57. Teiman, Johannes
58. Teimann, Johannes Rudolf (kuni 22.05.1935)
59. Tomson, Johannes
60. Tuulre, Feliks Johannes 1908-1987
61. Veerus, Johannes Voldemar 1897-1972
62. Verus, Johannes Voldemar
63. Vuhk, Oskar Johannes

1. Ubar, Raimund-Johannes, 1941-
2. Hagelberg, Raimund, 1927-2012
3. Räämet, Raimund, 1918-2004
4. Aare, Johannes, 1915-2000
5. Aavik, Johannes, 1880-1973
6. Avik, Eduard Johannes, 1891-1942
7. Bender, Naatan Johannes
8. Erm, Johannes, 1998-
9. Granö, Johannes Gabriel
10. Hint, Johannes, 1914-1985
11. Johannes Paulus II, paavst, 1920-2005
12. Kert, Johannes
13. Kiivet, Johannes, 1879-1967
14. Kollist, Johannes
15. Käis, Johannes
16. Lang, Johannes
17. Maide, Johannes Voldemar
18. Mossov, Johannes
19. Pals, Johannes, 1903-1941
20. Pello, Johannes
21. Putk, Aksel-Johannes
22. Rammul, Aleksander Johannes, 1875-1949
23. Steinbrunn, Johannes
24. Taimsalu, Johannes, 1891-1942
25. Talu, Martin Johannes
26. Veerus, Johannes Voldemar, 1897-1972
27. Veski, Johannes Voldemar, 1873-1968
28. Voll, Johannes

1. Johannes Mittus, vasevalamise tööstus

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu