Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
automatic test pattern generation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/62)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Design obfuscation versus test
Farahmandi, Farimah
;
Sinanoglu, Ozgur
;
Blanton, Ronald
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
2020 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2020, May 25 - 29, 2020, Tallinn, Estonia
2020
/
10 p
https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131590
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
62
1.
automatic test pattern generation
2.
automated test pattern generation
3.
automatic test case generation
4.
automatic test program generation
5.
pattern Generation
6.
automatic code generation
7.
Automatic generation control
8.
automatic GUI model generation
9.
test-pattern
10.
adaptive test strategy generation
11.
behaviour level test generation
12.
functional test generation
13.
high-level test data generation
14.
highlevel test generation
15.
implementation-independent test generation
16.
offline test generation
17.
provably correct test generation
18.
test generation
19.
test generation and fault diagnosis
20.
test program generation
21.
architecture pattern
22.
circulation pattern
23.
demand time pattern
24.
FP Growth (Frequent-Pattern Growth) algorithm
25.
Image Processing and Pattern Recognition
26.
interaction design pattern
27.
load pattern
28.
pattern
29.
pattern classification
30.
pattern enumeration
31.
pattern formation
32.
pattern language
33.
pattern matching
34.
pattern mining from event logs
35.
pattern mining from log files
36.
pattern recognition
37.
pattern search
38.
ripple pattern formation
39.
Single far-field pattern
40.
automatic AI (autoAI)
41.
automatic assertion mining
42.
automatic calibration
43.
automatic clutch engagement
44.
automatic control
45.
automatic control systems
46.
automatic error correction
47.
automatic evaluation
48.
automatic fault diagnosis
49.
automatic identification system (AIS)
50.
automatic machine learning (autoML)
51.
automatic model creation
52.
automatic processing of solutions
53.
automatic program synthesis
54.
automatic programming
55.
Automatic Security Verification
56.
automatic speaker verification
57.
automatic speech recognition
58.
automatic tide gauges
59.
automatic weather stations
60.
automatic voltage control
61.
DLL for automatic calibration
62.
verification, assertion-based verification, automatic assertion mining, data mining, association rule mining
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT