Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
pattern Generation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/107)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Post-silicon validation of IEEE 1687 reconfigurable scan networks
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Squillero, Giovanni
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791546
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Simulation-based equivalence checking between IEEE 1687 ICL and RTL
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Portolan, Michele
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
2019
/
paper. 7.3, 8 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ITC44170.2019.9000181
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
107
1.
automated test pattern generation
2.
automatic test pattern generation
3.
pattern Generation
4.
architecture pattern
5.
circulation pattern
6.
demand time pattern
7.
FP Growth (Frequent-Pattern Growth) algorithm
8.
Image Processing and Pattern Recognition
9.
interaction design pattern
10.
load pattern
11.
pattern
12.
pattern classification
13.
pattern enumeration
14.
pattern formation
15.
pattern language
16.
pattern matching
17.
pattern mining for event logs
18.
pattern mining from event logs
19.
pattern mining from log files
20.
pattern recognition
21.
pattern search
22.
ripple pattern formation
23.
Single far-field pattern
24.
test-pattern
25.
Activity-based demand generation
26.
adaptive test strategy generation
27.
automatic code generation
28.
Automatic generation control
29.
automatic GUI model generation
30.
automatic test case generation
31.
automatic test program generation
32.
behaviour level test generation
33.
building and urban form generation
34.
business model generation
35.
code generation
36.
disaster alert generation
37.
distributed electricity generation
38.
distributed generation
39.
Distributed Generation (DG)
40.
distributed generation systems
41.
distributed power generation
42.
distrubuted power generation
43.
droplet generation
44.
droplet generation rate control
45.
electric power generation
46.
electricity generation
47.
energy generation
48.
extreme penetration level of non synchronous generation
49.
feasible path generation
50.
fifth generation computer
51.
fourth generation district heating
52.
frequent item generation
53.
functional test generation
54.
generation
55.
generation and transmission expansion planning
56.
Generation Costs
57.
generation of electric energy
58.
generation succession
59.
heat generation
60.
high-level test data generation
61.
highlevel test generation
62.
hydroelectric power generation
63.
hydrogen generation
64.
I–III generation
65.
implementation-independent test generation
66.
job generation
67.
multisine generation
68.
next generation 4D printing
69.
next generation sequencing
70.
Next-generation probiotics
71.
next-generation sequencing
72.
offline test generation
73.
oil-shale power generation
74.
photovoltaic (PV) generation
75.
photovoltaic generation dispatch
76.
power generation
77.
power generation dispatch
78.
power generation economics
79.
power generation planning
80.
provably correct test generation
81.
PV generation
82.
PV power generation
83.
Renewable energy generation
84.
renewable generation
85.
residual generation
86.
Second generation bioethanol
87.
second generation of tribology models
88.
second generation sequencing
89.
signal generation
90.
silver generation
91.
solar power generation
92.
space generation advisory council
93.
template based sql generation
94.
test generation
95.
test generation and fault diagnosis
96.
test program generation
97.
trajectory generation
98.
waste generation
99.
wave generation
100.
white light generation
101.
wind energy generation
102.
wind generation
103.
wind power generation
104.
16S rRNA gene amplicon next-generation sequencing
105.
4GDH (4th generation district heating)
106.
4th generation district heating
107.
5th generation district heating
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT