Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
pattern Generation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/114)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Post-silicon validation of IEEE 1687 reconfigurable scan networks
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Squillero, Giovanni
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791546
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Simulation-based equivalence checking between IEEE 1687 ICL and RTL
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Portolan, Michele
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
2019
/
paper. 7.3, 8 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ITC44170.2019.9000181
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
114
1.
automated test pattern generation
2.
automatic test pattern generation
3.
pattern Generation
4.
architecture pattern
5.
circulation pattern
6.
demand time pattern
7.
FP Growth (Frequent-Pattern Growth) algorithm
8.
Image Processing and Pattern Recognition
9.
interaction design pattern
10.
load pattern
11.
nocturnal nondipping pattern
12.
pattern
13.
pattern classification
14.
pattern enumeration
15.
pattern formation
16.
pattern language
17.
pattern matching
18.
pattern mining for event logs
19.
pattern mining from event logs
20.
pattern mining from log files
21.
pattern recognition
22.
pattern search
23.
radio frequency pattern matching
24.
ripple pattern formation
25.
Single far-field pattern
26.
test-pattern
27.
Activity-based demand generation
28.
adaptive test strategy generation
29.
automated code generation
30.
automatic code generation
31.
Automatic generation control
32.
automatic GUI model generation
33.
automatic test case generation
34.
automatic test program generation
35.
behaviour level test generation
36.
building and urban form generation
37.
business model generation
38.
code generation
39.
data set generation
40.
decentralized key generation
41.
disaster alert generation
42.
distributed electricity generation
43.
distributed generation
44.
Distributed Generation (DG)
45.
distributed generation systems
46.
distributed power generation
47.
distrubuted power generation
48.
droplet generation
49.
droplet generation rate control
50.
electric power generation
51.
electricity generation
52.
energy generation
53.
extreme penetration level of non synchronous generation
54.
feasible path generation
55.
fifth generation computer
56.
fourth generation district heating
57.
frequent item generation
58.
functional test generation
59.
generation
60.
generation and transmission expansion planning
61.
Generation Costs
62.
generation of electric energy
63.
generation succession
64.
heat generation
65.
Hierarchical Multi-level Test Generation
66.
high-level test data generation
67.
highlevel test generation
68.
hydroelectric power generation
69.
hydrogen generation
70.
I–III generation
71.
implementation-independent test generation
72.
job generation
73.
multisine generation
74.
next generation 4D printing
75.
next generation sequencing
76.
Next-generation probiotics
77.
next-generation sequencing
78.
offline test generation
79.
oil-shale power generation
80.
photovoltaic (PV) generation
81.
photovoltaic generation dispatch
82.
power generation
83.
power generation dispatch
84.
power generation economics
85.
power generation planning
86.
provably correct test generation
87.
PV generation
88.
PV power generation
89.
Renewable energy generation
90.
renewable generation
91.
residual generation
92.
Second generation bioethanol
93.
second generation of tribology models
94.
second generation sequencing
95.
signal generation
96.
silver generation
97.
solar power generation
98.
space generation advisory council
99.
template based sql generation
100.
test generation
101.
test generation and fault diagnosis
102.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
103.
test program generation
104.
trajectory generation
105.
waste generation
106.
wave generation
107.
white light generation
108.
wind energy generation
109.
wind generation
110.
wind power generation
111.
16S rRNA gene amplicon next-generation sequencing
112.
4GDH (4th generation district heating)
113.
4th generation district heating
114.
5th generation district heating
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT