Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Berridge testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/84)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Front-face fluorimeter for the determination of cutting time of cheese curd
Lazouskaya, Maryna
;
Stulova, Irina
;
Sõrmus, Aavo
;
Scheler, Ott
;
Tiisma, Kalle
;
Vinter, Toomas
;
Loov, Roman
;
Tamm, Martti
Foods
2021
/
art. 576, 13 p
https://doi.org/10.3390/foods10030576
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
84
1.
Berridge testing
2.
accelerated testing
3.
acoustomechanical testing
4.
anaerobic testing
5.
aspect-oriented testing
6.
assessment and testing
7.
at-speed testing
8.
benchmark testing
9.
burst testing
10.
cancer genomic testing
11.
compliance testing
12.
compositional testing
13.
computer aided testing
14.
cone heater testing
15.
conformance testing
16.
courses on electronic testing and design
17.
cybersecurity testing
18.
D. non-destructive testing
19.
deformation testing
20.
design field testing
21.
destructive testing
22.
eddy current testing
23.
eddy current testing (ECT)
24.
erosion testing
25.
fabric testing
26.
fatigue testing
27.
fire testing
28.
hierarchical testing
29.
hypotheses testing
30.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
31.
integration testing
32.
laboratory scale testing
33.
load testing
34.
macro mechanical testing and green surface tribology
35.
material testing
36.
materials testing
37.
measurement and testing
38.
mechanical testing
39.
memory testing
40.
metamorphic testing
41.
microprocessor testing
42.
model based testing
43.
model-based mutation testing
44.
model-based testing
45.
mutation testing
46.
network-testing
47.
non destructive testing
48.
nondestructive testing
49.
non-destructive testing
50.
on-site testing
51.
pin on disc wear testing
52.
PMU calibration testing
53.
PMU testing
54.
point-of-care testing
55.
processor core testing
56.
processor testing
57.
real-time HiL testing
58.
regression testing
59.
RISC processor testing
60.
robustness testing
61.
safety and security testing
62.
scenario testing
63.
scratch testing
64.
security testing
65.
shear testing
66.
small-scale fire testing
67.
software testing
68.
software-in-the-loop (SIL) testing
69.
stand-alone testing
70.
stress-testing
71.
substation testing methods
72.
system testing
73.
tensile testing
74.
testing
75.
testing methods
76.
testing of digital devices
77.
testing of generator
78.
testing of phasor measurement units
79.
two-dimensional array testing
80.
ultrasonic testing
81.
wafer testing
82.
wear testing
83.
vibration testing
84.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT