Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
VLSI-ahelad (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
41
Vaata veel..
(2/6)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(41)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
26
dissertatsioon
High-level synthesis of control and memory intensive applications : thesis submitted to the Royal Institute of Technology in partial fulfillment of the requirements for the degree of Doctor of Technology
Ellervee, Peeter
2000
dissertatsioon
27
dissertatsioon
Hybrid built-in self-test : methods and tools for analysis and optimization of BIST = Sisseehitatud hübriidne isetestimine : meetodid ja vahendid analüüsiks ning optimeerimiseks
Orasson, Elmet
2007
https://www.ester.ee/record=b2305436*est
dissertatsioon
28
artikkel kogumikus
Multi-level test generation and fault diagnosis for finite state machines
Ubar, Raimund-Johannes
;
Brik, Marina
Dependable computing : proceedings / EDCC-2, Second European Dependable Computing Conference, Taormina, Italy, October 2-4, 1996
1996
/
p. 264-281: ill
artikkel kogumikus
29
artikkel kogumikus
On SSBDD model size & complexity
Jutman, Artur
ECS'03 : proceedings of the 4th Electronic Circuits and Systems Conference : September 11-12, 2003, Bratislava, Slovakia
2003
/
p. 17-22
https://pld.ttu.ee/~artur/papers/SSBDD_Model_Size-ECS03.pdf
artikkel kogumikus
30
dissertatsioon
Optimization of built-in self-test in digital systems = Sisseehitatud enesetestimise optimeerimine digitaalsüsteemides
Kruus, Helena
2011
dissertatsioon
31
artikkel ajakirjas
Probabilistic analysis of CMOS physical defects in VLSI circuits for test coverage improvement
Blyzniuk, M.
;
Kazymyra, I.
;
Kuzmicz, W.
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Microelectronics reliability
2001
/
p. 2023-2040 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271401000920
artikkel ajakirjas
32
artikkel kogumikus
Representing transparency conditions in test generation for VLSI by decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the First Electronic Circuits and Systems Conference : Bratislava, Slovakia, September 4-5, 1997
1997
/
p. 213-216
artikkel kogumikus
33
raamat
Riistvara kirjeldamiskeel - VHDL : metoodiline materjal
Tammemäe, Kalle
2003
http://www.ester.ee/record=b1605950*est
raamat
34
raamat
Riistvara kirjeldamiskeel VHDL : metoodiline materjal
Tammemäe, Kalle
2002
http://www.ester.ee/record=b1605950*est
raamat
35
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Runtime contention and bandwidth-aware adaptive routing selection strategies for networks-on-chip
Samman, Faizal
;
Hollstein, Thomas
;
Glesner, Manfred
IEEE transactions on parallel and distributed systems
2013
/
p. 1411-1421 : ill
https://doi.org/10.1109/TPDS.2012.200
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
36
dissertatsioon
System-level design of timing-sensitive network-on-chip based dependable systems = Kiipvõrkudel põhinevate ajakriitiliste ja töökindlate süsteemide kõrgtaseme disain
Tagel, Mihkel
2012
https://www.ester.ee/record=b2778263*est
dissertatsioon
37
artikkel kogumikus
Test synthesis from register-transfer level descriptions
Raik, Jaan
;
Paomets, Priidu
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
1996
/
p. 311-314: ill
artikkel kogumikus
38
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
The optimization, design and performance of the FBCM23 ASIC for the upgraded CMS beam monitoring system
Kaplon, Jan
;
Wegrzyn, Grzegorz
;
Shibin, Konstantin
;
Barendregt, Marnix
Journal of instrumentation
2024
/
art. C02026, 6 p. : ill
https://doi.org/10.1088/1748-0221/19/02/C02026
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Conference proceedings at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
39
artikkel kogumikus
Turbo tester : a CAD system for teaching digital test
Jervan, Gert
;
Markus, Antti
;
Paomets, Priidu
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Microelectronics education : proceedings of the 2nd European Workshop held in Noordwijkerhout, The Netherlands, 14-15 May 1998
1998
/
p. 287-290: ill
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-94-011-5110-8_66
artikkel kogumikus
40
artikkel kogumikus
VLSI system level codesign toolkit AKKA
Tammemäe, Kalle
;
O'Nils, Mattias
;
Tornemo, Anders
;
Tenhunen, Hannu
NORCHIP Conference '96 : 14th conference, Helsinki, 4-5 November 1996
1996
/
p. 1-7: ill
https://www.researchgate.net/publication/2407722_VLSI_system_level_codesign_toolkit_AKKA
artikkel kogumikus
41
raamat
Проектирование контролепригодных дискретных систем : учебное пособие
Ubar, Raimund-Johannes
1988
https://www.ester.ee/record=b1225400*est
raamat
Kirjeid leitud 41, kuvan
26 - 41
eelmine
1
2
järgmine
märksõna
4
1.
VLSI-ahelad
2.
Markovi ahelad
3.
mittelineaarsed ahelad
4.
ULSI-ahelad
võtmesõna
2
1.
VLSI
2.
VLSI circuits
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT