Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
rikked (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
292
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(292)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
201
artikkel kogumikus
Multiple stuck-at-fault detection theorem
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia
2012
/
p. 236-241 : ill
artikkel kogumikus
202
artikkel ajalehes
Naine, kes muudab maailma: noor teadlane loob süsteemi, mis ennetab elektrimasinate rikkeid [Võrguväljaanne]
Keba, Triinu
delfi.ee
2022
Naine, kes muudab maailma: noor teadlane loob süsteemi, mis ennetab elektrimasinate rikkeid
artikkel ajalehes
203
artikkel kogumikus
Necessity for implementation of inverse problem theory in electric machine fault diagnosis
Vaimann, Toomas
;
Belahcen, Anouar
;
Kallaste, Ants
SDEMPED 2015 : 10th IEEE International Symposium on Diagnostics for Electric Machines, Power Electronics and Drives : Guarda, Portugal, September 1-4, 2015 : proceedings
2015
/
p. 380-385 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DEMPED.2015.7303718
artikkel kogumikus
204
artikkel kogumikus
New categories of Safe Faults in a processor-based Embedded System
Gürsoy, Cemil Cem
;
Jenihhin, Maksim
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Piumatti, Davide
;
Raik, Jaan
;
Sonza Reorda, Matteo
;
Ubar, Raimund-Johannes
2019 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2019
/
4 p. : ill
https://doi.org/10.1109/DDECS.2019.8724642
artikkel kogumikus
205
artikkel kogumikus
New technique for hierarchical identification of untestable faults in sequential circuits
Krivenko, Anna
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Kruus, Margus
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja
2008
/
lk. 155-158 : ill
artikkel kogumikus
206
artikkel kogumikus
NoCDepend : a flexible and scalable dependability technique for 3D networks-on-chip
Hollstein, Thomas
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Kogge, Thilo
;
Ying, Haoyuan
;
Hofmann, Klaus
2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015 : 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia : proceedings
2015
/
p. 75-78 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2015.30
artikkel kogumikus
207
artikkel kogumikus
Non-intrusive defects identification for the high voltage instrument transformers
Asefi, Sajjad
;
Kilter, Jako
;
Landsberg, Mart
2023 IEEE 17th International Conference on Compatibility, Power Electronics and Power Engineering (CPE-POWERENG)
2023
/
5 p
https://doi.org/10.1109/CPE-POWERENG58103.2023.10227493
artikkel kogumikus
208
artikkel ajakirjas
Novel approaches to electrical machine fault diagnosis
Vaimann, Toomas
;
Antonino-Daviu, Jose Alfonso
;
Rassõlkin, Anton
Energies
2023
/
art. 5641
https://doi.org/10.3390/en16155641
artikkel ajakirjas
209
artikkel kogumikus
A novel random approach to diagnostic test generation
Osimiry, Emmanuel Ovie
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
2nd IEEE NORCAS Conference : 1-2 November 2016, Copenhagen, Denmark
2016
/
[4] p. : ill
https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2016.7792915
artikkel kogumikus
210
artikkel kogumikus
Numerical study on the structural behavior of intact and damaged box beams under four-point bending load
Putranto, Teguh
;
Kõrgesaar, Mihkel
Developments in the Collision and Grounding of Ships and Offshore Structures : Proceedings of the 8th International Conference on Collision and Grounding of Ships and Offshore Structures (ICCGS 2019), 21-23 October, 2019, Lisbon, Portugal
2019
/
p. 139−143
https://www.taylorfrancis.com/books/e/9781003002420/chapters/10.1201/9781003002420-17
artikkel kogumikus
211
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Observer-based residual generation for nonlinear discrete-time systems
Kaldmäe, Arvo
;
Kotta, Ülle
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences
2018
/
p. 325-336
http://www.kirj.ee/public/proceedings_pdf/2018/issue_4/proc-2018-4-325-336.pdf
https://doi.org/10.3176/proc.2018.4.01
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
212
artikkel kogumikus
Off-line testing of crosstalk induced glitch faults in NoC Interconnects
Bengtsson, Tomas
;
Kumar, Shashi
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings [of] 24th IEEE Norchip Conference : Linköping, Sweden, 20-21 November 2006
2006
/
p. 221-225 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2006.329215
artikkel kogumikus
213
artikkel kogumikus
On coverage of timing related faults at board level
Jutman, Artur
;
Aleksejev, Igor
;
Devadze, Sergei
2016 21st IEEE European Test Symposium (ETS) : May 23rd-26th 2016, Amsterdam, The Netherlands : proceedings
2016
/
[2] p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2016.7519295
artikkel kogumikus
214
artikkel kogumikus
On NBTI-induced aging analysis in IEEE 1687 reconfigurable scan networks
Damljanovic, Aleksa
;
Squillero, Giovanni
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Jenihhin, Maksim
VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]
2019
/
p. 335-340 : ill
https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920313
artikkel kogumikus
215
artikkel kogumikus
On the estimation of complex circuits functional failure rate by machine learning techniques
Lange, Thomas
;
Balakrishnan, Aneesh
;
Glorieux, Maximilien
;
Alexandrescu, Dan
;
Sterpone, Luca
49th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks - DSN 2019 : Supplemental Volume : proceedings
2019
/
p. 35-41 : ill
https://doi.org/10.1109/DSN-S.2019.00021
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks
216
artikkel kogumikus
On-line fault classification and handling in IEEE1687 based fault management system for complex SoCs
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
LATS 2016 : 17th IEEE Latin-American Test Symposium, Foz do Iguacu, Brazil, 6th-9th April 2016
2016
/
p. 69-74 : ill
https://doi.org/10.1109/LATW.2016.7483342
artikkel kogumikus
217
artikkel kogumikus
Operation of Single-Chip MOSFET and IGBT Devices after failure due to repetitive avalanche [Electronic resource]
Blinov, Andrei
;
Norrga, Staffan
;
Tibola, Gabriel
EPE'15 ECCE Europe : 8-10 September 2015, Geneva, Switzerland : 17th European Conference on Power Electronics and Applications
2015
/
p. 1-9 : ill. [USB]
http://dx.doi.org/10.1109/EPE.2015.7309190
artikkel kogumikus
218
artikkel kogumikus
Overview of e-learning environment for web-based study of testing and diagnostics of digital systems
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Microelectronics education : proceedings of the 5th European Workshop on Microelectronics Education, held in Lausanne, Switzerland, April 15-16, 2004
2004
/
p. 253-258 : ill
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4020-2651-5_41
artikkel kogumikus
219
artikkel kogumikus
Overview of e-learning environment for web-based study of testing and diagnostics of digital systems
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
5th European Workshop on Microelectronics Education - EWME 2004, Lausanne, 2004
2004
/
p. 173-176
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4020-2651-5_41
artikkel kogumikus
220
artikkel kogumikus
Parallel critical path tracing fault simulation in sequential circuits
Kõusaar, Jaak
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of 25th International Conference MIXED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS : MIXDES 2018 : Gdynia, Poland, June 21–23, 2018
2018
/
p. 305-310 : ill
https://doi.org/10.23919/MIXDES.2018.8436880
artikkel kogumikus
221
artikkel kogumikus
Parallel exact critical path tracing fault simulation with reduced memory requirements
Devadze, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
4th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscal Era : DTIS'09 : Cairo, Egypt, April 6-9, 2009
2009
/
p. 155-160 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/4938046
artikkel kogumikus
222
artikkel kogumikus
Parallel fault analysis on structurally synthesized BDDs
Devadze, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
2007
/
lk. 47-50 : ill
artikkel kogumikus
223
artikkel ajakirjas
Parallel fault simulation in digital circuits
Aarna, Margit
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Scientific proceedings of Riga Technical University. 7. serija, Telecommunications and electronics
2001
/
p. 91-94 : ill
artikkel ajakirjas
224
artikkel kogumikus
Parallel fault simulation in digital circuits
Aarna, Margit
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proc. of 42nd International Scientific Conference of Riga Technical University
2001
/
p. 91-94
artikkel kogumikus
225
artikkel kogumikus
Performance evaluation of additive manufacturing based test samples for studies of defects in electrical insulation
Shafiq, Muhammad
;
Taklaja, Paul
;
Kiitam, Ivar
;
Tiismus, Hans
;
Palu, Ivo
;
Kütt, Lauri
2021 International Conference on Electrical, Computer and Energy Technologies (ICECET)
2021
/
6 l
https://doi.org/10.1109/ICECET52533.2021.9698476
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 292, kuvan
201 - 225
eelmine
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
järgmine
märksõna
1
1.
rikked
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT