Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
testimine (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
584
Vaata veel..
(2/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(584)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
151
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Erratum: Cognitive disorders in patients with chronic kidney disease: specificities of clinical assessment (Nephrol Dial Transplant DOI: 10.1093/ndt/gfab262)
Pépin, Marion
;
Ferreira, Ana Carina
;
Arici, Mustafa
;
Bachmann, Maie
;
Barbieri, Michelangela
;
Bumblyte, Inga Arune
;
Carriazo, Sol
;
Delgado, Pilar
;
Garneata, Liliana
;
Giannakou, Konstantinos
Nephrology dialysis transplantation
2022
/
1 p
https://doi.org/10.1093/ndt/gfab339
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
152
artikkel ajakirjas
Ettevõtted saavad tooteid ja teenuseid testida TalTechi asjade interneti ja 5G platvormil
Mente et Manu
2020
/
lk. 11
https://dea.digar.ee/cgi-bin/dea?a=is&oid=AKmenteetmanu202011&type=staticpdf
artikkel ajakirjas
153
raamat
European Test Symposium : ETS 2005 : 22-25 May 2005, Tallinn, Estonia : proceedings
Cantarella, JD
2005
https://www.ester.ee/record=b2300865*est
raamat
154
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Evaluating cybersecurity-related competences through serious games
Mäses, Sten
19th Koli Calling Conference on Computing Education Research Koli Calling 2019 : November 21-24, 2019, Koli, Finland : proceedings
2019
/
2 p
https://doi.org/10.1145/3364510.3366163
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
155
artikkel ajakirjas
Evaluation of some mechanical and physical properties of ‘Oriented Strand Board (OSB/3)’ following cyclic accelerated aging tests
Lille, Harri
;
Kiviste, Mihkel
;
Telling, Renar
;
Leppik, Taimo
;
Virro, Indrek
;
Kask, Regino
European Journal of Wood and Wood Products
2022
/
p. 731–740
https://doi.org/10.1007/s00107-022-01803-9
artikkel ajakirjas
156
artikkel ajakirjas
Evaluation of VRLA battery under overcharging : model for battery testing
Tenno, Ander
;
Tenno, Robert
;
Suntio, Teuvo
Journal of power sources
2002
/
p. 65-82
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0378775302002768
artikkel ajakirjas
157
artikkel kogumikus
Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuits
Skobtsov, Y.A.
;
Ivanov, D.E.
;
Skobtsov, V.Y.
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
2004
/
p. 229-232 : ill
artikkel kogumikus
158
artikkel kogumikus
Exact static compaction of independent test sequences
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2002 : proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference : October 6-9, 2002, Tallinn, Estonia
2002
/
p. 315-318 : ill
artikkel kogumikus
159
artikkel kogumikus
Executable black-box tester model synthesis from a non-deterministic EFSM of the system
Kull, Andres
;
Raiend, Kullo
;
Vain, Jüri
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
2007
/
lk. 105-108
artikkel kogumikus
160
artikkel kogumikus
Experiences of lexicographers and computer scientists in validating Estonian Wordnet with test patterns
Lohk, Ahti
;
Orav, Heili
;
Vare, Kadri
;
Võhandu, Leo
Proceedings of the Eighth Global WordNet Conference : Bucharest, Romania, January 27-30, 2016
2016
/
p. 184-191 : ill
http://gwc2016.racai.ro/
artikkel kogumikus
161
artikkel kogumikus
Experiences with steady-state PMU compliance testing using standard relay testing equipment
Almas, Muhammad Shoaib
;
Kilter, Jako
;
Vanfretti, Luigi
PQ2014 : the 9th International 2014 Electric Power Quality and Supply Reliability Conference (PQ) : June 11-13, 2014, Rakvere, Estonia : proceedings
2014
/
p. 103-110 : ill
artikkel kogumikus
162
artikkel kogumikus
Experimental determination of equivalent circuit parameters for a synchronous generator
Naseer, Muhammad Usman
;
Asad, Bilal
;
Ghahfarokhi, Payam Shams
;
Kallaste, Ants
;
Vaimann, Toomas
;
Rassõlkin, Anton
2021 IEEE Open Conference of Electrical, Electronic and Information Sciences (eStream): proceedings of the conference, April 22, 2021, Vilnius, Lithuania
2021
/
7 p. : ill
https://doi.org/10.1109/eStream53087.2021.9431442
artikkel kogumikus
163
artikkel ajakirjas
Experimental determination of sound transmission in turbo-compressors : SAE Tech. paper no.2009-01-2045
Rämmal, Hans
;
Abom, Mats
SAE Technical Papers
2009
/
[7] p
https://www.diva-portal.org/smash/record.jsf?pid=diva2%3A750030&dswid=-9882
artikkel ajakirjas
164
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Experimental testing of exterior wall mounted mechanical ventilation exhaust air outlet devices
Palmiste, Ülar
;
Meier, Tauno
;
Kurnitski, Jarek
;
Voll, Hendrik
E3S Web Conference: Cold Climate HVAC and Energy 2021
2021
/
art. 02001, 8 p. : ill
https://doi.org/10.1051/e3sconf/202124602001
Conference Proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
165
artikkel kogumikus
Exploiting aspects in model-based testing
Sarna, Külli
;
Vain, Jüri
FOAL'12 : proceedings of the eleventh workshop on Foundations of Aspect-Oriented Languages : March 26, 2012, Potsdam, German
2012
/
p. 45-47 : ill
https://www.researchgate.net/publication/254007794_Exploiting_aspects_in_model-based_testing
artikkel kogumikus
166
artikkel kogumikus
An external diagnosis method for network-on-a-chip
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE/ACM Design Automation and Test in Europe, Workshop on Diagnostic Services in Networks-on-Chips - Test, Debug and On-line Monitoring : April 16-20, 2007, Nice, France
2007
/
[2] p. : ill
artikkel kogumikus
167
artikkel kogumikus
Fast extended test access via JTAG and FPGAs
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
;
Aleksejev, Igor
;
Ubar, Raimund-Johannes
International Test Conference 2009 : November 1 - November 6, 2009, Austin Convention Center, Austin, Texas USA : proceedings
2009
/
p. 1-7 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/TEST.2009.5355668
artikkel kogumikus
168
artikkel kogumikus
Fast fault emulation for synchronous sequential circuits
Raik, Jaan
;
Ellervee, Peeter
;
Tihhomirov, Valentin
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of East–West Design & Test Workshop (EWDTW’04) : Yalta, Alushta, Crimea, Ukraine, September 23-26, 2004
2004
/
p. 35-40
https://citeseerx.ist.psu.edu/document?repid=rep1&type=pdf&doi=a6eb712498a5f23db3f95ad66bada257c21e96f0
artikkel kogumikus
169
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Fast identification of true critical paths in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Jürimägi, Lembit
Microelectronics reliability
2018
/
p. 252-261 : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.11.027
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
170
artikkel kogumikus
Fast static compaction of tests composed of independent sequences : basic properties and comparison of methods
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
The 9th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems : ICECS 2002 : September 15-18, 2002, Dubrovnik, Croatia. Volume II
2002
/
p. 445-448 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ICECS.2002.1046190
https://ieeexplore.ieee.org/document/1046190
artikkel kogumikus
171
artikkel kogumikus
Fast test cost calculation for hybrid BIST in digital systems
Orasson, Elmet
;
Raidma, Rein
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jervan, Gert
;
Peng, Zebo
Euromicro Symposium on Digital Systems Design : [Architectures, Methods and Tools : DSD 2001] : September 4-6, 2001, Warsaw, Poland : proceedings
2001
/
p. 318-325 : ill
https://www.semanticscholar.org/paper/Fast-test-cost-calculation-for-hybrid-BIST-in-Orasson-Raidma/5aafcda5a18c2aabf0ad20cac10af10727f3c58f
artikkel kogumikus
172
artikkel ajakirjas
Fast test pattern generation for sequential circuits using decision diagram representations
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)
2000
/
3, p. 213-226 : ill
https://link.springer.com/article/10.1023/A:1008335130158
artikkel ajakirjas
173
artikkel kogumikus
Fault collapsing with linear complexity in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Mironov, Dmitri
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
Proceedings of 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2010) : 30 May - 2 June 2010, Paris, France
2010
/
p. 653-656 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/5537504
artikkel kogumikus
174
artikkel ajakirjas
Fault effect reasoning in digital systems by topological view on low- and high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика
2014
/
p. 99-113 : ill
http://journals.tsu.ru/informatics/&journal_page=archive&id=923&article_id=12107
artikkel ajakirjas
175
artikkel kogumikus
Fault modeling and test generation with low- and high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
24. GI/GMM/ITG-Workshop : Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen
2012
/
p. 1-12
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 584, kuvan
151 - 175
eelmine
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
järgmine
märksõna
1
1.
testimine
võtmesõna
1
1.
testimine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT