Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
testimine (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
490
Vaata veel..
(2/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(490)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
176
artikkel ajakirjas
High quality test generation for digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Aarna, Margit
;
Kruus, Helena
;
Raik, Jaan
Romanian journal of information science and technology
2005
/
1, p. 73-84 : ill
artikkel ajakirjas
177
artikkel kogumikus
High-level combined deterministic and pseudo-exhuastive test generation for RISC processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791526
artikkel kogumikus
178
artikkel kogumikus
High-level decision diagrams based coverage metrics for verification and test
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tšepurov, Anton
;
Reinsalu, Uljana
;
Ubar, Raimund-Johannes
LATW 2009 : 10th IEEE Latin American Test Workshop : Buzios, Rio de Janero, Brazil, March 2-5, 2009
2009
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2009.4813792
artikkel kogumikus
179
artikkel kogumikus
High-level fault diagnosis in RISC processors with Implementation-Independent Functional Test
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) : Nicosia, Cyprus : 04-06 July 2022
2022
/
p. 32-37
https://doi.org/10.1109/ISVLSI54635.2022.00019
artikkel kogumikus
180
artikkel kogumikus
High-level functional test generation for microprocessor modules
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of 26th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2019 : Rzeszów, Poland, June 27 - 29, 2019
2019
/
p. 356-361 : ill
https://doi.org/10.23919/MIXDES.2019.8787131
artikkel kogumikus
181
artikkel ajakirjas
High-Level Implementation-Independent Functional Software-Based Self-Test for RISC Processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Journal of electronic testing : theory and applications
2020
/
p. 87-103
https://doi.org/10.1007/s10836-020-05856-7
artikkel ajakirjas
182
artikkel kogumikus
High-level modeling and testing of multiple control faults in digital systems
Jasnetski, Artjom
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Tšertov, Anton
;
Schölzel, Mario
;
Ubar, Raimund-Johannes
Formal proceedings of the 2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 20-22, 2016, Košice, Slovakia
2016
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2016.7482445
artikkel kogumikus
183
artikkel kogumikus
High-level test data generation for software based self-test in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Jasnetski, Artjom
;
Tšertov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
2017 6th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO) : including ECYPS'2017 : proceedings : research monograph : Bar, Montenegro, June 11th-15th, 2017
2017
/
p. 86-91 : ill
https://doi.org/10.1109/MECO.2017.7977167
artikkel kogumikus
184
artikkel kogumikus
High-level test generation for processing elements in many-core systems
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Raik, Jaan
12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC2017), July 12-14, 2017, Madrid, Spain : proceedings
2017
/
8 p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
artikkel kogumikus
185
artikkel kogumikus
High-level test synthesis with hierarchical test generation
Jervan, Gert
;
Eles, Petru
;
Peng, Zebo
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
17th NORCHIP Conference : Oslo, Norway, 8-9 November 1999 : proceedings
1999
/
p. 291-296
artikkel kogumikus
186
artikkel ajakirjas
Hiired laboris : [arvutihiirte testist TTÜ mehaanikateaduskonna laboris]
Urbas, Ando
;
Einama, Kaido
Arvutimaailm
2010
/
11, lk. 40-45 : ill
artikkel ajakirjas
187
artikkel kogumikus
How to generate high quality tests for digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Aarna, Margit
;
Kruus, Helena
;
Raik, Jaan
2004 International Semiconductor Conference : 27th edition, October 4-6, 2004, Sinaia, Romania : CAS 2004 proceedings. Volume 2
2004
/
p. 459-462 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/SMICND.2004.1403048
artikkel kogumikus
188
artikkel ajakirjas
Hädavalgustuse automaattestimise näide
Tamm, Tiiu
Elektriala
2015
/
lk. 22-23 : ill
artikkel ajakirjas
189
artikkel ajakirjas
Hybrid BIST methodology for testing core-based systems
Jervan, Gert
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Peng, Zebo
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering
2006
/
3-2, p. 300-322 : ill
artikkel ajakirjas
190
artikkel kogumikus
Hybrid BIST optimization using reseeding and test set compaction
Jervan, Gert
;
Orasson, Elmet
;
Kruus, Helena
;
Ubar, Raimund-Johannes
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, DSD 2007 : 29-31 August 2007, Lübeck, Germany : proceedings
2007
/
p. 596-603 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2007.4341529
artikkel kogumikus
191
artikkel kogumikus
Hybrid BIST scheduling for NoC-based SoCs
Jervan, Gert
;
Shchenova, Tatjana
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings [of] 24th IEEE Norchip Conference : Linköping, Sweden, 20-21 November 2006
2006
/
p. 141-144 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/4126966
artikkel kogumikus
192
dissertatsioon
Hybrid built-in self-test : methods and tools for analysis and optimization of BIST = Sisseehitatud hübriidne isetestimine : meetodid ja vahendid analüüsiks ning optimeerimiseks
Orasson, Elmet
2007
https://www.ester.ee/record=b2305436*est
dissertatsioon
193
raamat
Hybrid built-in self-test and test generation techniques for digital systems
Jervan, Gert
2005
https://www.ester.ee/record=b2177537*est
raamat
194
artikkel kogumikus
Hybrid functional BIST for digital systems
Mazurova, Natalja
;
Smahtina, Julia
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
2004
/
p. 205-208 : ill
artikkel kogumikus
195
artikkel kogumikus
Hydraulic conductivity testing method for all-in aggregates and mining waste materials
Šommet, Julija
;
Pastarus, Jüri-Rivaldo
;
Sabanov, Sergei
10th International Symposium "Topical Problems in the Field of Electrical and Power Engineering”. Doctoral School of Energy and Geotechnology II : Pärnu, Estonia, January 10-15, 2011
2011
/
p. 122-126 : ill
artikkel kogumikus
196
artikkel ajakirjas
Hygrothermal calculations and laboratory tests on timber-framed wall structures
Kalamees, Targo
;
Vinha, Juha
Building and environment
2003
/
5, p. 689-697 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S036013230200207X
artikkel ajakirjas
197
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
IEEE European Test Symposium (ETS)
Eggersgluss, Stephan
;
Hamdioui, Said
;
Jutman, Artur
;
Michael, Maria K.
;
Raik, Jaan
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
2019
/
4 p
https://doi.org/10.1109/ITC44170.2019.9000148
Conference proceeding at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
198
artikkel kogumikus
Implementation-independent functional test for transition delay faults in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
2020 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 26-28 August 2020, Kranj, Slovenia
2020
/
p. 646-650
https://doi.org/10.1109/DSD51259.2020.00105
artikkel kogumikus
199
artikkel kogumikus
Implementation-independent functional test generation for RISC microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]
2019
/
p. 82-87 : ill
https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920323
artikkel kogumikus
200
artikkel kogumikus
Improving embedded software testing
Savimaa, Raul
SCI 2004 : the 8th World Multi-Conference on Systemics, Cybernetics and Informatics : July 18-21, 2004, Orlando, Florida, USA. Volume 1, Information Systems, Technologies and Applications : proceedings
2004
/
p. 270-274
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 490, kuvan
176 - 200
eelmine
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
järgmine
märksõna
1
1.
testimine
võtmesõna
1
1.
testimine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT