Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
defektid (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
171
Vaata veel..
(1/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(171)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
51
artikkel kogumikus
Implementation of focused guided waves to locate axial defects in pipes
Fletcher, Sam
;
Lowe, Michael John Stewart
;
Ratassepp, Madis
;
Brett, C.
Review of progress in quantitative nondestructive evaluation. Volume 29
2010
/
p. 223-230
https://doi.org/10.1063/1.3362398
artikkel kogumikus
52
artikkel kogumikus
Influence of point defects on optoelectronic properties of II-IV semiconductors
Kukk, Peeter-Enn
;
Krustok, Jüri
;
Altosaar, Mare
;
Aarna, Heiti
Abstract booklet of the First International Conference on Mathematical Science of chalcogenide and Diamond-structure Semiconductors, Chernovtsi, 1994. Vol. 1
1994
/
p. 129
artikkel kogumikus
53
artikkel ajakirjas
Interaction between point defects, extended defects and impurities in the Si-SiO2 system during the process of its formation
Kropman, Daniel
;
Kärner, T.
;
Abru, Uno
;
Ugaste, Ülo
;
Mellikov, Enn
Thin solid films
2004
/
1/2, p. 53-57 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0921510704003459
artikkel ajakirjas
54
artikkel ajakirjas
Interaction between point defects, extended defects and impurities in the Si-SiO2 system during the process of its formation
Kropman, Daniel
;
Kärner, T.
;
Abru, Uno
;
Ugaste, Ülo
;
Mellikov, Enn
;
Kauk, Marit
Materials science and engineering : B
2004
/
p. 295-298 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0921510704003459
artikkel ajakirjas
55
artikkel kogumikus
Investigating defects in digital circuits by Boolean differential equations
Kruus, Helena
;
Orasson, Elmet
;
Robal, Tarmo
;
Ubar, Raimund-Johannes
The 4th International Conference "Distance Learning - Educational Sphere of XXI Century" (DLESC'04)
2004
/
p. 432-435
artikkel kogumikus
56
artikkel ajakirjas
Investigation of excess Zn in ZnO
Lott, Kalju
;
Volobujeva, Olga
;
Raukas, Maie
;
Türn, Leo
;
Grebennik, A.
;
Vishnjakov, A.
Physica status solidi (c)
2003
/
2, Proceedings 10th International Conference on Shallow Level Centers in Semiconductors (SLCS-10) : Warsaw, Poland, 24-27 July 2002, p. 622-625 : ill
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/pssc.200306186
artikkel ajakirjas
57
artikkel kogumikus
Investigation of nickel and copper microfoils defect formation under the stress
Leinberg, Silver
;
Lõhmus, Rünno
;
Hussainova, Irina
;
Nisumaa, Reet
15th International Baltic Conference "Engineering Materials & Tribology. Baltmattrib - 2006" : October 5-6, 2006, Tallinn, Estonia : abstracts
2006
/
p. 42-43 : ill
artikkel kogumikus
58
raamat
Investigation of P-i-n GaAs structures by DLTS method : the deep level transient spectroscopy in application to GaAs p-i-n structures for identification of deep levels
Toompuu, Jana
2010
https://www.amazon.com/Investigation-p-i-n-GaAs-structures-method/dp/383839223X
raamat
59
artikkel ajakirjas
Investigation of potential and compositional fluctuations in CuGa3Se5 crystals using photoluminescence spectroscopy
Grossberg, Maarja
;
Krustok, Jüri
;
Jagomägi, Andri
;
Leon, M.
;
Arushanov, E.
;
Nateprov, A.
;
Bodnar, I.
Thin solid films
2007
/
15, p. 6204-6207 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609006016221
artikkel ajakirjas
60
artikkel ajakirjas
Investigation of the reconstruction accuracy of guided wave tomography using full waveform inversion
Rao, Jing
;
Ratassepp, Madis
;
Fan, Zheng
Journal of sound and vibration
2017
/
p. 317-328 : ill
https://doi.org/10.1016/j.jsv.2017.04.017
artikkel ajakirjas
61
raamat
Keevitus ja külgnevad protsessid. Metallide keevisliidete geomeetriliste defektide liigitus
Üksti, Lembit
;
Laansoo, Andres
;
Laurfeld, Toomas
2004
https://www.ester.ee/record=b1860516*est
raamat
62
raamat
Keevitus ja külgnevad protsessid. Metallide keevisliidete geomeetriliste defektide liigitus
Laansoo, Andres
2010
https://www.ester.ee/record=b2594992*est
raamat
63
raamat
Keevitus [Võrguteavik] : terase, nikli, titaani ja nende sulamite sulakeevitusliited (välja arvatud kiirguskeevituse meetodid) ; Kvaliteeditasemed keevitusdefektide järgi = Welding : fusion-welding joints in steel, nickel, titanium and their alloys (beam welding excluded) ; Quality levels for imperfections (ISO 5817:2003)
2015
http://www.ester.ee/record=b4502650*est
raamat
64
raamat
Keevitus. Terase, nikli, titaani ja nende sulamite sulakeevitusliited (välja arvatud kiirguskeevituse meetodid). Kvaliteeditasemed keevitusdefektide järgi = Welding. Fusion-welded joints in steel, nickel, titanium and their alloys (beam welding excluded). Quality levels for imperfections (ISO 5817:2003)
2011
https://www.ester.ee/record=b2652603*est
raamat
65
artikkel ajakirjas
Leakage currents in 4H-SiC JBS diodes
Ivanov, Pavel
;
Korolkov, Oleg
;
Sleptšuk, Natalja
Semiconductors
2012
/
p. 397-400 : ill
https://link.springer.com/article/10.1134/S106378261203013X
artikkel ajakirjas
66
artikkel ajakirjas
Low-K factor of SiO2 layer on Si irradiated by YAG:Nd laser
Medvid, A.
;
Onufrijevs, Pavels
;
Mellikov, Enn
;
Kropman, Daniel
;
Muktepavela, F.
;
Bakradze, G.
Journal of non-crystalline solids
2007
/
p. 703-707 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022309306014116
artikkel ajakirjas
67
artikkel kogumikus
Macro level defect-oriented diagnosability of digital circuits
Kostin, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
BEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia
2010
/
p. 149-152 : ill
artikkel kogumikus
68
artikkel kogumikus
Mapping physical defects to logic level for defect oriented testing
Ubar, Raimund-Johannes
SCS 2003 : International Symposium on Signals, Circuits and Systems : July 10-11, 2003, Iasi, Romania : proceedings. Vol. 2
2003
/
p. 453-456 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/5731320
artikkel kogumikus
69
artikkel ajakirjas
A method for the calculation of defect equilibrium
Lott, Kalju
;
Türn, Leo
Journal of crystal growth
1999
/
p. 493-496: ill
artikkel ajakirjas
70
artikkel ajakirjas
A method for the calculation of defect equilibrium in ZnS:Cu:Al:Bi:Cl
Lott, Kalju
;
Türn, Leo
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Chemistry
1996
/
p. 130-133
https://www.ester.ee/record=b1072099*est
artikkel ajakirjas
71
artikkel ajakirjas
Modeling of self-localized vibrations and defect formation in solids
Hižnjakov, Vladimir
;
Haas, Mati
;
Pishtshev, Aleksandr
;
Šelkan, Aleksander
;
Klopov, Mihhail
Nuclear instruments and methods in physics research section B-beam interactions with materials and ato
2013
/
p. 91-94 : ill
artikkel ajakirjas
72
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Modeling the effect of anisotropy in ultrasonic-guided wave tomography
Ratassepp, Madis
;
Rao, Jing
;
Yu, Xudong
;
Fan, Zheng
IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control
2022
/
p. 330-339 : ill
https://doi.org/10.1109/TUFFC.2021.3114432
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
73
dissertatsioon
Modelling construction process impact factors on degradation of thin rendered facades = Ehitusprotsessi mõjufaktorite modelleerimine õhekrohv fassaadide lagunemisel = Methode zur Bewertung der Relevanz von beeinflussenden Faktoren im Bauprozess auf die Mängelfreiheit von Wärmedämmverbundsystemen
Sulakatko, Virgo
2019
https://digi.lib.ttu.ee/i/?11575
dissertatsioon
74
artikkel ajakirjas
Module level defect simulation in digital circuits
Kuzmicz, Wieslaw
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering
2001
/
4, p. 253-268
artikkel ajakirjas
75
artikkel kogumikus
New maize mutants defective in anther development
Timofejeva, Ljudmilla
;
Lee, Sidae
;
Harper, Lisa
;
Golubovskaja, Inna
;
Wang, Rachel
;
Vasudevan, Srividya
;
Walbot, Virginia
;
Cande, Zac
51st Maize Genetics Conference : March 12-15, 2009, St.Charles, Illinois, USA
2009
/
p. 93
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 171, kuvan
51 - 75
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
järgmine
märksõna
2
1.
defektid
2.
kristallivõre defektid
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT