Otsing - TalTech teadusportaal

Defect-oriented fault simulation and test generation in digital circuits (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Defect-oriented fault simulation and test generation in digital circuitsKuzmicz, W.; Pleskacz, Witold A.; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesIEEE ISQED 2001 : proceedings of the IEEE 2001 2nd International Symposium on Quality Electronic Design : March 26-28, 2001, San Jose, California2001 / p. 365-371 https://ieeexplore.ieee.org/document/915257

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1