Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
IEEE (kirjastus/väljaandja)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2201
Vaata veel..
(3/11)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1000*)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1701
artikkel kogumikus
Rejuvenation of nanoscale logic at NBTI-critical paths using evolutionary TPG
Palermo, N.
;
Tihhomirov, Valentin
;
Copetti, Thiago
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Kostin, Sergei
2015 16th Latin American Test Symposium (LATS 2015) : Puerto Vallarta, Mexico, 25-27 March 2015
2015
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2015.7102405
artikkel kogumikus
1702
artikkel kogumikus
Relation learning with bar charts
Lints, Taivo
IA'09 : IEEE Symposium on Intelligent Agents : Nashville, Tennessee, US, March 30-April 2, 2009
2009
/
p. 77-83
https://ieeexplore.ieee.org/document/4927503
artikkel kogumikus
1703
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Relations between modules associated to input-output nonlinear equations with delays and their realizations
Bartosiewicz, Zbigniew
;
Kaldmäe, Arvo
;
Kotta, Ülle
;
Wyrwas, Malgorzata
62nd IEEE Conference on Decision and Control, CDC 2023, Singapore, 13-15 December 2023
2023
/
p. 644-650
https://doi.org/10.1109/CDC49753.2023.10383927
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
1704
artikkel kogumikus
Reliability analysis and energy yield of string-inverter considering monofacial and bifacial photovoltaic panels
Bouguerra, Sara
;
Yaiche, Mohamed Redha
;
Sangwongwanich, Ariya
;
Blaabjerg, Frede
;
Liivik, Elizaveta
2020 IEEE 11th International Symposium on Power Electronics for Distributed Generation Systems (PEDG), 28 Sept.-1 Oct. 2020, Dubrovnik, Croatia
2020
/
p. 199-204
https://doi.org/10.1109/PEDG48541.2020.9244425
artikkel kogumikus
1705
artikkel kogumikus
Reliability analysis of micro-inverters considering PV module variations and degradation rates
Liivik, Elizaveta
;
Sangwongwanich, Ariya
;
Blaabjerg, Frede
2018 20th European Conference on Power Electronics and Applications (EPE'18 ECCE Europe) : Riga, Latvia, 17-21 September 2018
2018
/
p. 1475-1482 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/8515325
artikkel kogumikus
1706
artikkel kogumikus
Reliability assessment of photovoltaic Buck-Boost microconverter for Estonian climate conditions
Bakeer, Abualkasim Ahmed Ali
;
Chub, Andrii
;
Vinnikov, Dmitri
2023 IEEE 17th International Conference on Compatibility, Power Electronics and Power Engineering (CPE-POWERENG)
2023
/
6 p
https://doi.org/10.1109/CPE-POWERENG58103.2023.10227505
artikkel kogumikus
1707
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Reliability evaluation of an impedance-source PV microconverter
Shen, Yanfeng
;
Liivik, Elizaveta
;
Blaabjerg, Frede
;
Vinnikov, Dmitri
;
Wang, Huai
;
Chub, Andrii
2018 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC 2018), San Antonio, Texas, USA, 4-8 March 2018
2018
/
p. 1104–1108 : ill
https://doi.org/10.1109/APEC.2018.8341154
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
1708
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Reliability evaluation of isolated buck-boost DC-DC series resonant converter
Bakeer, Abualkasim Ahmed Ali
;
Chub, Andrii
;
Shen, Yanfeng
IEEE open journal of power electronics
2022
/
p. 131-141
https://doi.org/10.1109/OJPEL.2022.3157200
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Seotud publikatsioonid
1
Fault-tolerant galvanically isolated DC‑DC converters with zero redundancy = Null-liiasusega veatolerantsed galvaanilise isolatsiooniga alalispingemuundurid
1709
artikkel kogumikus
Reliability improvements for multiprocessor systems by health-aware task scheduling
Schmidt, Robert
;
Massoud, Rehab
;
Raik, Jaan
;
Garcia-Ortiz, Alberto
;
Drechsler, Rolf
2018 IEEE 24th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2018) : 2 - 4 July 2018, Spain
2018
/
p. 247-250 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/IOLTS.2018.8474101
artikkel kogumikus
1710
artikkel kogumikus
Reliability of DC-link capacitors in two-stage micro-inverters under different PV module sizes
Sangwongwanich, Ariya
;
Shen, Yanfeng
;
Chub, Andrii
;
Liivik, Elizaveta
;
Vinnikov, Dmitri
;
Wang, Huai
;
Blaabjerg, Frede
ICPE 2019 - ECCE Asia : 10th International Conference on Power Electronics - ECCE Asia : "Green World with Power Electronics" : May 27-30, 2019 BEXCO, Busan, Korea
2019
/
p. 1867-1872 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/8786807/proceeding
artikkel kogumikus
1711
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Reliability of electroencephalogram-based individual markers - case study
Uudeberg, Tuuli
;
Päeske, Laura
;
Hinrikus, Hiie
;
Lass, Jaanus
;
Bachmann, Maie
2020 42nd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC)
2020
/
p. 276 - 279
https://doi.org/10.1109/EMBC44109.2020.9175274
Conference Proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
1712
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Reliability study of input side capacitors in impedance-source PV microconverters
Liivik, Elizaveta
;
Vinnikov, Dmitri
;
Chub, Andrii
;
Shen, Yanfeng
IECON 2019 - 45th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society : proceedings
2019
/
p. 5026–5032 : ill
https://doi.org/10.1109/IECON.2019.8927173
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
1713
artikkel ajakirjas
Reliability-critical computation offloading in UAV swarms
Rahbari, Dadmehr
;
Ahmed, Foisal
;
Jenihhin, Maksim
;
Alam, Muhammad Mahtab
;
Le Moullec, Yannick
IEEE Systems Journal
2024
/
12 p
https://doi.org/10.1109/JSYST.2024.3432449
artikkel ajakirjas
1714
artikkel kogumikus
Reliable health monitoring and fault management infrastructure based on embedded instrumentation and IEEE 1687
Jutman, Artur
;
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
IEEE AUTOTESTCON 2016 : Anaheim, California, USA, September 12-15, 2016 : proceedings
2016
/
p. 240-249 : ill
https://doi.org/10.1109/AUTEST.2016.7589605
artikkel kogumikus
1715
artikkel kogumikus
Replication-based deterministic testing of 2-dimensional arrays with highly interrelated cells
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
21st IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : DDECS 2018 : Budapest, Hungary 25-27 April, 2018 : proceedings
2018
/
p. 21-26 : ill
https://doi.org/10.1109/DDECS.2018.00011
artikkel kogumikus
1716
artikkel kogumikus
Representing gate-level SET faults by multiple SEU faults on RT-level
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Sauer, Christian
2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020 : proceedings
2020
/
art. 19889351, 6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159715
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
1717
artikkel kogumikus
Requirements to data acquisition and signal analysis for electrical grid condition monitoring
Anijärv, Toomas Erik
;
Shabbir, Noman
;
Kütt, Lauri
;
Iqbal, Muhammad Naveed
2020 IEEE 61st International Scientific Conference on Power and Electrical Engineering of Riga Technical University (RTUCON), Riga, Latvia, Nov. 5-7, 2020 : conference proceedings
2020
https://doi.org/10.1109/RTUCON51174.2020.9316487
artikkel kogumikus
1718
artikkel kogumikus
RESCUE : cross-sectoral PhD training concept for interdependent reliability, security and quality
Vierhaus, Heinrich Theodor
;
Jenihhin, Maksim
;
Sonza Reorda, Matteo
2018 12th European Workshop on Microelectronics Education (EWME) : September 24–26, 2018
2018
/
p. 45-50 : ill
https://doi.org/10.1109/EWME.2018.8629465
artikkel kogumikus
1719
artikkel kogumikus
Research and training environment for digital design and test
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
34th ASEE/IEEE Frontiers in Education Conference : October 20-23, 2004, Savannah, GA
2004
/
p. S3F-18-S3F-23 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/FIE.2004.1408779
artikkel kogumikus
1720
artikkel kogumikus
Research of voltage stability in 10 kV distribution networks during integrating the 2 MW solar power plant
Keshuov, S.A.
;
Shokolakova, S.
;
Tokhtibakiev, K.K.
;
Šuvalova, Jelena
2nd International Conference on Smart Grid and Smart Cities : (ICSGSC 2018), August 12-14, 2018, Kuala Lumpur, Malaysia
2018
/
p. 91-94 : ill
https://doi.org/10.1109/ICSGSC.2018.8541303
artikkel kogumikus
1721
artikkel kogumikus
Reseeding using compaction of pre-generated LFSR sub-sequences
Jutman, Artur
;
Aleksejev, Igor
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
ICECS 2008 : The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems : Malta
2008
/
p. 1290-1295 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ICECS.2008.4675096
artikkel kogumikus
1722
artikkel kogumikus
Residental load harmonics in distribution grid
Niitsoo, Jaan
;
Palu, Ivo
;
Kilter, Jako
;
Taklaja, Paul
;
Vaimann, Toomas
The 3rd International Conference on Electric Power and Energy Conversion Systems (EPECS 2013) : [proceedings]
2013
/
p. 1-6 : ill
artikkel kogumikus
1723
artikkel kogumikus
Residential DC load forecasting using long short-term memory network (LSTM)
Shabbir, Noman
;
Ahmadiahangar, Roya
;
Rosin, Argo
;
Husev, Oleksandr
;
Jalakas, Tanel
;
Martins, Joao
2023 IEEE 11th International Conference on Smart Energy Grid Engineering (SEGE)
2023
/
p. 131-136
https://doi.org/10.1109/SEGE59172.2023.10274596
artikkel kogumikus
1724
artikkel kogumikus
Residential load forecasting for flexibility prediction using machine learning-based regression model
Ahmadiahangar, Roya
;
Häring, Tobias
;
Rosin, Argo
;
Korõtko, Tarmo
;
Martins, Joao
2019 IEEE International Conference on Environment and Electrical Engineering and 2019 IEEE Industrial and Commercial Power Systems Europe (EEEIC / I&CPS Europe)
2019
/
4 p. : ill
https://doi.org/10.1109/EEEIC.2019.8783634
artikkel kogumikus
1725
artikkel kogumikus
Residential load forecasting using recurrent neural networks
Shabbir, Noman
;
Ahmadiahangar, Roya
;
Raja, Hadi Ashraf
;
Kütt, Lauri
;
Rosin, Argo
2020 IEEE 14th International Conference on Compatibility, Power Electronics and Power Engineering (CPE-POWERENG) : proceedings
2020
/
p. 478-481 : ill
https://doi.org/10.1109/CPE-POWERENG48600.2020.9161565
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2201, kuvan
1701 - 1725
eelmine
65
66
67
68
69
70
71
72
73
74
järgmine
võtmesõna
9
1.
IEEE 1149.1
2.
IEEE 1687
3.
IEEE 802.15.6
4.
IEEE 802156
5.
IEEE 9 bus test system
6.
IEEE C37.118.1
7.
IEEE P1687
8.
IEEE Std. 1687
9.
24th IEEE International Conference on Industrial Technology 2023
TTÜ märksõna
1
1.
IEEE
märksõna
1
1.
IEEE
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT