Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
testimine (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
582
Vaata veel..
(2/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(582)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
376
artikkel kogumikus
Requirements-driven model-based testing of the IP Multimedia Subsystem
Ernits, Juhan-Peep
;
Kääramees, Marko
;
Raiend, Kullo
;
Kull, Andres
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
2008
/
p. 203-206
artikkel kogumikus
377
artikkel kogumikus
RESCUE: interdependent challenges of reliability, security and quality in nanoelectronic systems
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 9-13 March 2020, Grenoble, France : proceedings
2020
/
art. 19690741 , 6 p
https://doi.org/10.23919/DATE48585.2020.9116558
artikkel kogumikus
378
artikkel kogumikus
Research and training environment for digital design and test
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
34th ASEE/IEEE Frontiers in Education Conference : October 20-23, 2004, Savannah, GA
2004
/
p. S3F-18-S3F-23 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/FIE.2004.1408779
artikkel kogumikus
379
artikkel ajakirjas
Research in digital design and test at Tallinn University of Technology
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jervan, Gert
;
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
;
Ellervee, Peeter
;
Kruus, Margus
Radioelectronics & informatics
2008
/
p. 4-12 : ill
http://www.ewdtest.com/ri/%E2%84%96-1-40-january-march-2008/
artikkel ajakirjas
380
artikkel kogumikus
Reseeding using compaction of pre-generated LFSR sequences
Jutman, Artur
;
Aleksejev, Igor
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
ICECS 2008 : The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems : 31st August to 3rd September 2008, Malta : conference guide
2008
/
p. 215
artikkel kogumikus
381
artikkel kogumikus
Reseeding using compaction of pre-generated LFSR sub-sequences
Jutman, Artur
;
Aleksejev, Igor
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
ICECS 2008 : The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems : Malta
2008
/
p. 1290-1295 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ICECS.2008.4675096
artikkel kogumikus
382
artikkel ajalehes
Robot reducing mining industry's environmental impact tested in Estonia
news.err.ee
2023
Robot reducing mining industry's environmental impact tested in Estonia
artikkel ajalehes
383
artikkel ajakirjas
Role of experimental damage mechanics for the circular economy implementation in cotton industries
Hussein, Abrar
;
Abbas, Muhammad Mujtaba
Journal of Modern Nanotechnology
2021
/
9 p
https://doi.org/10.53964/jmn.2021004
artikkel ajakirjas
384
artikkel kogumikus
RT-level identification of potentially testable initialization faults
Raik, Jaan
;
Fujiwara, Hideo
;
Krivenko, Anna
The Ninth IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT 2008), Sapporo, Japan
2008
/
[6] p
https://www.researchgate.net/publication/234032548_RT-level_identification_of_potentially_testable_initialization_faults
artikkel kogumikus
385
artikkel kogumikus
RT-level test point insertion for sequential circuits
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
;
Ubar, Raimund-Johannes
IWoTA 2004 : IEEE 1st International Workshop on Testability Assessment : November 2, 2004, Rennes, France : proceedings
2004
/
p. 34-40 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1428412
artikkel kogumikus
386
artikkel kogumikus
Run-time reconfigurable instruments for advanced board-level testing
Aleksejev, Igor
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
IEEE AUTOTESTCON 2016 : Anaheim, California, USA, September 12-15, 2016 : proceedings
2016
/
p. 385-392 : ill
https://doi.org/10.1109/AUTEST.2016.7589627
artikkel kogumikus
387
artikkel ajakirjas
Run-time reconfigurable instruments for advanced board-level testing
Aleksejev, Igor
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
IEEE instrumentation & measurement magazine
2017
/
p. 23-30 : ill
https://doi.org/10.1109/MIM.2017.8006390
artikkel ajakirjas
388
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Safeguarding female reproductive health against endocrine disrupting chemicals-The FREIA project
Duursen, Majorie B.M. van
;
Boberg, Julie
;
Christiansen, Sofie
;
Jääger, Kersti
;
Salumets, Andres
;
Velthut-Meikas, Agne
International journal of molecular sciences
2020
/
art. 3215
https://doi.org/10.3390/ijms21093215
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
389
dissertatsioon
Scenario oriented model-based testing = Stsenaariumjuhitud mudelipõhine testimine
Halling, Evelin
2019
https://digi.lib.ttu.ee/i/?11943
dissertatsioon
390
artikkel kogumikus
Scenario-based Validation for Autonomous Vehicles with Different Fidelity Levels
Malayjerdi, Mohsen
;
Kaljavesi, Gemb
;
Diermeyer, Frank
;
Sell, Raivo
2023 IEEE Conference on Intelligent Transportation Systems (ITSC 2023)
2023
/
6 p
https://doi.org/10.1109/ITSC57777.2023.10422403
artikkel kogumikus
391
dissertatsioon
Scenario-based validation of safety and performance of an autonomous vehicle by a software in loop simulation method = Autonoomse sõiduki ohutuse ja jõudluse stsenaariumipõhine valideerimine tsüklisimulatsiooni meetodi abil
Malayjerdi, Mohsen
2023
https://doi.org/10.23658/taltech.43/2023
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/5d3435ba-8ce1-4da6-8d16-4b279e88c861
https://www.ester.ee/record=b5574240*est
dissertatsioon
Seotud publikatsioonid
5
Development of a validation regime for an autonomous campus shuttle
Autonomous vehicle safety evaluation through a high-fidelity simulation approach
Combined safety and cybersecurity testing methodology for autonomous driving algorithms
A Two-layered approach for the validation of an operational autonomous shuttle
Virtual simulations environment development for autonomous vehicles interaction
392
artikkel ajakirjas
Second IEEE East-West Design and Test Workshop
Hahanov, Vladimir
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE journal of design & test of computers
2004
/
p. 594
artikkel ajakirjas
393
dissertatsioon
Selected issues of modeling, verification and testing of digital systems
Jutman, Artur
2004
https://www.ester.ee/record=b1989760*est
dissertatsioon
394
dissertatsioon
Self-diagnosis in digital systems = Isediagnoosivad digitaalsüsteemid
Kostin, Sergei
2012
https://www.ester.ee/record=b2757857*est
dissertatsioon
395
artikkel ajalehes
Self-driving bus to be tested in Mustamäe this summer [online resource]
news.err.ee
2021
"Self-driving bus to be tested in Mustamäe this summer "
artikkel ajalehes
396
artikkel kogumikus
Self-testing of pipe-lined signal processing architectures at-speed
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
2013
/
p. 25-28 : ill
artikkel kogumikus
397
artikkel kogumikus
Sequential circuits BIST with status bit control
Raik, Jaan
;
Orasson, Elmet
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 11th International Conference : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2004 : Szczecin, Poland, 24-26 June 2004
2004
/
p. 507-510 : ill
https://pld.ttu.ee/~raiub/files/aaaaa_pulk/MIXDES/jaan.pdf
artikkel kogumikus
398
artikkel kogumikus
Sequential test set compaction in LFSR reseeding
Jutman, Artur
;
Aleksejev, Igor
;
Raik, Jaan
Design and test technology for dependable systems-on-chip
2011
/
p. 476-493 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/4738292
artikkel kogumikus
399
artikkel kogumikus
Shift register based TPG for at-speed interconnect BIST
Jutman, Artur
MIEL 2004 : 24th International Conference on Microelectronics : Niš, Serbia and Montenegro, 16-19 May 2004 : proceedings. Volume 2
2004
/
p. 751-754 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1314941?signout=success
artikkel kogumikus
400
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Single-stage buck–boost inverters: a state-of-the-art survey
Azizi, Mohammadreza
;
Husev, Oleksandr
;
Vinnikov, Dmitri
Energies
2022
/
art. 1622
https://doi.org/10.3390/en15051622
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 582, kuvan
376 - 400
eelmine
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
järgmine
märksõna
1
1.
testimine
võtmesõna
1
1.
testimine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT