Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
testimine (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
582
Vaata veel..
(2/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(582)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
426
raamat
System assurances : modeling and management
2022
https://doi.org/10.1016/C2020-0-03092-6
raamat
427
dissertatsioon
System modeling for processor-centric test automation = Süsteemide modelleerimine protsessorikesksete testprogrammide sünteesi automatiseerimiseks
Tšertov, Anton
2012
https://www.ester.ee/record=b2751131*est
dissertatsioon
428
dissertatsioon
A system of test patterns to check and validate the semantic hierarchies of wordnet-type dictionaries = Testmustrite süsteem wordnet-tüüpi sõnastike semantiliste hierarhiate kontrollimiseks ja valideerimiseks
Lohk, Ahti
2015
http://www.ester.ee/record=b4495412*est
dissertatsioon
429
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
A systematic approach on modeling refinement and regression testing of real-time distributed systems
Pal, Deepak
;
Vain, Jüri
IFAC-PapersOnLine
2019
/
p. 1091-1096
https://doi.org/10.1016/j.ifacol.2019.11.341
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
430
artikkel kogumikus
zamiaCAD : understand, develop and debug hardware designs
Jenihhin, Maksim
;
Tihhomirov, Valentin
;
Saif Abrar, Syed
;
Raik, Jaan
;
Bartsch, Günter
DUHDe : 1st Workshop on Design Automation for Understanding Hardware Designs : March 28, 2014 : Friday Workshop at DATE 2014, Dresden, Germany
2014
/
p. 1-6
artikkel kogumikus
431
artikkel ajalehes
Tallinna kooli õpilased lõid Baltikumi esimese keskkonnasõbralike filtritega õhupuhasti
Õigus, Birgit
moodnekodu.delfi.ee
2023
Tallinna kooli õpilased lõid Baltikumi esimese keskkonnasõbralike filtritega õhupuhasti
artikkel ajalehes
432
artikkel ajalehes
Tallinnas avati NATO DIANA piirkondlik keskus
Eesti Elu : [Kanada ajaleht]
2024
/
lk. 2
artikkel ajalehes
433
artikkel ajalehes
TalTech käivitab 5G testvõrgud. Eesti firmad saavad arendada teenuseid välisturgudele
Kald, Indrek
ituudised.ee
2023
TalTech käivitab 5G testvõrgud. Eesti firmad saavad arendada teenuseid välisturgudele
artikkel ajalehes
434
artikkel ajalehes
TalTechis hakatakse testima 6G võrku. Margus Rohtla: „Oleks vaid minu õpingute ajal sellised võimalused olnud!“
Lindpere, Elle Isabel
forte.delfi.ee
2023
TalTechis hakatakse testima 6G võrku. Margus Rohtla: „Oleks vaid minu õpingute ajal sellised võimalused olnud!“
artikkel ajalehes
435
artikkel ajakirjas
Tarkvara omaduste parandamine kasutatavuse testimise kaudu
Eessaar, Erki
A & A
1999
/
2, lk. 26-31
artikkel ajakirjas
436
artikkel ajakirjas
Tarkvara testimisest ja testijatest Eestis
Markvardt, Maili
A & A
2010
/
3, lk. 62-65
artikkel ajakirjas
437
artikkel kogumikus
Teaching advanced test issues in digital electronics
Ubar, Raimund-Johannes
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Proceedings of the 6th IEEE International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training : ITHET : July 7-9, 2005, Juan Dolio, Dominican Republic
2005
/
p. S2B-1 - S2B-6 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ITHET.2005.1560318
artikkel kogumikus
438
artikkel kogumikus
Teaching digital system test
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kruus, Margus
The 27th EAEEIE Annual Conference : June 7-9, 2017, Grenoble
2017
/
[6] p
artikkel kogumikus
439
artikkel kogumikus
Teaching digital test with BIST analyzer
Jutman, Artur
;
Tšertov, Anton
;
Tšepurov, Anton
;
Aleksejev, Igor
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
19th EAEEIE Annual Conference : June 29-July 2, 2008, Tallinn, Estonia : formal proceedings
2008
/
p. 123-128 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/EAEEIE.2008.4610171
artikkel kogumikus
440
artikkel ajakirjas
Tehnikaülikoolis on uus katseseade, mis võib välja panna Abramsi tanki kaalu
Ehitaja
2023
/
lk. 35 : fot
https://www.ester.ee/record=b1072123*est
https://artiklid.elnet.ee/record=b2904596*est
artikkel ajakirjas
441
artikkel kogumikus
Temporally extended high-level decision diagrams for PSL assertions simulation
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tšepurov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings : Thirteenth IEEE European Test Symposium : ETS 2008 : 25-29 May 2008, Verbania, Italy
2008
/
p. 61-68 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/4556029
artikkel kogumikus
442
artikkel kogumikus
Tension stiffening model based on test data of RC beams
Idnurm, Siim
;
Bacinskas, Darius
;
Gribniak, Viktor
;
Sokolov, Aleksandr
;
Kaklauskas, Gintaris
The 10th International Conference "Modern Building Materials, Structures and Techniques" : May 19-21, 2010, Lithuania : selected papers
2010
/
p. 810-814 : ill
https://www.researchgate.net/publication/265635200_Tension-stiffening_model_based_on_test_data_of_RC_beams
artikkel kogumikus
443
artikkel ajakirjas
10th IEEE European Test Symposium
Ubar, Raimund-Johannes
;
Prinetto, Paolo
;
Raik, Jaan
IEEE journal of design & test of computers
2005
/
p. 480-481 : phot
http://dx.doi.org/10.1109/MDT.2005.106
artikkel ajakirjas
444
artikkel kogumikus
"Tervis ruudus", ehk, Tippkeskuse CEBE lugu
Ubar, Raimund-Johannes
Teadusmõte Eestis (X). Tehnikateadused. 3 : [artiklikogumik]
2019
/
lk. 200-215 : ill., fot
https://www.ester.ee/record=b5208765*est
artikkel kogumikus
445
artikkel kogumikus
Test cost minimization for hybrid BIST
Jervan, Gert
;
Peng, Zebo
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 25-27 October 2000, Yamanashi, Japan : proceedings
2000
/
p. 283-298 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/887168
artikkel kogumikus
446
artikkel kogumikus
Test development and deployment tool-set for mixed-signal and digital devices
Mellik, Andres
;
Raik, Jaan
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
2008
/
p. 163-166 : ill
artikkel kogumikus
447
artikkel kogumikus
Test driven domain modelling
Piho, Gunnar
;
Tepandi, Jaak
;
Parman, Marko
;
Puusep, Viljam
;
Roost, Mart
MIPRO 2011 : 34th International Convention on Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics : May 23-27, 2011, Opatija, Croatia : proceedings
2011
/
p. 576-581
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=5967121
artikkel kogumikus
448
artikkel kogumikus
Test generation for digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Digest of papers - FTCS 13th Annual International Symposium on Fault-Tolerant Computing, June 28 - 30, 1983, Milano, Italy
1983
/
p. 374-377
artikkel kogumikus
449
artikkel kogumikus
Test generation for digital systems at functional level
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kuchcinski, Ktzysztof
;
Peng, Z.
Research report LiTH-IDA-R-90-06, Linköping University, Sweden
1990
/
p. 1-21
artikkel kogumikus
450
artikkel kogumikus
Test generation for microprocessor control mechanisms
Lohuaru, Tõnu
;
Ubar, Raimund-Johannes
FTSD-10 : Deseta Mezdunarodnaja Konferencija "Nadezdnost i Diagnostika na ECM. Mikrokompjutri i Sistemi", Varna, Bulgaria, 1987 = 10th International Conference on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics (1987)
1987
/
p. 305-311
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 582, kuvan
426 - 450
eelmine
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
järgmine
märksõna
1
1.
testimine
võtmesõna
1
1.
testimine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT