Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
testimine (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
589
Vaata veel..
(2/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(589)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
301
artikkel kogumikus
Model-based testing of robots with NMmodel
Ernits, Juhan-Peep
;
Veanes, Margus
;
Helander, Johannes
TESTCOM/FATES 2008 : Tokyo, Japan, June 12-13, 2008 : short papers
2008
/
p. 40-49
https://www.researchgate.net/publication/228824559_Model-Based_Testing_of_Robots_with_NModel
artikkel kogumikus
302
artikkel ajakirjas
Modeling and simulation of circuits with shared structurally synthesized BDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Raik, Jaan
;
Viies, Vladimir
Microprocessors and microsystems
2017
/
p. 56-61 : ill
http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2016.09.006
artikkel ajakirjas
303
artikkel kogumikus
Modelling and testing of the properties of recovered composite material
Kers, Jaan
;
Goljandin, Dmitri
;
Tall, Kaspar
;
Aruniit, Aare
;
Adoberg, Eron
;
Saarna, Mart
;
Majak, Jüri
Proceedings of the Tenth International Conference on Computational Structures Technology : Valencia, Spain, 14-17 September 2010
2010
/
Paper 81
https://www.researchgate.net/publication/269140253_Modelling_and_Testing_of_the_Properties_of_Recovered_Composite_Material
artikkel kogumikus
304
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Moisture dry-out capability of steel-faced mineral wool insulated sandwich panels
Kalbe, Kristo
;
Piikov, Hubert
;
Kalamees, Targo
Sustainability
2021
/
18 p. : ill
https://doi.org/10.3390/su12219020
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
305
artikkel kogumikus
Motion control system for ship model towing test tank control system using synchronous servo drives
Liyanage, Dhanushka Chamara
;
Hiiemaa, Maido
;
Tamre, Mart
Proceedings of the 11th International Conference of DAAAM Baltic Industrial Engineering : 20-22th April 2016, Tallinn, Estonia
2016
/
p. 151-156 : ill
http://innomet.ttu.ee/daaam/
artikkel kogumikus
306
artikkel ajakirjas
Motor Mode Analysis of Exterior-Rotor PM Machine with Gramme's Winding
Nukki,Rene
;
Kilk, Aleksander
;
Saarts, Samo
;
Tiimus, Kristjan
Elektronika ir elektrotechnika = Electronics and electrical engineering
2017
/
p. 21-25 : ill
http://dx.doi.org/10.5755/j01.eie.23.1.17579
artikkel ajakirjas
307
artikkel kogumikus
Mudelipõhine testimine
Kull, Andres
Tallinna Tehnikaülikooli aastaraamat 2010
2011
/
lk. 115-118
artikkel kogumikus
308
artikkel ajakirjas
Mudelipõhine testimine : kas teoreetikute näpuharjutus või testimise homne päev?
Markvardt, Maili
A & A
2010
/
3, lk. 48-56
https://artiklid.elnet.ee/record=b2183739*est
artikkel ajakirjas
309
artikkel kogumikus
Multi-fragment Markov model guided online test generation for MPSoC
Vain, Jüri
;
Tsiopoulos, Leonidas
;
Kharchenko, Vyacheslav
;
Apneet Kaur
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
ICTERI 2017 : ICT in Education, Research and Industrial Applications. Integration, Harmonization and Knowledge Transfer : proceedings of the 13th International Conference on ICT in Education, Research and Industrial Applications. Integration, Harmonization and Knowledge Transfer, Kyiv, Ukraine, May 15-18, 2017
2017
/
p. 594-607 : ill
http://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-85020540459&partnerID=40&md5=af226e25c344c52689f23bf5c39cc267
http://ceur-ws.org/Vol-1844/10000594.pdf
artikkel kogumikus
310
artikkel kogumikus
Multi-level test generation and fault diagnosis for finite state machines
Ubar, Raimund-Johannes
;
Brik, Marina
Dependable computing : proceedings / EDCC-2, Second European Dependable Computing Conference, Taormina, Italy, October 2-4, 1996
1996
/
p. 264-281: ill
artikkel kogumikus
311
raamat
Multi-level test generation and fault diagnosis in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
1992
raamat
312
artikkel kogumikus
Multi-level test generation for digital systems at system, circuit and defect levels
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 7th International Scientific Conference "Theory and Technique of Information Transmission, Reception and Processing" : Tuapse, October 1-4, 2001
2001
/
p. 286-288
artikkel kogumikus
313
artikkel kogumikus
Multiple control fault testing in digital systems with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
2016 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR) : THETA 20th edition : 19th-21st May, Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2016
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/AQTR.2016.7501287
artikkel kogumikus
314
artikkel kogumikus
Multiple fault analyses in logic circuits
Ubar, Raimund-Johannes
IFAC-Symposium Discrete Systems : Dresden, 14.-19. 3. 77
1977
/
p. [?]
artikkel kogumikus
315
artikkel kogumikus
Multiple stuck-at-fault detection theorem
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia
2012
/
p. 236-241 : ill
artikkel kogumikus
316
artikkel kogumikus
Multiple-objective backtrace for solving test generation constraints
Mekler, A.
;
Raik, Jaan
International Symposium on System-on-Chip : November 19-21, 2003, Tampere, Finland : proceedings
2003
/
p. 123-126 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1267732
artikkel kogumikus
317
artikkel kogumikus
Multiscale memristive properties of skin induced by memory effects of cyclic stress-relaxation loadings : data fusion from ground truth nonlinear acousto-mechanical testing
Dos Santos, Serge
;
Masood, Ali
;
Lints, Martin
;
Salupere, Andrus
;
Kozena, Colette
;
Kus, Vaclav
ICSV 2018: 25th International Congress on Sound and Vibration (ICSV25), Hiroshima, Japan, 8-12 July, 2018 : proceedings. Vol. 1
2018
/
p. 1965-1972 : ill
http://toc.proceedings.com/40638webtoc.pdf
https://www.researchgate.net/publication/326668548_MULTISCALE_MEMRISTIVE_PROPERTIES_OF_SKIN_INDUCED_BY_MEMORY_EFFECTS_OF_CYCLIC_STRESS-RELAXATION_LOADINGS_DATA_FUSION_FROM_GROUND_TRUTH_NONLINEAR_ACOUSTO-MECHANICAL_TESTING
artikkel kogumikus
318
artikkel kogumikus
Multi-view modeling for MPSoC design aspects [Online resource]
Vain, Jüri
;
Apneet Kaur
;
Tsiopoulos, Leonidas
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018
2018
/
4 p.: ill
https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600986
artikkel kogumikus
319
artikkel kogumikus
Mutation analysis for systemC designs at TLM
Guarnieri, Valerio
;
Bombieri, Nicola
;
Pravadelli, Graziano
;
Fummi, Franco
;
Hantson, Hanno
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
12th IEEE Latin American Test Workshop (LATW) : Porto de Galinhas, Brasil, 27-30 March 2011
2011
/
[6] p
https://ieeexplore.ieee.org/document/5985925
artikkel kogumikus
320
artikkel kogumikus
Mutations for testing hardware and correcting design errors
Hantson, Hanno
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viienda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. novembril 2011, Nelijärve
2011
/
p. 105-108 : ill
artikkel kogumikus
321
artikkel ajakirjas
Nanoindentation testing and modeling of chromium carbide based composites
Hussainova, Irina
;
Hamed, Elham
;
Jasiuk, Iwona
Mechanics of composite materials
2011
/
p. 667-678 : ill
artikkel ajakirjas
322
artikkel kogumikus
Nanomaterials Al-Al4-C3 studied by "In-situ Tensile Test in SEM"
Besterci, Michal
;
Velgosova, Oksana
;
Ivan, Jozef
;
Hvizdoš, Pavol
;
Kvackaj, Tibor
;
Kulu, Priit
18th International Baltic Conference : Engineering Materials & Tribology : BALTMATTRIB-2009 : October 22-23, 2009, Tallinn, Estonia : abstracts
2009
/
p. 73
artikkel kogumikus
323
artikkel kogumikus
Narkotestri arendamine narkootikumide tuvastamiseks süljes
Saar-Reismaa, Piret
;
Erme, E.
;
Kulp, Maria
;
Gorbatšova, Jelena
;
Kaljurand, Mihkel
;
Vaher, Merike
;
Mazina-Šinkar, Jekaterina
XXXIV Eesti keemiapäevad : 100. aastapäeva teaduskonverentsi teesid
2019
/
lk. 27
https://www.ester.ee/record=b5208044*est
artikkel kogumikus
324
artikkel ajakirjas
Natural apeaking and how to assess it
Pajupuu, Hille
;
Kerge, Krista
;
Meister, Lya
;
Asu, Eva Liina
;
Alp, Pilvi
Trames
2010
/
2, p. 120-140 : ill
https://www.researchgate.net/publication/238451077_Natural_speaking_and_how_to_assess_it
artikkel ajakirjas
325
artikkel kogumikus
New built-in self-test scheme for SoC interconnect
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
The 9th World Multi-Conference on Systemics, Cybernetics and Informatics : WMSCI 2005 : July 10-13, 2005, Orlando, Florida, USA. Vol. IV
2005
/
p. 19-24 : ill
https://www.researchgate.net/publication/237375234_New_Built-In_Self-Test_Scheme_for_SoC_Interconnect
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 589, kuvan
301 - 325
eelmine
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
järgmine
märksõna
1
1.
testimine
võtmesõna
1
1.
testimine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT