Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
testimine (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
589
Vaata veel..
(2/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(589)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
326
artikkel kogumikus
New fault models and self-test generation for microprocessors using High-Level Decision Diagrams
Jasnetski, Artjom
;
Raik, Jaan
;
Tšertov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015 : 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia : proceedings
2015
/
p. 251-254 : ill
artikkel kogumikus
327
artikkel kogumikus
New foreign language text-books as objects of testing
Rapoport, I.
;
Petrova, N.
V Regional Seminar East-West Meeting of Language Testing, Tallinn, September 2-4, 1991 : summaries
1991
/
p. 77
artikkel kogumikus
328
artikkel kogumikus
New method of testability calculation to guide RT-level test generation
Raik, Jaan
;
Nõmmeots, Tanel
;
Ubar, Raimund-Johannes
4th IEEE Latin-American Test Workshop : LATW2003 : Natal, Brazil, February 16-19, 2003
2003
/
p. 46-51 : ill
https://link.springer.com/article/10.1007/s10836-005-5288-5
artikkel kogumikus
329
artikkel kogumikus
New system of testing pupils' abilities in British schools
Gizatullin, N.
;
Koptelova, N.
V Regional Seminar East-West Meeting of Language Testing, Tallinn, September 2-4, 1991 : summaries
1991
/
p. 36-37
artikkel kogumikus
330
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
A new test suite reduction approach based on hypergraph minimal transversal mining
Trabelsi, Shaima
;
Bennani, Mohamed Taha
;
Ben Yahia, Sadok
Future Data and Security Engineering : 6th International Conference, FDSE 2019, Nha Trang City, Vietnam, November 27–29, 2019, Proceedings
2019
/
p. 15-30
https://doi.org/10.1007/978-3-030-35653-8_2
Conference proceeding at Scopus
Article at Scopus
Conference proceeding at WOS
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
331
artikkel kogumikus
A novel artificial neural networks based automatic adaptive fault detection technique for analog circuits
Petlenkov, Eduard
;
Jutman, Artur
;
Nõmm, Sven
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
2008
/
p. 167-170 : ill
artikkel kogumikus
332
artikkel kogumikus
NP-hard graph problems' algorithms testing guidelines : artificial intelligence principles and testing as a service
Kumlander, Deniss
Advances in computer and information sciences and engineering
2008
/
p. 114-118 : ill
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4020-8739-4_20
artikkel kogumikus
333
artikkel kogumikus
NP-hard graph problems' algorithms testing guidlines : artificial intelligence principles and testing as a service
Kumlander, Deniss
Innovative techniques in instruction technology, e-learning, e-assessment, and education
2008
/
p. 112-116
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4020-8739-4_20
artikkel kogumikus
334
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
A numerical study for plant-independent evaluation of fractional-order PID controller performance
Alagoz, Baris Baykant
;
Tepljakov, Aleksei
;
Yeroglu, Celaleddin
;
Gonzalez, Emmanuel A.
;
Hossein Nia, S. Hassan
;
Petlenkov, Eduard
IFAC-PapersOnLine
2018
/
p. 539-544 : ill
https://doi.org/10.1016/j.ifacol.2018.06.151
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
335
artikkel kogumikus
Off-line testing of crosstalk induced glitch faults in NoC Interconnects
Bengtsson, Tomas
;
Kumar, Shashi
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings [of] 24th IEEE Norchip Conference : Linköping, Sweden, 20-21 November 2006
2006
/
p. 221-225 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2006.329215
artikkel kogumikus
336
artikkel kogumikus
Off-line testing of delay faults in NoC interconnects
Bengtsson, Tomas
;
Jutman, Artur
;
Kumar, Shashi
;
Peng, Zebo
;
Ubar, Raimund-Johannes
9th EUROMICRO Conference on Digital Systems Design : Architectures, Methods and Tools (DSD 2006) : 30 August 2006-1 September 2006, Cavtat near Dubrovnik, Croatia : proceedings
2006
/
p. 677-680 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2006.72
artikkel kogumikus
337
artikkel kogumikus
On automatic software-based self-test program generation based on high-Level decision diagrams
Jasnetski, Artjom
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Tšertov, Anton
LATS 2016 : 17th IEEE Latin-American Test Symposium, Foz do Iguacu, Brazil, 6th-9th April 2016
2016
/
p. 177
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2016.7483357
artikkel kogumikus
338
artikkel kogumikus
On coverage of timing related faults at board level
Jutman, Artur
;
Aleksejev, Igor
;
Devadze, Sergei
2016 21st IEEE European Test Symposium (ETS) : May 23rd-26th 2016, Amsterdam, The Netherlands : proceedings
2016
/
[2] p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2016.7519295
artikkel kogumikus
339
artikkel kogumikus
On efficient logic-level simulation of digital circuits represented by the SSBDD model
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
23rd International Conference on Microelectronics : MIEL 2002, Niš, Yugoslavia, 12-15 May 2002 : proceedings. Volume 2
2002
/
p. 621-624 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1003334
artikkel kogumikus
340
artikkel kogumikus
On mutating UPPAAL timed automata to assess robustness of web services
Siavashi, Faezeh
;
Truscan, Dragos
;
Vain, Jüri
Proceedings of the 11th International Joint Conference on Software Technologies (ICSOFT 2016). Vol. 1, ICSOFT-EA
2016
/
p. 15-26 : ill
http://dx.doi.org/10.5220/0005970800150026
artikkel kogumikus
341
artikkel kogumikus
On reusability of verification assertions for testing
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja
2008
/
p. 43-46 : ill
artikkel kogumikus
342
artikkel kogumikus
On reusability of verification assertions for testing
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Tšepurov, Anton
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
2008
/
p. 151-154 : ill
artikkel kogumikus
343
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
On test generation for microprocessors for extended class of functional faults
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC: New technology enabler : 27th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019 Cusco, Peru, October 6–9, 2019 : Revised and Extended Selected Papers
2020
/
p. 21-44
https://doi.org/10.1007/978-3-030-53273-4
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
344
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
On testing microservice systems
Koschel, Arne
;
Astrova, Irina
;
Bartels, Mirco
;
Helmers, Mark
;
Lyko, Marcel
Proceedings of the Future Technologies Conference (FTC) 2020 ; vol. 3
2021
/
p. 597–609
https://doi.org/10.1007/978-3-030-63092-8_40
Conference Proceedings at Scopus
Article at Scopus
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
345
artikkel kogumikus
On the combined use of HLDDs and EFSMs for functional ATPG
Di Guglielmo, Giuseppe
;
Fummi, Franco
;
Jenihhin, Maksim
;
Pravadelli, Graziano
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
5th IEEE East-West Design & Test Symposium EWDTS 2007 : September 7-10, 2007, Yerevan, Armenia
2007
/
p. 503-508 : ill
artikkel kogumikus
346
artikkel kogumikus
On using genetic algorithm for test generation
Brik, Marina
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ivask, Eero
BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
2004
/
p. 233-236 : ill
artikkel kogumikus
347
dissertatsioon
Optical detection methods for droplet microfluidic applications = Optilised tuvastusmeetodid tilkade mikrofluidiliste rakenduste jaoks
Pärnamets, Kaiser
2023
https://doi.org/10.23658/taltech.31/2023
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/ffb85150-fb85-4a7c-b130-0d7f2c3b7fb5
https://www.ester.ee/record=b5569973*est
dissertatsioon
Seotud publikatsioonid
3
Optical detection methods for high-throughput fluorescent droplet microflow cytometry
Open source hardware cost-effective imaging sensors for high-throughput droplet microfluidic systems
Compact empirical model for droplet generation in a Lab-on-Chip cytometry system
348
artikkel kogumikus
Optimierte Steuerung der Fehlersuche auf digitalen Leiterplatten
Thomä, E.
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 27th International Conference, Technical University of Ilmenau, October, 1982
1982
/
p. 65-68
artikkel kogumikus
349
dissertatsioon
Optimization of built-in self-test in digital systems = Sisseehitatud enesetestimise optimeerimine digitaalsüsteemides
Kruus, Helena
2011
dissertatsioon
350
artikkel kogumikus
Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems
Jervan, Gert
;
Kruus, Helena
;
Orasson, Elmet
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the IEEE 2nd International Symposium on Industrial Embedded Systems : SIES'2007 : Lisbon, Portugal, 4-6 July 2007
2007
/
p. 71-77
https://ieeexplore.ieee.org/document/4297319
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 589, kuvan
326 - 350
eelmine
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
järgmine
märksõna
1
1.
testimine
võtmesõna
1
1.
testimine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT