Devadze, S., Raik, J., Jutman, A., Ubar, R.-J.

täiskirje prindi

Fault simulation with parallel critical path tracing for combinational circuits using structurally synthesized BDDs

autor

Devadze, Sergei

Raik, Jaan

Jutman, Artur

Ubar, Raimund-Johannes

vastutusandmed

Sergei Devadze, Jaan Raik, Artur Jutman, Raimund Ubar

allikas

7th IEEE Latin American Test Workshop LATW'06 : Buenos Aires, Argentina, March 26th-29th, 2006 : proceedings

ilmumiskoht

Porto Alegre

kirjastus/väljaandja

Evangraf

ilmumisaasta

2006

leheküljed

p. 97-102 : ill

konverentsi nimetus, aeg

7th IEEE Latin American Test Workshop LATW'06, March 26-29, 2006

konverentsi toimumispaik

Buenos Aires, Argentina

ISBN

85-7727-022-X

märkused

Bibliogr.: 15 ref

TTÜ struktuuriüksus

arvutitehnika instituut

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

integraallülitused

rikked

kompuutersimulatsioon

otsustusdiagrammid

Devadze, S., Raik, J., Jutman, A., Ubar, R.-J. Fault simulation with parallel critical path tracing for combinational circuits using structurally synthesized BDDs // 7th IEEE Latin American Test Workshop LATW'06 : Buenos Aires, Argentina, March 26th-29th, 2006 : proceedings. Porto Alegre : Evangraf, 2006. p. 97-102 : ill.