prindi

Fault simulation with parallel critical path tracing for combinational circuits using structurally synthesized BDDs

autor
Devadze, Sergei
Raik, Jaan
Jutman, Artur
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Sergei Devadze, Jaan Raik, Artur Jutman, Raimund Ubar
allikas
7th IEEE Latin American Test Workshop LATW'06 : Buenos Aires, Argentina, March 26th-29th, 2006 : proceedings
ilmumiskoht
Porto Alegre
kirjastus/väljaandja
Evangraf
ilmumisaasta
2006
leheküljed
p. 97-102 : ill
konverentsi nimetus, aeg
7th IEEE Latin American Test Workshop LATW'06, March 26-29, 2006
konverentsi toimumispaik
Buenos Aires, Argentina
märksõna
integraallülitused
rikked
kompuutersimulatsioon
otsustusdiagrammid
ISBN
85-7727-022-X
märkused
Bibliogr.: 15 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise
Devadze, S., Raik, J., Jutman, A., Ubar, R.-J. Fault simulation with parallel critical path tracing for combinational circuits using structurally synthesized BDDs // 7th IEEE Latin American Test Workshop LATW'06 : Buenos Aires, Argentina, March 26th-29th, 2006 : proceedings. Porto Alegre : Evangraf, 2006. p. 97-102 : ill.