Combining functional and structural approaches in test generation for digital systems
autor
vastutusandmed
Raimund Ubar
allikas
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 38, 3
ilmumisaasta
leheküljed
p. 317-329 : ill
märkused
Bibliogr.: 33 ref
keel
inglise
TTÜ struktuuriüksus
Ubar, R. Combining functional and structural approaches in test generation for digital systems // Microelectronics reliability (1998) Vol. 38, 3, p. 317-329 : ill.