prindi

10th IEEE European Test Symposium

variantpealkiri
10th IEEE European Test Symposium
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Prinetto, Paolo
Raik, Jaan
vastutusandmed
Raimund Ubar, Paolo Prinetto, Jaan Raik
allikas
IEEE journal of design & test of computers
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 22, 5
ilmumisaasta
2005
leheküljed
p. 480-481 : phot
konverentsi nimetus, aeg
10th IEEE European Test Symposium, 22-25 May, 2005
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/MDT.2005.106
märksõna
mikroelektroonika
elektronlülitused
integraallülitused
testimine
konverentsid
ISSN
0740-7475
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise
Ubar, R.-J., Prinetto, P., Raik, J. 10th IEEE European Test Symposium // IEEE journal of design & test of computers (2005) Vol. 22, 5, p. 480-481 : phot. http://dx.doi.org/10.1109/MDT.2005.106