TalTech publikatsioonid
pealdis Oyeniran, A.S., Ubar, R., Jenihhin, M., Raik, J.
TTÜ struktuuriüksus arvutis├╝steemide instituut
maakood us
keel inglise
autor Oyeniran, Adeboye Stephen
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
pealkiri Implementation-independent functional test for transition delay faults in microprocessors
vastutusandmed Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
allikas 2020 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 26-28 August 2020, Kranj, Slovenia
ilmumiskoht Danvers
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta 2020
leheküljed p. 646-650
konverentsi nimetus, aeg Euromicro Conference on Digital System Design : DSD 2020, 26-28 August 2020
konverentsi toimumispaik Kranj, Slovenia
märksõna mikroprotsessorid
diagnostika (tehn.)
modelleerimine (teadus)
testimine
võtmesõna microprocessors
functional fault model
test generation
ISBN 978-1-7281-9535-3
märkused Bibliogr.: 33 ref
url https://doi.org/10.1109/DSD51259.2020.00105