Searching - TalTech Research Portal

display

sort

226

book article

Using Tabu search method for optimizing the cost of hybrid BISTKruus, Helena; Ubar, Raimund-Johannes; Jervan, Gert; Peng, Z.XVI Conference on Design of Circuits and Integrated Systems : Porto, Portugal, 20012001 / p. 445-450 https://citeseerx.ist.psu.edu/document?repid=rep1&type=pdf&doi=e97bb394ff71aa0affcc5fb372404bbc246888a8

book article

227

journal article

Uudne turvaline kiibitehnoloogiaRaik, JaanMente et Manu2021 / lk. 32-33 : fot Mente et Manu 2/2021

journal article

228

newspaper article

Uuring: Eesti majanduse veduriks võib saada kuus tehnoloogiavaldkondaBioneer.ee2023 Uuring: Eesti majanduse veduriks võib saada kuus tehnoloogiavaldkonda

newspaper article

229

journal article EST / journal article ENG

Versatile direct and transpose matrix multiplication with chained operations : an optimized architecture using circulant matricesIakymchuk, Taras; Rosado-Munoz, Alfredo; Mompean, Manuel Bataller; Villora, Jose Vicente Frances; Osimiry, Emmanuel OvieIEEE Transactions on Computers2016 / p. 3470 - 3479 https://doi.org/10.1109/TC.2016.2538235 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

journal article EST / journal article ENG

230

book article

VHDL design debug framework based on zamiaCADTihhomirov, Valentin; Tšepurov, Anton; Saif Abrar, Syed; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanDATE 2013 : Design Automation and Test in Europe, March 18-22, 2013, Grenoble, France2013 / [1] p. : ill

book article

231

newspaper article

Võitlus kiipides varitsevate troojalastega tõstab Eesti teadlased kilbileHärmat, Karinerr.ee2023 Võitlus kiipides varitsevate troojalastega tõstab Eesti teadlased kilbile

newspaper article

232

journal article

XXI sajandi arvutiToomsalu, ArvoA & A2000 / 1, lk. 8-13 ; 2, lk. 8-19 https://artiklid.elnet.ee/record=b1003324*est

journal article

233

book article

Быстродействующие интегральные компараторыGurjanov, Boris; Tamm, UljasIX Всесоюзная научно-техническая конференция по микроэлектронике, г. Казань, 14-17 окт. 1980 г. : тезисы докладов1980 / с. 88

book article

234

book article

Генерирование тестов для микропроцессорных БИСViilup, Agu; Evartson, TeetРасчет и проектирование систем технической кибернетики1983 / с. 121-129 : ил https://www.ester.ee/record=b1288991*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/7d7515af-76b7-4d35-89a7-e80367d5b635

book article

235

book article

Изменение параметров интегральных схем при анализе в растровом электронном микроскопеMeiler, BorissЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 85-92 https://www.ester.ee/record=b1296001*est

book article

236

book article

Измеритель коэффициента шума интегральных усилителейTammet, Heinar; Torim, A.A.Тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной 80-летию со дня изобретения радио А. С. Поповым1975 / с. 93 https://www.ester.ee/record=b1322122*est

book article

237

book article

Измеритель шумов интегральных схемKoiduste, A.; Tammet, HeinarXX студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР : тезисы докладов. Часть 11974 / с. 147 https://www.ester.ee/record=b1306141*est

book article

238

dissertation

Исследование влияния технологического микроклимата в производстве интегральных микросхем : автореферат ... кандидата технических наук (05.12.18)Rätsep, Ülo1983 https://www.ester.ee/record=b1522476*est

dissertation

239

journal article

Коэффициенное ударное ионизацеи носителей заряда в <100> арсениде галлияRang, Toomas; Puusepp, MärtЭлектронная техника. Серия 2, Полупроводниковые приборы : научно-технический сборник1987 / с. 98-100 https://www.ester.ee/record=b2160501*est

journal article

240

book article

Метод исследования комплексного влияния параметров технологического микроклимата на качество полупроводниковых интегральных микросхемRätsep, ÜloТезисы докладов Республиканской научно-технической конференции "Современные методы и устройства радиоэлектронного оборудования", посвященной Дню радио. Секция: полупроводниковые приборы1981 / с. 81-82 https://www.ester.ee/record=b1310801*est

book article

241

book article

Метод исследования технологического процесса производства интегральных микросхем, основанный на анализе кластеров состоянийRätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Методы и средства обработки сигналов при наличии шумов1982 / с. 39-43 https://www.ester.ee/record=b1312255*est https://www.etera.ee/zoom/121735/view?page=1&p=separate&search=true&tool=search

book article

242

book

Методическое пособие к лабораторным работам и курсовому проектированию по дисциплине "Схемотехника ЭВМ"1987 https://www.ester.ee/record=b1354263*est

book

243

book article

Методы идентификации шумовых источников интегральных схемTammet, HeinarТезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной Дню радио, Таллин, 19771977 / с. 87-88 https://www.ester.ee/record=b1313776*est

book article

244

book article

Оценка тенденции использования некоторых видов микросхемMaltsev, Jüri; Ševtšenko, S.Тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной Дню радио. [1], Секция: Информационно-измерительная техника1981 / с. 25-26 https://www.ester.ee/record=b1310782~S1*est

book article

245

journal article

Построение тестов для неисправностей комбинационных схем на основе анализа ортогональных дизъюнктивных нормальных форм, представляемых альтернативными графамиMatrosova, A.Yu.; Pleshkov, A.G.; Ubar, Raimund-JohannesАвтоматика и телемеханика2005 / с. 158-174 : ил http://mi.mathnet.ru/at1333

journal article

246

book article

Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состоянийBudarin, Vladimir; Rätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Методы и средства цифровой обработки сигналов1984 / с. 111-115

book article

247

newspaper article

«Сейчас время больших перемен»: профессор TalTech приоткрыл завесу тайны развития ИИ в ЭстонииGrebneva, N.; Jenihhin, Maksimrus.postimees.ee2025 «Сейчас время больших перемен»: профессор TalTech приоткрыл завесу тайны развития ИИ в Эстонии