Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
accelerated testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/92)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Design for accelerated testing of DC-link capacitors in photovoltaic inverters based on mission profiles
Sangwongwanich, Ariya
;
Shen, Yanfeng
;
Chub, Andrii
;
Liivik, Elizaveta
;
Vinnikov, Dmitri
;
Wang, Huai
;
Blaabjerg, Frede
IEEE transactions on industry applications
2021
/
p. 741−753
https://doi.org/10.1109/TIA.2020.3030568
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Mission profile-based accelerated testing of DC-link capacitors in photovoltaic inverters
Sangwongwanich, Ariya
;
Shen, Yanfeng
;
Chub, Andrii
;
Liivik, Elizaveta
;
Vinnikov, Dmitri
;
Wang, Huai
;
Blaabjerg, Frede
Thirty-Fourth Annual IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition, March 17 – 21, 2019, Anaheim, California
2019
/
p. 2833-2840 : ill
https://doi.org/10.1109/APEC.2019.8721794
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
92
1.
accelerated testing
2.
accelerated carbonation
3.
accelerated shelf-life test
4.
accelerated shelf-life tests
5.
bias corrected and accelerated method
6.
acoustomechanical testing
7.
anaerobic testing
8.
aspect-oriented testing
9.
assessment and testing
10.
at-speed testing
11.
benchmark testing
12.
Berridge testing
13.
burst testing
14.
cancer genomic testing
15.
compliance testing
16.
compositional testing
17.
computer aided testing
18.
cone heater testing
19.
conformance testing
20.
courses on electronic testing and design
21.
cybersecurity testing
22.
D. non-destructive testing
23.
deformation testing
24.
design field testing
25.
destructive testing
26.
eddy current testing
27.
eddy current testing (ECT)
28.
erosion testing
29.
fabric testing
30.
fatigue testing
31.
fire testing
32.
hierarchical testing
33.
hypotheses testing
34.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
35.
integration testing
36.
laboratory scale testing
37.
load testing
38.
macro mechanical testing and green surface tribology
39.
material testing
40.
materials testing
41.
measurement and testing
42.
mechanical testing
43.
memory testing
44.
metamorphic testing
45.
microprocessor testing
46.
model based testing
47.
model-based mutation testing
48.
model-based testing
49.
multi-scenario testing
50.
mutation testing
51.
network-testing
52.
non destructive testing
53.
nondestructive testing
54.
non-destructive testing
55.
non-destructive testing (NDT)
56.
On-site drug testing
57.
on-site testing
58.
pin on disc wear testing
59.
PMU calibration testing
60.
PMU testing
61.
point-of-care testing
62.
processor core testing
63.
processor testing
64.
real-time HiL testing
65.
regression testing
66.
RISC processor testing
67.
robustness testing
68.
safety and security testing
69.
scenario testing
70.
Scenario-Based Testing
71.
scratch testing
72.
security testing
73.
shear testing
74.
small-scale fire testing
75.
software testing
76.
software-in-the-loop (SIL) testing
77.
stand-alone testing
78.
stress-testing
79.
substation testing methods
80.
system testing
81.
tensile testing
82.
testing
83.
testing methods
84.
testing of digital devices
85.
testing of generator
86.
testing of phasor measurement units
87.
two-dimensional array testing
88.
ultrasonic testing
89.
wafer testing
90.
wear testing
91.
vibration testing
92.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT