Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
accelerated testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/85)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Design for accelerated testing of DC-link capacitors in photovoltaic inverters based on mission profiles
Sangwongwanich, Ariya
;
Shen, Yanfeng
;
Chub, Andrii
;
Liivik, Elizaveta
;
Vinnikov, Dmitri
;
Wang, Huai
;
Blaabjerg, Frede
IEEE transactions on industry applications
2021
/
p. 741−753
https://doi.org/10.1109/TIA.2020.3030568
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Mission profile-based accelerated testing of DC-link capacitors in photovoltaic inverters
Sangwongwanich, Ariya
;
Shen, Yanfeng
;
Chub, Andrii
;
Liivik, Elizaveta
;
Vinnikov, Dmitri
;
Wang, Huai
;
Blaabjerg, Frede
Thirty-Fourth Annual IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition, March 17 – 21, 2019, Anaheim, California
2019
/
p. 2833-2840 : ill
https://doi.org/10.1109/APEC.2019.8721794
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
85
1.
accelerated testing
2.
accelerated carbonation
3.
accelerated shelf-life test
4.
accelerated shelf-life tests
5.
bias corrected and accelerated method
6.
acoustomechanical testing
7.
anaerobic testing
8.
aspect-oriented testing
9.
assessment and testing
10.
at-speed testing
11.
benchmark testing
12.
Berridge testing
13.
burst testing
14.
cancer genomic testing
15.
compliance testing
16.
compositional testing
17.
computer aided testing
18.
conformance testing
19.
courses on electronic testing and design
20.
cybersecurity testing
21.
D. non-destructive testing
22.
deformation testing
23.
design field testing
24.
destructive testing
25.
eddy current testing
26.
eddy current testing (ECT)
27.
erosion testing
28.
fatigue testing
29.
fire testing
30.
hierarchical testing
31.
hypotheses testing
32.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
33.
integration testing
34.
laboratory scale testing
35.
load testing
36.
macro mechanical testing and green surface tribology
37.
material testing
38.
materials testing
39.
measurement and testing
40.
mechanical testing
41.
memory testing
42.
metamorphic testing
43.
microprocessor testing
44.
model based testing
45.
model-based mutation testing
46.
model-based testing
47.
mutation testing
48.
network-testing
49.
non destructive testing
50.
nondestructive testing
51.
non-destructive testing
52.
on-site testing
53.
pin on disc wear testing
54.
PMU calibration testing
55.
PMU testing
56.
point-of-care testing
57.
processor core testing
58.
processor testing
59.
real-time HiL testing
60.
regression testing
61.
RISC processor testing
62.
robustness testing
63.
safety and security testing
64.
scenario testing
65.
scratch testing
66.
security testing
67.
small-scale fire testing
68.
software testing
69.
software-in-the-loop (SIL) testing
70.
stand-alone testing
71.
stress-testing
72.
substation testing methods
73.
system testing
74.
tensile testing
75.
testing
76.
testing methods
77.
testing of digital devices
78.
testing of generator
79.
testing of phasor measurement units
80.
two-dimensional array testing
81.
ultrasonic testing
82.
wafer testing
83.
wear testing
84.
vibration testing
85.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT