Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
accelerated testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/94)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Design for accelerated testing of DC-link capacitors in photovoltaic inverters based on mission profiles
Sangwongwanich, Ariya
;
Shen, Yanfeng
;
Chub, Andrii
;
Liivik, Elizaveta
;
Vinnikov, Dmitri
;
Wang, Huai
;
Blaabjerg, Frede
IEEE transactions on industry applications
2021
/
p. 741−753
https://doi.org/10.1109/TIA.2020.3030568
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Mission profile-based accelerated testing of DC-link capacitors in photovoltaic inverters
Sangwongwanich, Ariya
;
Shen, Yanfeng
;
Chub, Andrii
;
Liivik, Elizaveta
;
Vinnikov, Dmitri
;
Wang, Huai
;
Blaabjerg, Frede
Thirty-Fourth Annual IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition, March 17 – 21, 2019, Anaheim, California
2019
/
p. 2833-2840 : ill
https://doi.org/10.1109/APEC.2019.8721794
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
94
1.
accelerated testing
2.
accelerated carbonation
3.
accelerated shelf-life test
4.
accelerated shelf-life tests
5.
bias corrected and accelerated method
6.
acoustomechanical testing
7.
anaerobic testing
8.
aspect-oriented testing
9.
assessment and testing
10.
at-speed testing
11.
benchmark testing
12.
Berridge testing
13.
burst testing
14.
cancer genomic testing
15.
circuit testing
16.
compliance testing
17.
compositional testing
18.
computer aided testing
19.
cone heater testing
20.
conformance testing
21.
courses on electronic testing and design
22.
cybersecurity testing
23.
D. non-destructive testing
24.
deformation testing
25.
design field testing
26.
destructive testing
27.
eddy current testing
28.
eddy current testing (ECT)
29.
erosion testing
30.
fabric testing
31.
fatigue testing
32.
fire testing
33.
hierarchical testing
34.
hypotheses testing
35.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
36.
integration testing
37.
laboratory scale testing
38.
load testing
39.
macro mechanical testing and green surface tribology
40.
material testing
41.
materials testing
42.
measurement and testing
43.
mechanical testing
44.
memory testing
45.
metamorphic testing
46.
microprocessor testing
47.
model based testing
48.
model-based mutation testing
49.
model-based testing
50.
multi-scenario testing
51.
mutation testing
52.
network-testing
53.
non destructive testing
54.
nondestructive testing
55.
non-destructive testing
56.
non-destructive testing (NDT)
57.
On-site drug testing
58.
on-site testing
59.
pin on disc wear testing
60.
PMU calibration testing
61.
PMU testing
62.
point-of-care testing
63.
processor core testing
64.
processor testing
65.
real-time HiL testing
66.
regression testing
67.
RISC processor testing
68.
robustness testing
69.
safety and security testing
70.
scenario testing
71.
Scenario-Based Testing
72.
scratch testing
73.
security testing
74.
shear testing
75.
small-scale fire testing
76.
software testing
77.
software-in-the-loop (SIL) testing
78.
stand-alone testing
79.
stress-testing
80.
substation testing methods
81.
system testing
82.
tensile testing
83.
testing
84.
testing methods
85.
testing of digital devices
86.
testing of generator
87.
testing of phasor measurement units
88.
two-dimensional array testing
89.
ultrasonic testing
90.
wafer testing
91.
wear testing
92.
well testing
93.
vibration testing
94.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT