Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
processor core testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/130)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
High-level test generation for processing elements in many-core systems
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Raik, Jaan
12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC2017), July 12-14, 2017, Madrid, Spain : proceedings
2017
/
8 p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Mixed-level identification of fault redundancy in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
LATS 2019 : 20th IEEE Latin American Test Symposium : Santiago, Chile, March 11th - 13th 2019
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/LATW.2019.8704591
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
130
1.
processor core testing
2.
processor testing
3.
RISC processor testing
4.
ARM processor
5.
crypto processor
6.
digital signal processor (DSP)
7.
multicore processor
8.
multi-processor
9.
multi-processor system-on-chip
10.
multi-processor system-on-chips (MPSoCs)
11.
Muti-Processor System on Chip (MPSoC)
12.
processor architecture
13.
processor designs
14.
processor-centric board
15.
processor-centric board test
16.
RISC-V Processor
17.
air core
18.
air core coupled coils
19.
air-core magnetics
20.
core collection
21.
core loss
22.
core losses
23.
core ontology requirements
24.
core shell heterostructures
25.
core short-circuit
26.
core terms
27.
core/shell
28.
core-less induction furnace
29.
core-shell nanoparticles
30.
core-shell particle
31.
cpu core
32.
crypto core
33.
DPP core ontology
34.
ferromagnetic core
35.
firn core
36.
many-core
37.
Ohesaare core
38.
Performance Indicators for Core Sustainability Objectives of Universities (PICSOU)
39.
sediment core
40.
sediment core records
41.
soft magnetic core
42.
toroidal magnetic core
43.
accelerated testing
44.
acoustomechanical testing
45.
anaerobic testing
46.
aspect-oriented testing
47.
assessment and testing
48.
at-speed testing
49.
benchmark testing
50.
Berridge testing
51.
burst testing
52.
cancer genomic testing
53.
circuit testing
54.
compliance testing
55.
compositional testing
56.
computer aided testing
57.
cone heater testing
58.
conformance testing
59.
courses on electronic testing and design
60.
cybersecurity testing
61.
D. non-destructive testing
62.
deformation testing
63.
design field testing
64.
destructive testing
65.
eddy current testing
66.
eddy current testing (ECT)
67.
erosion testing
68.
fabric testing
69.
fatigue testing
70.
fire testing
71.
hierarchical testing
72.
hypotheses testing
73.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
74.
integration testing
75.
laboratory scale testing
76.
load testing
77.
macro mechanical testing and green surface tribology
78.
material testing
79.
materials testing
80.
measurement and testing
81.
mechanical testing
82.
memory testing
83.
metamorphic testing
84.
microprocessor testing
85.
model based testing
86.
model-based mutation testing
87.
model-based testing
88.
multi-scenario testing
89.
mutation testing
90.
network-testing
91.
non destructive testing
92.
nondestructive testing
93.
non-destructive testing
94.
non-destructive testing (NDT)
95.
On-site drug testing
96.
on-site testing
97.
pin on disc wear testing
98.
PMU calibration testing
99.
PMU testing
100.
point-of-care testing
101.
real-time HiL testing
102.
regression testing
103.
robustness testing
104.
safety and security testing
105.
scenario testing
106.
Scenario-Based Testing
107.
scratch testing
108.
secure online testing
109.
security testing
110.
shear testing
111.
small-scale fire testing
112.
software testing
113.
software-in-the-loop (SIL) testing
114.
stand-alone testing
115.
stress-testing
116.
substation testing methods
117.
system testing
118.
tensile testing
119.
testing
120.
testing methods
121.
testing of digital devices
122.
testing of generator
123.
testing of phasor measurement units
124.
two-dimensional array testing
125.
ultrasonic testing
126.
wafer testing
127.
wear testing
128.
well testing
129.
vibration testing
130.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT