Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
processor core testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/115)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
High-level test generation for processing elements in many-core systems
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Raik, Jaan
12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC2017), July 12-14, 2017, Madrid, Spain : proceedings
2017
/
8 p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Mixed-level identification of fault redundancy in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
LATS 2019 : 20th IEEE Latin American Test Symposium : Santiago, Chile, March 11th - 13th 2019
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/LATW.2019.8704591
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
115
1.
processor core testing
2.
processor testing
3.
RISC processor testing
4.
ARM processor
5.
crypto processor
6.
digital signal processor (DSP)
7.
multicore processor
8.
multi-processor
9.
multi-processor system-on-chip
10.
multi-processor system-on-chips (MPSoCs)
11.
Muti-Processor System on Chip (MPSoC)
12.
processor architecture
13.
processor designs
14.
processor-centric board
15.
processor-centric board test
16.
air core
17.
air core coupled coils
18.
core collection
19.
core loss
20.
core losses
21.
core shell heterostructures
22.
core short-circuit
23.
core/shell
24.
core-less induction furnace
25.
core-shell nanoparticles
26.
core-shell particle
27.
cpu core
28.
crypto core
29.
DPP core ontology
30.
ferromagnetic core
31.
firn core
32.
many-core
33.
Ohesaare core
34.
sediment core
35.
sediment core records
36.
soft magnetic core
37.
toroidal magnetic core
38.
accelerated testing
39.
acoustomechanical testing
40.
anaerobic testing
41.
aspect-oriented testing
42.
assessment and testing
43.
at-speed testing
44.
benchmark testing
45.
Berridge testing
46.
burst testing
47.
cancer genomic testing
48.
compliance testing
49.
compositional testing
50.
computer aided testing
51.
conformance testing
52.
courses on electronic testing and design
53.
cybersecurity testing
54.
D. non-destructive testing
55.
deformation testing
56.
design field testing
57.
destructive testing
58.
eddy current testing
59.
eddy current testing (ECT)
60.
erosion testing
61.
fatigue testing
62.
fire testing
63.
hierarchical testing
64.
hypotheses testing
65.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
66.
integration testing
67.
laboratory scale testing
68.
load testing
69.
macro mechanical testing and green surface tribology
70.
material testing
71.
materials testing
72.
measurement and testing
73.
mechanical testing
74.
memory testing
75.
metamorphic testing
76.
microprocessor testing
77.
model based testing
78.
model-based mutation testing
79.
model-based testing
80.
mutation testing
81.
network-testing
82.
non destructive testing
83.
nondestructive testing
84.
non-destructive testing
85.
on-site testing
86.
pin on disc wear testing
87.
PMU calibration testing
88.
PMU testing
89.
point-of-care testing
90.
real-time HiL testing
91.
regression testing
92.
robustness testing
93.
safety and security testing
94.
scenario testing
95.
scratch testing
96.
security testing
97.
small-scale fire testing
98.
software testing
99.
software-in-the-loop (SIL) testing
100.
stand-alone testing
101.
stress-testing
102.
substation testing methods
103.
system testing
104.
tensile testing
105.
testing
106.
testing methods
107.
testing of digital devices
108.
testing of generator
109.
testing of phasor measurement units
110.
two-dimensional array testing
111.
ultrasonic testing
112.
wafer testing
113.
wear testing
114.
vibration testing
115.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT