Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
processor core testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/104)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
High-level test generation for processing elements in many-core systems
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Raik, Jaan
12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC2017), July 12-14, 2017, Madrid, Spain : proceedings
2017
/
8 p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Mixed-level identification of fault redundancy in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
LATS 2019 : 20th IEEE Latin American Test Symposium : Santiago, Chile, March 11th - 13th 2019
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/LATW.2019.8704591
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
104
1.
processor core testing
2.
processor testing
3.
RISC processor testing
4.
ARM processor
5.
crypto processor
6.
digital signal processor (DSP)
7.
multicore processor
8.
multi-processor
9.
multi-processor system-on-chip
10.
multi-processor system-on-chips (MPSoCs)
11.
Muti-Processor System on Chip (MPSoC)
12.
processor architecture
13.
processor designs
14.
processor-centric board
15.
processor-centric board test
16.
air core coupled coils
17.
core collection
18.
core loss
19.
core losses
20.
core shell heterostructures
21.
core short-circuit
22.
core/shell
23.
core-less induction furnace
24.
core-shell nanoparticles
25.
cpu core
26.
crypto core
27.
ferromagnetic core
28.
firn core
29.
many-core
30.
Ohesaare core
31.
sediment core records
32.
toroidal magnetic core
33.
accelerated testing
34.
acoustomechanical testing
35.
anaerobic testing
36.
aspect-oriented testing
37.
at-speed testing
38.
benchmark testing
39.
Berridge testing
40.
cancer genomic testing
41.
compliance testing
42.
compositional testing
43.
computer aided testing
44.
conformance testing
45.
courses on electronic testing and design
46.
cybersecurity testing
47.
D. non-destructive testing
48.
design field testing
49.
destructive testing
50.
eddy current testing
51.
eddy current testing (ECT)
52.
erosion testing
53.
fatigue testing
54.
fire testing
55.
hierarchical testing
56.
hypotheses testing
57.
integration testing
58.
laboratory scale testing
59.
load testing
60.
macro mechanical testing and green surface tribology
61.
material testing
62.
materials testing
63.
measurement and testing
64.
mechanical testing
65.
memory testing
66.
metamorphic testing
67.
microprocessor testing
68.
model based testing
69.
model-based mutation testing
70.
model-based testing
71.
mutation testing
72.
network-testing
73.
non destructive testing
74.
nondestructive testing
75.
non-destructive testing
76.
on-site testing
77.
pin on disc wear testing
78.
PMU calibration testing
79.
PMU testing
80.
point-of-care testing
81.
real-time HiL testing
82.
regression testing
83.
robustness testing
84.
scenario testing
85.
scratch testing
86.
security testing
87.
small-scale fire testing
88.
software testing
89.
software-in-the-loop (SIL) testing
90.
stand-alone testing
91.
stress-testing
92.
substation testing methods
93.
system testing
94.
tensile testing
95.
testing
96.
testing methods
97.
testing of digital devices
98.
testing of generator
99.
testing of phasor measurement units
100.
two-dimensional array testing
101.
wafer testing
102.
wear testing
103.
vibration testing
104.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT