Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
nondestructive testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/77)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Flexible data acquisition system with custom front-end for ultrasonic NDT research
Peng, Chengxiang
;
Ratassepp, Madis
;
Annus, Paul
;
Rist, Marek
;
Land, Raul
;
Märtens, Olev
2024 19th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC)
2024
/
4 p
https://doi.org/10.1109/BEC61458.2024.10737989
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas
Higlights in the research into complexity of nonlinear waves
Engelbrecht, Jüri
;
Berezovski, Arkadi
;
Soomere, Tarmo
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences
2010
/
p. 61-65
https://doi.org//10.3176/proc.2010.2.01
artikkel ajakirjas
3
artikkel ajakirjas
Tone bursts in exponentially graded materials characterized by parametric plots
Ravasoo, Arvi
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences
2013
/
p. 258-266
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
77
1.
nondestructive testing
2.
nondestructive material characterization
3.
ultrasonic nondestructive evaluation
4.
accelerated testing
5.
acoustomechanical testing
6.
anaerobic testing
7.
aspect-oriented testing
8.
at-speed testing
9.
benchmark testing
10.
Berridge testing
11.
cancer genomic testing
12.
compliance testing
13.
compositional testing
14.
computer aided testing
15.
conformance testing
16.
courses on electronic testing and design
17.
cybersecurity testing
18.
D. non-destructive testing
19.
design field testing
20.
destructive testing
21.
eddy current testing
22.
eddy current testing (ECT)
23.
erosion testing
24.
fatigue testing
25.
fire testing
26.
hierarchical testing
27.
hypotheses testing
28.
integration testing
29.
laboratory scale testing
30.
load testing
31.
macro mechanical testing and green surface tribology
32.
material testing
33.
materials testing
34.
measurement and testing
35.
mechanical testing
36.
memory testing
37.
metamorphic testing
38.
microprocessor testing
39.
model based testing
40.
model-based mutation testing
41.
model-based testing
42.
mutation testing
43.
network-testing
44.
non destructive testing
45.
non-destructive testing
46.
on-site testing
47.
pin on disc wear testing
48.
PMU calibration testing
49.
PMU testing
50.
point-of-care testing
51.
processor core testing
52.
processor testing
53.
real-time HiL testing
54.
regression testing
55.
RISC processor testing
56.
robustness testing
57.
scenario testing
58.
scratch testing
59.
security testing
60.
small-scale fire testing
61.
software testing
62.
software-in-the-loop (SIL) testing
63.
stand-alone testing
64.
stress-testing
65.
substation testing methods
66.
system testing
67.
tensile testing
68.
testing
69.
testing methods
70.
testing of digital devices
71.
testing of generator
72.
testing of phasor measurement units
73.
two-dimensional array testing
74.
wafer testing
75.
wear testing
76.
vibration testing
77.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT