Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
at-speed testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/113)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed self-testing of high-performance pipe-lined processing architectures [Electronic resource]
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
31st Norchip Conference : Vilnius, Lithuania, 11-12 November 2013 : conference program and papers
2013
/
p. 1-6 : ill [USB]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas
Functional self-test of high-performance pipe-lined signal processing architectures
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
Microprocessors and microsystems
2015
/
p. 909-918 : ill
http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2014.11.002
artikkel ajakirjas
3
artikkel kogumikus
Self-testing of pipe-lined signal processing architectures at-speed
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
2013
/
p. 25-28 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
113
1.
at-speed testing
2.
boundedness and summability with speed
3.
boundedness with speed
4.
convergence and absolute convergence with speed
5.
convergence and boundedness with speed
6.
convergence and α-absolute convergence with speed
7.
convergence with speed
8.
Drilling speed
9.
high speed boat
10.
high speed craft (HSC)
11.
high speed machining
12.
high speed measurement
13.
high-speed
14.
high-speed craft
15.
high-speed design
16.
high-speed MAS (magic angle spinning)
17.
high-speed planing crafts
18.
high-speed railway
19.
high-speed serial link test
20.
high-speed temperature scanner
21.
high-speed thermogravimetric analysis
22.
low speed
23.
operational speed
24.
Pollen fall speed
25.
speed
26.
speed and position estimation
27.
speed of convergence
28.
speed tracking setpoints
29.
summability and boundedness with speed
30.
zero-convergence with speed
31.
variable speed drive
32.
variable speed drives
33.
variable speed wind turbines
34.
variable-speed drives
35.
variable-speed drives (VSDs)
36.
wind speed
37.
α-absolute convergence with speed
38.
α-absolute summability with speed
39.
accelerated testing
40.
acoustomechanical testing
41.
anaerobic testing
42.
aspect-oriented testing
43.
benchmark testing
44.
Berridge testing
45.
cancer genomic testing
46.
compliance testing
47.
compositional testing
48.
computer aided testing
49.
conformance testing
50.
courses on electronic testing and design
51.
cybersecurity testing
52.
D. non-destructive testing
53.
design field testing
54.
destructive testing
55.
eddy current testing
56.
eddy current testing (ECT)
57.
erosion testing
58.
fatigue testing
59.
fire testing
60.
hierarchical testing
61.
hypotheses testing
62.
integration testing
63.
laboratory scale testing
64.
load testing
65.
macro mechanical testing and green surface tribology
66.
material testing
67.
materials testing
68.
measurement and testing
69.
mechanical testing
70.
memory testing
71.
metamorphic testing
72.
microprocessor testing
73.
model based testing
74.
model-based mutation testing
75.
model-based testing
76.
mutation testing
77.
network-testing
78.
non destructive testing
79.
nondestructive testing
80.
non-destructive testing
81.
on-site testing
82.
pin on disc wear testing
83.
PMU calibration testing
84.
PMU testing
85.
point-of-care testing
86.
processor core testing
87.
processor testing
88.
real-time HiL testing
89.
regression testing
90.
RISC processor testing
91.
robustness testing
92.
safety and security testing
93.
scenario testing
94.
scratch testing
95.
security testing
96.
small-scale fire testing
97.
software testing
98.
software-in-the-loop (SIL) testing
99.
stand-alone testing
100.
stress-testing
101.
substation testing methods
102.
system testing
103.
tensile testing
104.
testing
105.
testing methods
106.
testing of digital devices
107.
testing of generator
108.
testing of phasor measurement units
109.
two-dimensional array testing
110.
wafer testing
111.
wear testing
112.
vibration testing
113.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT