Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
at-speed testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/104)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed self-testing of high-performance pipe-lined processing architectures [Electronic resource]
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
31st Norchip Conference : Vilnius, Lithuania, 11-12 November 2013 : conference program and papers
2013
/
p. 1-6 : ill [USB]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas
Functional self-test of high-performance pipe-lined signal processing architectures
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
Microprocessors and microsystems
2015
/
p. 909-918 : ill
http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2014.11.002
artikkel ajakirjas
3
artikkel kogumikus
Self-testing of pipe-lined signal processing architectures at-speed
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
2013
/
p. 25-28 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
104
1.
at-speed testing
2.
boundedness and summability with speed
3.
boundedness with speed
4.
convergence and boundedness with speed
5.
convergence with speed
6.
Drilling speed
7.
high speed boat
8.
high speed craft (HSC)
9.
high speed machining
10.
high speed measurement
11.
high-speed
12.
high-speed craft
13.
high-speed design
14.
high-speed MAS (magic angle spinning)
15.
high-speed planing crafts
16.
high-speed railway
17.
high-speed serial link test
18.
high-speed temperature scanner
19.
high-speed thermogravimetric analysis
20.
low speed
21.
operational speed
22.
Pollen fall speed
23.
speed
24.
speed and position estimation
25.
speed of convergence
26.
speed tracking setpoints
27.
variable speed drive
28.
variable speed drives
29.
variable speed wind turbines
30.
variable-speed drives
31.
variable-speed drives (VSDs)
32.
wind speed
33.
α-absolute convergence with speed
34.
accelerated testing
35.
acoustomechanical testing
36.
anaerobic testing
37.
aspect-oriented testing
38.
benchmark testing
39.
Berridge testing
40.
cancer genomic testing
41.
compliance testing
42.
compositional testing
43.
computer aided testing
44.
conformance testing
45.
courses on electronic testing and design
46.
cybersecurity testing
47.
D. non-destructive testing
48.
design field testing
49.
eddy current testing
50.
erosion testing
51.
fatigue testing
52.
fire testing
53.
hierarchical testing
54.
hypotheses testing
55.
integration testing
56.
laboratory scale testing
57.
load testing
58.
macro mechanical testing and green surface tribology
59.
material testing
60.
measurement and testing
61.
mechanical testing
62.
memory testing
63.
metamorphic testing
64.
microprocessor testing
65.
model based testing
66.
model-based mutation testing
67.
model-based testing
68.
mutation testing
69.
network-testing
70.
non destructive testing
71.
nondestructive testing
72.
non-destructive testing
73.
on-site testing
74.
pin on disc wear testing
75.
PMU calibration testing
76.
PMU testing
77.
point-of-care testing
78.
processor core testing
79.
processor testing
80.
real-time HiL testing
81.
regression testing
82.
RISC processor testing
83.
robustness testing
84.
scenario testing
85.
scratch testing
86.
security testing
87.
small-scale fire testing
88.
software testing
89.
software-in-the-loop (SIL) testing
90.
stand-alone testing
91.
stress-testing
92.
substation testing methods
93.
system testing
94.
tensile testing
95.
testing
96.
testing methods
97.
testing of digital devices
98.
testing of generator
99.
testing of phasor measurement units
100.
two-dimensional array testing
101.
wafer testing
102.
wear testing
103.
vibration testing
104.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT