Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
at-speed testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/106)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed self-testing of high-performance pipe-lined processing architectures [Electronic resource]
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
31st Norchip Conference : Vilnius, Lithuania, 11-12 November 2013 : conference program and papers
2013
/
p. 1-6 : ill [USB]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas
Functional self-test of high-performance pipe-lined signal processing architectures
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
Microprocessors and microsystems
2015
/
p. 909-918 : ill
http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2014.11.002
artikkel ajakirjas
3
artikkel kogumikus
Self-testing of pipe-lined signal processing architectures at-speed
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
2013
/
p. 25-28 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
106
1.
at-speed testing
2.
boundedness and summability with speed
3.
boundedness with speed
4.
convergence and boundedness with speed
5.
convergence with speed
6.
Drilling speed
7.
high speed boat
8.
high speed craft (HSC)
9.
high speed machining
10.
high speed measurement
11.
high-speed
12.
high-speed craft
13.
high-speed design
14.
high-speed MAS (magic angle spinning)
15.
high-speed planing crafts
16.
high-speed railway
17.
high-speed serial link test
18.
high-speed temperature scanner
19.
high-speed thermogravimetric analysis
20.
low speed
21.
operational speed
22.
Pollen fall speed
23.
speed
24.
speed and position estimation
25.
speed of convergence
26.
speed tracking setpoints
27.
summability and boundedness with speed
28.
variable speed drive
29.
variable speed drives
30.
variable speed wind turbines
31.
variable-speed drives
32.
variable-speed drives (VSDs)
33.
wind speed
34.
α-absolute convergence with speed
35.
accelerated testing
36.
acoustomechanical testing
37.
anaerobic testing
38.
aspect-oriented testing
39.
benchmark testing
40.
Berridge testing
41.
cancer genomic testing
42.
compliance testing
43.
compositional testing
44.
computer aided testing
45.
conformance testing
46.
courses on electronic testing and design
47.
cybersecurity testing
48.
D. non-destructive testing
49.
design field testing
50.
eddy current testing
51.
erosion testing
52.
fatigue testing
53.
fire testing
54.
hierarchical testing
55.
hypotheses testing
56.
integration testing
57.
laboratory scale testing
58.
load testing
59.
macro mechanical testing and green surface tribology
60.
material testing
61.
materials testing
62.
measurement and testing
63.
mechanical testing
64.
memory testing
65.
metamorphic testing
66.
microprocessor testing
67.
model based testing
68.
model-based mutation testing
69.
model-based testing
70.
mutation testing
71.
network-testing
72.
non destructive testing
73.
nondestructive testing
74.
non-destructive testing
75.
on-site testing
76.
pin on disc wear testing
77.
PMU calibration testing
78.
PMU testing
79.
point-of-care testing
80.
processor core testing
81.
processor testing
82.
real-time HiL testing
83.
regression testing
84.
RISC processor testing
85.
robustness testing
86.
scenario testing
87.
scratch testing
88.
security testing
89.
small-scale fire testing
90.
software testing
91.
software-in-the-loop (SIL) testing
92.
stand-alone testing
93.
stress-testing
94.
substation testing methods
95.
system testing
96.
tensile testing
97.
testing
98.
testing methods
99.
testing of digital devices
100.
testing of generator
101.
testing of phasor measurement units
102.
two-dimensional array testing
103.
wafer testing
104.
wear testing
105.
vibration testing
106.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT