Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
at-speed testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/126)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed self-testing of high-performance pipe-lined processing architectures [Electronic resource]
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
31st Norchip Conference : Vilnius, Lithuania, 11-12 November 2013 : conference program and papers
2013
/
p. 1-6 : ill [USB]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Functional self-test of high-performance pipe-lined signal processing architectures
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
Microprocessors and microsystems
2015
/
p. 909-918 : ill
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2014.11.002
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
3
artikkel kogumikus
Self-testing of pipe-lined signal processing architectures at-speed
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
2013
/
p. 25-28 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
126
1.
at-speed testing
2.
absolute convergence with speed
3.
A-statistical convergence with speed
4.
boundedness and summability with speed
5.
boundedness with speed
6.
convergence and absolute convergence with speed
7.
convergence and boundedness with speed
8.
convergence and α-absolute convergence with speed
9.
convergence with speed
10.
Drilling speed
11.
high speed boat
12.
high speed craft (HSC)
13.
high speed machining
14.
high speed measurement
15.
high-speed
16.
high-speed craft
17.
high-speed design
18.
high-speed MAS (magic angle spinning)
19.
high-speed planing crafts
20.
high-speed railway
21.
high-speed serial link test
22.
high-speed temperature scanner
23.
high-speed thermogravimetric analysis
24.
low speed
25.
operational speed
26.
paranormal absolute convergence with speed
27.
paranormal boundedness with speed
28.
paranormal convergence with speed
29.
paranormed absolute convergence with speed
30.
paranormed boundedness with speed
31.
paranormed convergence with speed
32.
paranormed zero-convergence with speed
33.
Pollen fall speed
34.
speed
35.
speed and position estimation
36.
speed of convergence
37.
speed tracking setpoints
38.
summability and boundedness with speed
39.
zero-convergence with speed
40.
variable speed drive
41.
variable speed drives
42.
variable speed wind turbines
43.
variable-speed drives
44.
variable-speed drives (VSDs)
45.
water speed
46.
wind speed
47.
α-absolute convergence with speed
48.
α-absolute summability with speed
49.
accelerated testing
50.
acoustomechanical testing
51.
anaerobic testing
52.
aspect-oriented testing
53.
benchmark testing
54.
Berridge testing
55.
burst testing
56.
cancer genomic testing
57.
compliance testing
58.
compositional testing
59.
computer aided testing
60.
conformance testing
61.
courses on electronic testing and design
62.
cybersecurity testing
63.
D. non-destructive testing
64.
deformation testing
65.
design field testing
66.
destructive testing
67.
eddy current testing
68.
eddy current testing (ECT)
69.
erosion testing
70.
fatigue testing
71.
fire testing
72.
hierarchical testing
73.
hypotheses testing
74.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
75.
integration testing
76.
laboratory scale testing
77.
load testing
78.
macro mechanical testing and green surface tribology
79.
material testing
80.
materials testing
81.
measurement and testing
82.
mechanical testing
83.
memory testing
84.
metamorphic testing
85.
microprocessor testing
86.
model based testing
87.
model-based mutation testing
88.
model-based testing
89.
mutation testing
90.
network-testing
91.
non destructive testing
92.
nondestructive testing
93.
non-destructive testing
94.
on-site testing
95.
pin on disc wear testing
96.
PMU calibration testing
97.
PMU testing
98.
point-of-care testing
99.
processor core testing
100.
processor testing
101.
real-time HiL testing
102.
regression testing
103.
RISC processor testing
104.
robustness testing
105.
safety and security testing
106.
scenario testing
107.
scratch testing
108.
security testing
109.
small-scale fire testing
110.
software testing
111.
software-in-the-loop (SIL) testing
112.
stand-alone testing
113.
stress-testing
114.
substation testing methods
115.
system testing
116.
tensile testing
117.
testing
118.
testing methods
119.
testing of digital devices
120.
testing of generator
121.
testing of phasor measurement units
122.
two-dimensional array testing
123.
wafer testing
124.
wear testing
125.
vibration testing
126.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT