Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
at-speed testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/129)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed self-testing of high-performance pipe-lined processing architectures [Electronic resource]
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
31st Norchip Conference : Vilnius, Lithuania, 11-12 November 2013 : conference program and papers
2013
/
p. 1-6 : ill [USB]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Functional self-test of high-performance pipe-lined signal processing architectures
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
Microprocessors and microsystems
2015
/
p. 909-918 : ill
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2014.11.002
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
3
artikkel kogumikus
Self-testing of pipe-lined signal processing architectures at-speed
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
2013
/
p. 25-28 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
129
1.
at-speed testing
2.
absolute convergence with speed
3.
A-statistical convergence with speed
4.
boundedness and summability with speed
5.
boundedness with speed
6.
convergence and absolute convergence with speed
7.
convergence and boundedness with speed
8.
convergence and α-absolute convergence with speed
9.
convergence with speed
10.
Drilling speed
11.
high speed boat
12.
high speed craft (HSC)
13.
high speed machining
14.
high speed measurement
15.
high-speed
16.
high-speed craft
17.
high-speed design
18.
high-speed MAS (magic angle spinning)
19.
high-speed planing crafts
20.
high-speed railway
21.
high-speed serial link test
22.
high-speed temperature scanner
23.
high-speed thermogravimetric analysis
24.
low speed
25.
operational speed
26.
paranormal absolute convergence with speed
27.
paranormal boundedness with speed
28.
paranormal convergence with speed
29.
paranormed absolute convergence with speed
30.
paranormed boundedness with speed
31.
paranormed convergence with speed
32.
paranormed zero-convergence with speed
33.
Pollen fall speed
34.
speed
35.
speed and position estimation
36.
speed of convergence
37.
speed of releases
38.
speed tracking setpoints
39.
speed-Maddox spaces
40.
summability and absolute summability with speed
41.
summability and boundedness with speed
42.
zero-convergence with speed
43.
variable speed drive
44.
variable speed drives
45.
variable speed wind turbines
46.
variable-speed drives
47.
variable-speed drives (VSDs)
48.
water speed
49.
wind speed
50.
α-absolute convergence with speed
51.
α-absolute summability with speed
52.
accelerated testing
53.
acoustomechanical testing
54.
anaerobic testing
55.
aspect-oriented testing
56.
benchmark testing
57.
Berridge testing
58.
burst testing
59.
cancer genomic testing
60.
compliance testing
61.
compositional testing
62.
computer aided testing
63.
conformance testing
64.
courses on electronic testing and design
65.
cybersecurity testing
66.
D. non-destructive testing
67.
deformation testing
68.
design field testing
69.
destructive testing
70.
eddy current testing
71.
eddy current testing (ECT)
72.
erosion testing
73.
fatigue testing
74.
fire testing
75.
hierarchical testing
76.
hypotheses testing
77.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
78.
integration testing
79.
laboratory scale testing
80.
load testing
81.
macro mechanical testing and green surface tribology
82.
material testing
83.
materials testing
84.
measurement and testing
85.
mechanical testing
86.
memory testing
87.
metamorphic testing
88.
microprocessor testing
89.
model based testing
90.
model-based mutation testing
91.
model-based testing
92.
mutation testing
93.
network-testing
94.
non destructive testing
95.
nondestructive testing
96.
non-destructive testing
97.
on-site testing
98.
pin on disc wear testing
99.
PMU calibration testing
100.
PMU testing
101.
point-of-care testing
102.
processor core testing
103.
processor testing
104.
real-time HiL testing
105.
regression testing
106.
RISC processor testing
107.
robustness testing
108.
safety and security testing
109.
scenario testing
110.
scratch testing
111.
security testing
112.
small-scale fire testing
113.
software testing
114.
software-in-the-loop (SIL) testing
115.
stand-alone testing
116.
stress-testing
117.
substation testing methods
118.
system testing
119.
tensile testing
120.
testing
121.
testing methods
122.
testing of digital devices
123.
testing of generator
124.
testing of phasor measurement units
125.
two-dimensional array testing
126.
wafer testing
127.
wear testing
128.
vibration testing
129.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT