Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
processor testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/87)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed functional built-in self-test methodology for processors [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Indus, Viljar
;
Kalmend, Oliver
Proceedings of the IASTED International Conference on Engineering and Applied Science : December 27-29, 2012, Columbo, Sri Lanka
2012
/
p. 168-172 : ill [CD-ROM]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas
High-Level Implementation-Independent Functional Software-Based Self-Test for RISC Processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Journal of electronic testing : theory and applications
2020
/
p. 87-103
https://doi.org/10.1007/s10836-020-05856-7
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
87
1.
processor testing
2.
RISC processor testing
3.
processor core testing
4.
microprocessor testing
5.
ARM processor
6.
crypto processor
7.
digital signal processor (DSP)
8.
multicore processor
9.
multi-processor
10.
multi-processor system-on-chip
11.
multi-processor system-on-chips (MPSoCs)
12.
Muti-Processor System on Chip (MPSoC)
13.
processor architecture
14.
processor designs
15.
processor-centric board
16.
processor-centric board test
17.
accelerated testing
18.
acoustomechanical testing
19.
anaerobic testing
20.
aspect-oriented testing
21.
at-speed testing
22.
benchmark testing
23.
Berridge testing
24.
cancer genomic testing
25.
compliance testing
26.
compositional testing
27.
computer aided testing
28.
conformance testing
29.
courses on electronic testing and design
30.
cybersecurity testing
31.
D. non-destructive testing
32.
design field testing
33.
destructive testing
34.
eddy current testing
35.
eddy current testing (ECT)
36.
erosion testing
37.
fatigue testing
38.
fire testing
39.
hierarchical testing
40.
hypotheses testing
41.
integration testing
42.
laboratory scale testing
43.
load testing
44.
macro mechanical testing and green surface tribology
45.
material testing
46.
materials testing
47.
measurement and testing
48.
mechanical testing
49.
memory testing
50.
metamorphic testing
51.
model based testing
52.
model-based mutation testing
53.
model-based testing
54.
mutation testing
55.
network-testing
56.
non destructive testing
57.
nondestructive testing
58.
non-destructive testing
59.
on-site testing
60.
pin on disc wear testing
61.
PMU calibration testing
62.
PMU testing
63.
point-of-care testing
64.
real-time HiL testing
65.
regression testing
66.
robustness testing
67.
scenario testing
68.
scratch testing
69.
security testing
70.
small-scale fire testing
71.
software testing
72.
software-in-the-loop (SIL) testing
73.
stand-alone testing
74.
stress-testing
75.
substation testing methods
76.
system testing
77.
tensile testing
78.
testing
79.
testing methods
80.
testing of digital devices
81.
testing of generator
82.
testing of phasor measurement units
83.
two-dimensional array testing
84.
wafer testing
85.
wear testing
86.
vibration testing
87.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT