Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
metamorphic testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/79)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Iterative optimization of hyperparameter-based metamorphic transformations
Sudheerbabu, Gaadha
;
Ahmad, Tanwir
;
Truscan, Dragos
;
Vain, Jüri
;
Porres, Ivan
2024 IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops (ICSTW)
2024
/
p. 13-20
https://doi.org/10.1109/ICSTW60967.2024.00016
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Metamorphic testing for verification and fault localization in industrial control systems
Sudheerbabu, Gaadha
;
Ahmad, Tanwir
;
Truscan, Dragos
;
Vain, Jüri
CyberSecurity in a DevOps Environment: From Requirements to Monitoring
2023
/
p. 127 - 159
https://doi.org/10.1007/978-3-031-42212-6_5
Article at Scopus
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
A two-phase metamorphic approach for testing industrial control systems
Sudheerbabu, Gaadha
;
Ahmad, Tanwir
;
Sebek, Filip
;
Truscan, Dragos
;
Vain, Jüri
;
Porres, Ivan
2022 IEEE 27th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA) : proceedings
2022
/
4 p
https://doi.org/10.1109/ETFA52439.2022.9921439
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
79
1.
metamorphic testing
2.
accelerated testing
3.
acoustomechanical testing
4.
anaerobic testing
5.
aspect-oriented testing
6.
at-speed testing
7.
benchmark testing
8.
Berridge testing
9.
burst testing
10.
cancer genomic testing
11.
compliance testing
12.
compositional testing
13.
computer aided testing
14.
conformance testing
15.
courses on electronic testing and design
16.
cybersecurity testing
17.
D. non-destructive testing
18.
deformation testing
19.
design field testing
20.
destructive testing
21.
eddy current testing
22.
eddy current testing (ECT)
23.
erosion testing
24.
fatigue testing
25.
fire testing
26.
hierarchical testing
27.
hypotheses testing
28.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
29.
integration testing
30.
laboratory scale testing
31.
load testing
32.
macro mechanical testing and green surface tribology
33.
material testing
34.
materials testing
35.
measurement and testing
36.
mechanical testing
37.
memory testing
38.
microprocessor testing
39.
model based testing
40.
model-based mutation testing
41.
model-based testing
42.
mutation testing
43.
network-testing
44.
non destructive testing
45.
nondestructive testing
46.
non-destructive testing
47.
on-site testing
48.
pin on disc wear testing
49.
PMU calibration testing
50.
PMU testing
51.
point-of-care testing
52.
processor core testing
53.
processor testing
54.
real-time HiL testing
55.
regression testing
56.
RISC processor testing
57.
robustness testing
58.
safety and security testing
59.
scenario testing
60.
scratch testing
61.
security testing
62.
small-scale fire testing
63.
software testing
64.
software-in-the-loop (SIL) testing
65.
stand-alone testing
66.
stress-testing
67.
substation testing methods
68.
system testing
69.
tensile testing
70.
testing
71.
testing methods
72.
testing of digital devices
73.
testing of generator
74.
testing of phasor measurement units
75.
two-dimensional array testing
76.
wafer testing
77.
wear testing
78.
vibration testing
79.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT