Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
metamorphic testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/83)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Iterative optimization of hyperparameter-based metamorphic transformations
Sudheerbabu, Gaadha
;
Ahmad, Tanwir
;
Truscan, Dragos
;
Vain, Jüri
;
Porres, Ivan
2024 IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops (ICSTW)
2024
/
p. 13-20
https://doi.org/10.1109/ICSTW60967.2024.00016
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Metamorphic testing for verification and fault localization in industrial control systems
Sudheerbabu, Gaadha
;
Ahmad, Tanwir
;
Truscan, Dragos
;
Vain, Jüri
CyberSecurity in a DevOps Environment: From Requirements to Monitoring
2023
/
p. 127 - 159
https://doi.org/10.1007/978-3-031-42212-6_5
Article at Scopus
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
A two-phase metamorphic approach for testing industrial control systems
Sudheerbabu, Gaadha
;
Ahmad, Tanwir
;
Sebek, Filip
;
Truscan, Dragos
;
Vain, Jüri
;
Porres, Ivan
2022 IEEE 27th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA) : proceedings
2022
/
4 p
https://doi.org/10.1109/ETFA52439.2022.9921439
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
83
1.
metamorphic testing
2.
accelerated testing
3.
acoustomechanical testing
4.
anaerobic testing
5.
aspect-oriented testing
6.
assessment and testing
7.
at-speed testing
8.
benchmark testing
9.
Berridge testing
10.
burst testing
11.
cancer genomic testing
12.
compliance testing
13.
compositional testing
14.
computer aided testing
15.
cone heater testing
16.
conformance testing
17.
courses on electronic testing and design
18.
cybersecurity testing
19.
D. non-destructive testing
20.
deformation testing
21.
design field testing
22.
destructive testing
23.
eddy current testing
24.
eddy current testing (ECT)
25.
erosion testing
26.
fatigue testing
27.
fire testing
28.
hierarchical testing
29.
hypotheses testing
30.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
31.
integration testing
32.
laboratory scale testing
33.
load testing
34.
macro mechanical testing and green surface tribology
35.
material testing
36.
materials testing
37.
measurement and testing
38.
mechanical testing
39.
memory testing
40.
microprocessor testing
41.
model based testing
42.
model-based mutation testing
43.
model-based testing
44.
mutation testing
45.
network-testing
46.
non destructive testing
47.
nondestructive testing
48.
non-destructive testing
49.
on-site testing
50.
pin on disc wear testing
51.
PMU calibration testing
52.
PMU testing
53.
point-of-care testing
54.
processor core testing
55.
processor testing
56.
real-time HiL testing
57.
regression testing
58.
RISC processor testing
59.
robustness testing
60.
safety and security testing
61.
scenario testing
62.
scratch testing
63.
security testing
64.
shear testing
65.
small-scale fire testing
66.
software testing
67.
software-in-the-loop (SIL) testing
68.
stand-alone testing
69.
stress-testing
70.
substation testing methods
71.
system testing
72.
tensile testing
73.
testing
74.
testing methods
75.
testing of digital devices
76.
testing of generator
77.
testing of phasor measurement units
78.
two-dimensional array testing
79.
ultrasonic testing
80.
wafer testing
81.
wear testing
82.
vibration testing
83.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT