Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
microprocessor testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
4
Vaata veel..
(1/89)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(4)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
High-level fault diagnosis in RISC processors with Implementation-Independent Functional Test
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) : Nicosia, Cyprus : 04-06 July 2022
2022
/
p. 32-37
https://doi.org/10.1109/ISVLSI54635.2022.00019
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Implementation-independent functional test generation for RISC microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]
2019
/
p. 82-87 : ill
https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920323
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Minimization of the high-level fault model for microprocessor control parts [Online resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Medaiyese, Olusiji
BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018
2018
/
4 p.: ill
https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600980
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
On test generation for microprocessors for extended class of functional faults
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC: New technology enabler : 27th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019 Cusco, Peru, October 6–9, 2019 : Revised and Extended Selected Papers
2020
/
p. 21-44
https://doi.org/10.1007/978-3-030-53273-4
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Kirjeid leitud 4, kuvan
1 - 4
võtmesõna
89
1.
microprocessor testing
2.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
3.
microprocessor
4.
microprocessor architecture
5.
microprocessor chips
6.
microprocessor systems
7.
microprocessor test
8.
shakti microprocessor
9.
accelerated testing
10.
acoustomechanical testing
11.
anaerobic testing
12.
aspect-oriented testing
13.
assessment and testing
14.
at-speed testing
15.
benchmark testing
16.
Berridge testing
17.
burst testing
18.
cancer genomic testing
19.
compliance testing
20.
compositional testing
21.
computer aided testing
22.
cone heater testing
23.
conformance testing
24.
courses on electronic testing and design
25.
cybersecurity testing
26.
D. non-destructive testing
27.
deformation testing
28.
design field testing
29.
destructive testing
30.
eddy current testing
31.
eddy current testing (ECT)
32.
erosion testing
33.
fatigue testing
34.
fire testing
35.
hierarchical testing
36.
hypotheses testing
37.
integration testing
38.
laboratory scale testing
39.
load testing
40.
macro mechanical testing and green surface tribology
41.
material testing
42.
materials testing
43.
measurement and testing
44.
mechanical testing
45.
memory testing
46.
metamorphic testing
47.
model based testing
48.
model-based mutation testing
49.
model-based testing
50.
mutation testing
51.
network-testing
52.
non destructive testing
53.
nondestructive testing
54.
non-destructive testing
55.
on-site testing
56.
pin on disc wear testing
57.
PMU calibration testing
58.
PMU testing
59.
point-of-care testing
60.
processor core testing
61.
processor testing
62.
real-time HiL testing
63.
regression testing
64.
RISC processor testing
65.
robustness testing
66.
safety and security testing
67.
scenario testing
68.
scratch testing
69.
security testing
70.
shear testing
71.
small-scale fire testing
72.
software testing
73.
software-in-the-loop (SIL) testing
74.
stand-alone testing
75.
stress-testing
76.
substation testing methods
77.
system testing
78.
tensile testing
79.
testing
80.
testing methods
81.
testing of digital devices
82.
testing of generator
83.
testing of phasor measurement units
84.
two-dimensional array testing
85.
ultrasonic testing
86.
wafer testing
87.
wear testing
88.
vibration testing
89.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT