Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
test reference year (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(2/159)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Development of weighting factors for climate variables for selecting the energy reference year according to the EN ISO 15927-4 standard
Kalamees, Targo
;
Jylhä, Kirsti
;
Tietäväinen, Hanna
;
Jokisalo, Juha
;
Ilomets, Simo
;
Hyvönen, Reijo
;
Saku, Seppo
Energy and buildings
2012
/
p. 53-60
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0378778811005779
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas
New typical meteorological year generation method based on long-term building energy simulations
Seyed Salehi, Seyed Shahabaldin
;
Kalamees, Targo
;
Kurnitski, Jarek
;
Thalfeldt, Martin
Building and environment
2024
/
art. 111504
https://doi.org/10.1016/j.buildenv.2024.111504
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
157
1.
test reference year
2.
Common European Framework of Reference for Languages
3.
digital reference
4.
dq reference frame
5.
European reference room
6.
European Vertical Reference System (EVRS)
7.
GNSS virtual reference station
8.
gravity reference frame
9.
height reference systems
10.
HL7 Version 3: Reference Information Model (RIM)
11.
model reference adaptive control
12.
model reference controller
13.
multi-loop model reference control
14.
openEHR RM (Reference Model)
15.
reference
16.
reference architecture
17.
reference discovery
18.
reference images
19.
reference intervals
20.
reference lakes
21.
reference model
22.
supply chain operations reference (SCOR)
23.
supply chain operations reference (SCOR) model
24.
synchronous reference frame theory
25.
vertical reference
26.
vertical reference datum
27.
accelerated shelf-life test
28.
adaptive test strategy generation
29.
antigen test
30.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
31.
automated test environment
32.
automated test pattern generation
33.
automatic test case generation
34.
automatic test pattern generation
35.
automatic test program generation
36.
Auvergne test-bed
37.
battery test
38.
behavioral test
39.
behaviour level test generation
40.
bending test
41.
bit-error rate test
42.
Board and System Test
43.
board test
44.
bounds test
45.
built-in self-test
46.
capillary condensation redistribution test
47.
chi-square test
48.
closed bottle test
49.
cognitive screening test
50.
compartment fire test
51.
compartment test
52.
cone penetration test (CPT)
53.
COVID-19 antigen test
54.
cutting test
55.
cybersecurity test bed
56.
DDR4 interconnect test
57.
design and test
58.
design-for-test
59.
deterministic test sequences
60.
diagnostic test
61.
digital test
62.
Digital test and testable design
63.
double-pulse test
64.
drawing test
65.
dry droplet antimicrobial test
66.
embedded test
67.
fan pressurisation test
68.
final test result prediction
69.
four-point bending test
70.
FPGA based test
71.
FPGA-Assisted Test
72.
FPGA-centric test
73.
functional self-test
74.
functional test generation
75.
Granger causality test
76.
hardness test
77.
high-level synthesis for test
78.
high-level test data generation
79.
highlevel test generation
80.
high-speed serial link test
81.
IEEE 9 bus test system
82.
implementation-independent test generation
83.
in situ tensile test in SEM
84.
industrial field test
85.
in-situ tensile test in SEM
86.
Johansen cointegration test
87.
Kolmogorov-Smirnov test
88.
load test
89.
logic built-in self-test
90.
Luria alternating series test
91.
Mann–Kendall test
92.
memory interconnect test
93.
microprocessor test
94.
Model test
95.
multiplier test
96.
offline test generation
97.
orthogonal test
98.
package test analysis
99.
parallel design and test
100.
performance test
101.
piezocone penetration test (CPTu)
102.
Point Load Test index
103.
pressurisation test
104.
processor-centric board test
105.
progressive damage test
106.
provably correct test generation
107.
pseudo-exhaustive test
108.
purity test
109.
rtioco-based timed test sequences
110.
seasonal Mann Kendall test
111.
seismic piezocone penetration test
112.
self-test
113.
self-test architectures
114.
sentence writing test
115.
serial sevens test
116.
ship towing test tank
117.
similar material simulation test
118.
small‐scale test
119.
software based self-test
120.
software-based self-test
121.
software-based self-test (SBST)
122.
soil phosphorus (P) test
123.
standard test method
124.
static load test
125.
static-dynamic probing test (SDT)
126.
stress test
127.
system level test
128.
teaching design and test of systems
129.
tensile test
130.
test
131.
test and evaluation platform
132.
test bench
133.
test coverage
134.
test driven development
135.
test driven modelling
136.
test embankment
137.
test equipment
138.
test generation
139.
test generation and fault diagnosis
140.
test groups
141.
test model design
142.
test optimization
143.
test packets
144.
test path synthesis
145.
test patterns
146.
test point insertion
147.
test program generation
148.
test replication
149.
test scenario description language
150.
test-bed
151.
test-chips
152.
test-house
153.
test-pattern
154.
test-suite reduction
155.
Three-point bending test
156.
unit root test
157.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT