Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
test equipment (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
4
Vaata veel..
(2/146)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(4)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Dynamic control system for electric motor drive testing on the test bench
Rassõlkin, Anton
;
Kallaste, Ants
;
Vaimann, Toomas
2015 9th International Conference on Compatibility and Power Electronics (CPE) : proceedings : Faculty of Science and Technology (FCT), Caparica, Lisbon, Portugal, 24-26 June, 2015
2015
/
p. 252-257 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/CPE.2015.7231082
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
A library of samples for testing variable load electric drives
Liivik, Liisa
;
Vodovozov, Valery
;
Rassõlkin, Anton
Digest book and electronic proceedings : 54th International Scientific Conference of Riga Technical University : Section of Power and Electrical Engineering
2013
/
p. 12.1-12.6 : ill
artikkel kogumikus
3
artikkel ajakirjas
Run-time reconfigurable instruments for advanced board-level testing
Aleksejev, Igor
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
IEEE instrumentation & measurement magazine
2017
/
p. 23-30 : ill
https://doi.org/10.1109/MIM.2017.8006390
artikkel ajakirjas
4
artikkel kogumikus
Study of e-vehicle drive behaviour under changeable control
Rassõlkin, Anton
;
Vodovozov, Valery
;
Raud, Zoja
Digest book and electronic proceedings : 54th International Scientific Conference of Riga Technical University : Section of Power and Electrical Engineering
2013
/
p. 13.1-13.5 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 4, kuvan
1 - 4
võtmesõna
144
1.
test equipment
2.
bakery equipment
3.
hydraulic equipment
4.
manufacturing equipment
5.
material handling equipment
6.
optical communication equipment
7.
overall equipment effectiveness
8.
overall equipment efficiency
9.
power quality measurement equipment
10.
price-sensitive model of flexible equipment
11.
technological equipment
12.
used equipment
13.
used industrial equipment
14.
accelerated shelf-life test
15.
adaptive test strategy generation
16.
antigen test
17.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
18.
automated test environment
19.
automated test pattern generation
20.
automatic test case generation
21.
automatic test pattern generation
22.
automatic test program generation
23.
Auvergne test-bed
24.
battery test
25.
behavioral test
26.
behaviour level test generation
27.
bending test
28.
bit-error rate test
29.
Board and System Test
30.
board test
31.
bounds test
32.
built-in self-test
33.
capillary condensation redistribution test
34.
chi-square test
35.
closed bottle test
36.
cognitive screening test
37.
compartment fire test
38.
compartment test
39.
cone penetration test (CPT)
40.
COVID-19 antigen test
41.
cutting test
42.
cybersecurity test bed
43.
DDR4 interconnect test
44.
design and test
45.
design-for-test
46.
deterministic test sequences
47.
diagnostic test
48.
digital test
49.
Digital test and testable design
50.
double-pulse test
51.
drawing test
52.
dry droplet antimicrobial test
53.
embedded test
54.
fan pressurisation test
55.
final test result prediction
56.
four-point bending test
57.
FPGA based test
58.
FPGA-Assisted Test
59.
FPGA-centric test
60.
functional self-test
61.
functional test generation
62.
Granger causality test
63.
hardness test
64.
high-level synthesis for test
65.
high-level test data generation
66.
highlevel test generation
67.
high-speed serial link test
68.
IEEE 9 bus test system
69.
implementation-independent test generation
70.
in situ tensile test in SEM
71.
industrial field test
72.
in-situ tensile test in SEM
73.
Johansen cointegration test
74.
Kolmogorov-Smirnov test
75.
load test
76.
logic built-in self-test
77.
Luria alternating series test
78.
Mann–Kendall test
79.
memory interconnect test
80.
microprocessor test
81.
Model test
82.
multiplier test
83.
offline test generation
84.
orthogonal test
85.
package test analysis
86.
parallel design and test
87.
performance test
88.
piezocone penetration test (CPTu)
89.
Point Load Test index
90.
pressurisation test
91.
processor-centric board test
92.
progressive damage test
93.
provably correct test generation
94.
pseudo-exhaustive test
95.
purity test
96.
rtioco-based timed test sequences
97.
seasonal Mann Kendall test
98.
seismic piezocone penetration test
99.
self-test
100.
self-test architectures
101.
sentence writing test
102.
serial sevens test
103.
ship towing test tank
104.
similar material simulation test
105.
small‐scale test
106.
software based self-test
107.
software-based self-test
108.
software-based self-test (SBST)
109.
soil phosphorus (P) test
110.
standard test method
111.
static load test
112.
static-dynamic probing test (SDT)
113.
stress test
114.
system level test
115.
teaching design and test of systems
116.
tensile test
117.
test
118.
test and evaluation platform
119.
test bench
120.
test coverage
121.
test driven development
122.
test driven modelling
123.
test embankment
124.
test generation
125.
test generation and fault diagnosis
126.
test groups
127.
test model design
128.
test optimization
129.
test packets
130.
test path synthesis
131.
test patterns
132.
test point insertion
133.
test program generation
134.
test reference year
135.
test replication
136.
test scenario description language
137.
test-bed
138.
test-chips
139.
test-house
140.
test-pattern
141.
test-suite reduction
142.
Three-point bending test
143.
unit root test
144.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT