Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
test equipment (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
4
Vaata veel..
(2/149)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(4)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Dynamic control system for electric motor drive testing on the test bench
Rassõlkin, Anton
;
Kallaste, Ants
;
Vaimann, Toomas
2015 9th International Conference on Compatibility and Power Electronics (CPE) : proceedings : Faculty of Science and Technology (FCT), Caparica, Lisbon, Portugal, 24-26 June, 2015
2015
/
p. 252-257 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/CPE.2015.7231082
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
A library of samples for testing variable load electric drives
Liivik, Liisa
;
Vodovozov, Valery
;
Rassõlkin, Anton
Digest book and electronic proceedings : 54th International Scientific Conference of Riga Technical University : Section of Power and Electrical Engineering
2013
/
p. 12.1-12.6 : ill
artikkel kogumikus
3
artikkel ajakirjas
Run-time reconfigurable instruments for advanced board-level testing
Aleksejev, Igor
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
IEEE instrumentation & measurement magazine
2017
/
p. 23-30 : ill
https://doi.org/10.1109/MIM.2017.8006390
artikkel ajakirjas
4
artikkel kogumikus
Study of e-vehicle drive behaviour under changeable control
Rassõlkin, Anton
;
Vodovozov, Valery
;
Raud, Zoja
Digest book and electronic proceedings : 54th International Scientific Conference of Riga Technical University : Section of Power and Electrical Engineering
2013
/
p. 13.1-13.5 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 4, kuvan
1 - 4
võtmesõna
147
1.
test equipment
2.
bakery equipment
3.
hydraulic equipment
4.
manufacturing equipment
5.
material handling equipment
6.
optical communication equipment
7.
overall equipment effectiveness
8.
overall equipment effectiveness (OEE)
9.
overall equipment efficiency
10.
power quality measurement equipment
11.
price-sensitive model of flexible equipment
12.
technological equipment
13.
used equipment
14.
used industrial equipment
15.
virtual equipment
16.
accelerated shelf-life test
17.
adaptive test strategy generation
18.
antigen test
19.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
20.
automated test environment
21.
automated test pattern generation
22.
automatic test case generation
23.
automatic test pattern generation
24.
automatic test program generation
25.
Auvergne test-bed
26.
battery test
27.
behavioral test
28.
behaviour level test generation
29.
bending test
30.
bit-error rate test
31.
Board and System Test
32.
board test
33.
bounds test
34.
built-in self-test
35.
capillary condensation redistribution test
36.
chi-square test
37.
closed bottle test
38.
cognitive screening test
39.
compartment fire test
40.
compartment test
41.
cone penetration test (CPT)
42.
COVID-19 antigen test
43.
cutting test
44.
cybersecurity test bed
45.
DDR4 interconnect test
46.
design and test
47.
design-for-test
48.
deterministic test sequences
49.
diagnostic test
50.
digital test
51.
Digital test and testable design
52.
double-pulse test
53.
drawing test
54.
dry droplet antimicrobial test
55.
embedded test
56.
fan pressurisation test
57.
final test result prediction
58.
four-point bending test
59.
FPGA based test
60.
FPGA-Assisted Test
61.
FPGA-centric test
62.
functional self-test
63.
functional test generation
64.
Granger causality test
65.
hardness test
66.
high-level synthesis for test
67.
high-level test data generation
68.
highlevel test generation
69.
high-speed serial link test
70.
IEEE 9 bus test system
71.
implementation-independent test generation
72.
in situ tensile test in SEM
73.
industrial field test
74.
in-situ tensile test in SEM
75.
Johansen cointegration test
76.
Kolmogorov-Smirnov test
77.
load test
78.
logic built-in self-test
79.
Luria alternating series test
80.
Mann–Kendall test
81.
memory interconnect test
82.
microprocessor test
83.
Model test
84.
multiplier test
85.
offline test generation
86.
orthogonal test
87.
package test analysis
88.
parallel design and test
89.
performance test
90.
piezocone penetration test (CPTu)
91.
Point Load Test index
92.
pressurisation test
93.
processor-centric board test
94.
progressive damage test
95.
provably correct test generation
96.
pseudo-exhaustive test
97.
purity test
98.
rtioco-based timed test sequences
99.
seasonal Mann Kendall test
100.
seismic piezocone penetration test
101.
self-test
102.
self-test architectures
103.
sentence writing test
104.
serial sevens test
105.
ship towing test tank
106.
similar material simulation test
107.
small-scale fire test
108.
small‐scale test
109.
software based self-test
110.
software-based self-test
111.
software-based self-test (SBST)
112.
soil phosphorus (P) test
113.
standard test method
114.
static load test
115.
static-dynamic probing test (SDT)
116.
stress test
117.
system level test
118.
teaching design and test of systems
119.
tensile test
120.
test
121.
test and evaluation platform
122.
test bench
123.
test coverage
124.
test driven development
125.
test driven modelling
126.
test embankment
127.
test generation
128.
test generation and fault diagnosis
129.
test groups
130.
test model design
131.
test optimization
132.
test packets
133.
test path synthesis
134.
test patterns
135.
test point insertion
136.
test program generation
137.
test reference year
138.
test replication
139.
test scenario description language
140.
test-bed
141.
test-chips
142.
test-house
143.
test-pattern
144.
test-suite reduction
145.
Three-point bending test
146.
unit root test
147.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT