Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
FPGA based test (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
sõna
algab
täpne vaste
vabatekst
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(2/163)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
A new FPGA-based detection method for spurious variations in PCBA power distribution network
Odintsov, Sergei
;
Bozzoli, Ludovica
;
De Sio, Corrado
;
Sterpone, Luca
;
Jutman, Artur
2019 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/DDECS.2019.8724662
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
161
1.
FPGA based test
2.
FPGA-Assisted Test
3.
FPGA-centric test
4.
FPGA based lab kit
5.
FPGA-based development boards
6.
FPGA-based prototyping
7.
Automated Synthesis of Software-based Self-test
8.
rtioco-based timed test sequences
9.
software based self-test
10.
software-based self-test
11.
software-based self-test (SBST)
12.
Field Programmable Gate Array (FPGA)
13.
Field-Programmable Gate Array (FPGA)
14.
field-programmable gate arrays (FPGA)
15.
FPGA
16.
FPGA (field-programmable gate array)
17.
FPGA implementation
18.
FPGA redaction
19.
FPGA/PSoC design
20.
FPGA-Embedded Instrument
21.
Opal Kelly field programmable gate array (FPGA)
22.
recycled FPGA detection
23.
SoC FPGA
24.
accelerated shelf-life test
25.
adaptive test strategy generation
26.
antigen test
27.
Applications in Test Engineering
28.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
29.
automated test environment
30.
automated test pattern generation
31.
automatic test case generation
32.
automatic test pattern generation
33.
automatic test program generation
34.
Auvergne test-bed
35.
battery test
36.
behavioral test
37.
behaviour level test generation
38.
bending test
39.
bit-error rate test
40.
Board and System Test
41.
board test
42.
bounds test
43.
built-in self-test
44.
capillary condensation redistribution test
45.
chi-square test
46.
closed bottle test
47.
cognitive screening test
48.
compartment fire test
49.
compartment test
50.
cone penetration test (CPT)
51.
COVID-19 antigen test
52.
cutting test
53.
cybersecurity test bed
54.
DDR4 interconnect test
55.
design and test
56.
design-for-test
57.
deterministic test sequences
58.
diagnostic test
59.
digital test
60.
Digital test and testable design
61.
double-pulse test
62.
drawing test
63.
dry droplet antimicrobial test
64.
Embedded figures test
65.
embedded test
66.
fan pressurisation test
67.
final test result prediction
68.
four-point bending test
69.
functional self-test
70.
functional test generation
71.
Granger causality test
72.
hardness test
73.
Hierarchical Multi-level Test Generation
74.
high-level synthesis for test
75.
high-level test data generation
76.
highlevel test generation
77.
high-speed serial link test
78.
IEEE 9 bus test system
79.
implementation-independent test generation
80.
in situ tensile test in SEM
81.
industrial field test
82.
in-situ tensile test in SEM
83.
Johansen cointegration test
84.
Kolmogorov-Smirnov test
85.
load test
86.
logic built-in self-test
87.
Luria alternating series test
88.
Mann–Kendall test
89.
Mann-Kendall trend test
90.
memory interconnect test
91.
microprocessor test
92.
Model test
93.
multiplier test
94.
offline test generation
95.
orthogonal test
96.
package test analysis
97.
parallel design and test
98.
performance test
99.
piezocone penetration test (CPTu)
100.
Point Load Test index
101.
pressurisation test
102.
processor-centric board test
103.
progressive damage test
104.
Provably Correct Test Development
105.
provably correct test generation
106.
pseudo-exhaustive test
107.
purity test
108.
real-time room temperature test
109.
rolling thin film oven test
110.
seasonal Mann Kendall test
111.
seismic piezocone penetration test
112.
self-test
113.
self-test architectures
114.
sentence writing test
115.
serial sevens test
116.
ship towing test tank
117.
similar material simulation test
118.
small-scale fire test
119.
small‐scale test
120.
soil phosphorus (P) test
121.
standard test method
122.
static load test
123.
static-dynamic probing test (SDT)
124.
stress test
125.
system level test
126.
teaching design and test of systems
127.
tensile test
128.
tensile test
129.
test
130.
Test Adapters
131.
test and evaluation platform
132.
test automation
133.
test bench
134.
test coverage
135.
test driven development
136.
test driven modelling
137.
test embankment
138.
test equipment
139.
test generation
140.
test generation and fault diagnosis
141.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
142.
test groups
143.
test model design
144.
test optimization
145.
test packets
146.
test path synthesis
147.
test patterns
148.
test point insertion
149.
test program generation
150.
test reference year
151.
test replication
152.
test scenario description language
153.
test-bed
154.
test-chips
155.
test-house
156.
test-pattern
157.
test-suite reduction
158.
Three-point bending test
159.
unit root test
160.
usability platform test
161.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT