Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
wafer testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/74)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Wafer-level die re-test success prediction using machine learning
Selg, Hardi
;
Jenihhin, Maksim
;
Ellervee, Peeter
21st IEEE Latin-American Test Symposium (LATS) 2020 : proceedings
2020
/
5 p
https://doi.org/10.1109/LATS49555.2020.9093672
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
74
1.
wafer testing
2.
wafer bonding/diffusion welding
3.
accelerated testing
4.
acoustomechanical testing
5.
anaerobic testing
6.
aspect-oriented testing
7.
at-speed testing
8.
benchmark testing
9.
Berridge testing
10.
cancer genomic testing
11.
compliance testing
12.
compositional testing
13.
computer aided testing
14.
conformance testing
15.
courses on electronic testing and design
16.
cybersecurity testing
17.
D. non-destructive testing
18.
design field testing
19.
eddy current testing
20.
erosion testing
21.
fatigue testing
22.
fire testing
23.
hierarchical testing
24.
hypotheses testing
25.
integration testing
26.
laboratory scale testing
27.
load testing
28.
macro mechanical testing and green surface tribology
29.
material testing
30.
materials testing
31.
measurement and testing
32.
mechanical testing
33.
memory testing
34.
metamorphic testing
35.
microprocessor testing
36.
model based testing
37.
model-based mutation testing
38.
model-based testing
39.
mutation testing
40.
network-testing
41.
non destructive testing
42.
nondestructive testing
43.
non-destructive testing
44.
on-site testing
45.
pin on disc wear testing
46.
PMU calibration testing
47.
PMU testing
48.
point-of-care testing
49.
processor core testing
50.
processor testing
51.
real-time HiL testing
52.
regression testing
53.
RISC processor testing
54.
robustness testing
55.
scenario testing
56.
scratch testing
57.
security testing
58.
small-scale fire testing
59.
software testing
60.
software-in-the-loop (SIL) testing
61.
stand-alone testing
62.
stress-testing
63.
substation testing methods
64.
system testing
65.
tensile testing
66.
testing
67.
testing methods
68.
testing of digital devices
69.
testing of generator
70.
testing of phasor measurement units
71.
two-dimensional array testing
72.
wear testing
73.
vibration testing
74.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT