Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
metamorphic testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/81)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Iterative optimization of hyperparameter-based metamorphic transformations
Sudheerbabu, Gaadha
;
Ahmad, Tanwir
;
Truscan, Dragos
;
Vain, Jüri
;
Porres, Ivan
2024 IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops (ICSTW)
2024
/
p. 13-20
https://doi.org/10.1109/ICSTW60967.2024.00016
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Metamorphic testing for verification and fault localization in industrial control systems
Sudheerbabu, Gaadha
;
Ahmad, Tanwir
;
Truscan, Dragos
;
Vain, Jüri
CyberSecurity in a DevOps Environment: From Requirements to Monitoring
2023
/
p. 127 - 159
https://doi.org/10.1007/978-3-031-42212-6_5
Article at Scopus
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
A two-phase metamorphic approach for testing industrial control systems
Sudheerbabu, Gaadha
;
Ahmad, Tanwir
;
Sebek, Filip
;
Truscan, Dragos
;
Vain, Jüri
;
Porres, Ivan
2022 IEEE 27th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA) : proceedings
2022
/
4 p
https://doi.org/10.1109/ETFA52439.2022.9921439
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
81
1.
metamorphic testing
2.
accelerated testing
3.
acoustomechanical testing
4.
anaerobic testing
5.
aspect-oriented testing
6.
assessment and testing
7.
at-speed testing
8.
benchmark testing
9.
Berridge testing
10.
burst testing
11.
cancer genomic testing
12.
compliance testing
13.
compositional testing
14.
computer aided testing
15.
conformance testing
16.
courses on electronic testing and design
17.
cybersecurity testing
18.
D. non-destructive testing
19.
deformation testing
20.
design field testing
21.
destructive testing
22.
eddy current testing
23.
eddy current testing (ECT)
24.
erosion testing
25.
fatigue testing
26.
fire testing
27.
hierarchical testing
28.
hypotheses testing
29.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
30.
integration testing
31.
laboratory scale testing
32.
load testing
33.
macro mechanical testing and green surface tribology
34.
material testing
35.
materials testing
36.
measurement and testing
37.
mechanical testing
38.
memory testing
39.
microprocessor testing
40.
model based testing
41.
model-based mutation testing
42.
model-based testing
43.
mutation testing
44.
network-testing
45.
non destructive testing
46.
nondestructive testing
47.
non-destructive testing
48.
on-site testing
49.
pin on disc wear testing
50.
PMU calibration testing
51.
PMU testing
52.
point-of-care testing
53.
processor core testing
54.
processor testing
55.
real-time HiL testing
56.
regression testing
57.
RISC processor testing
58.
robustness testing
59.
safety and security testing
60.
scenario testing
61.
scratch testing
62.
security testing
63.
small-scale fire testing
64.
software testing
65.
software-in-the-loop (SIL) testing
66.
stand-alone testing
67.
stress-testing
68.
substation testing methods
69.
system testing
70.
tensile testing
71.
testing
72.
testing methods
73.
testing of digital devices
74.
testing of generator
75.
testing of phasor measurement units
76.
two-dimensional array testing
77.
ultrasonic testing
78.
wafer testing
79.
wear testing
80.
vibration testing
81.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT