Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
test reference year (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(2/158)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Development of weighting factors for climate variables for selecting the energy reference year according to the EN ISO 15927-4 standard
Kalamees, Targo
;
Jylhä, Kirsti
;
Tietäväinen, Hanna
;
Jokisalo, Juha
;
Ilomets, Simo
;
Hyvönen, Reijo
;
Saku, Seppo
Energy and buildings
2012
/
p. 53-60
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas
New typical meteorological year generation method based on long-term building energy simulations
Seyed Salehi, Seyed Shahabaldin
;
Kalamees, Targo
;
Kurnitski, Jarek
;
Thalfeldt, Martin
Building and environment
2024
/
art. 111504
https://doi.org/10.1016/j.buildenv.2024.111504
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
156
1.
test reference year
2.
Common European Framework of Reference for Languages
3.
digital reference
4.
dq reference frame
5.
European reference room
6.
European Vertical Reference System (EVRS)
7.
GNSS virtual reference station
8.
gravity reference frame
9.
height reference systems
10.
HL7 Version 3: Reference Information Model (RIM)
11.
model reference adaptive control
12.
model reference controller
13.
multi-loop model reference control
14.
openEHR RM (Reference Model)
15.
reference
16.
reference architecture
17.
reference discovery
18.
reference images
19.
reference intervals
20.
reference lakes
21.
reference model
22.
supply chain operations reference (SCOR) model
23.
synchronous reference frame theory
24.
vertical reference
25.
vertical reference datum
26.
accelerated shelf-life test
27.
adaptive test strategy generation
28.
antigen test
29.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
30.
automated test environment
31.
automated test pattern generation
32.
automatic test case generation
33.
automatic test pattern generation
34.
automatic test program generation
35.
Auvergne test-bed
36.
battery test
37.
behavioral test
38.
behaviour level test generation
39.
bending test
40.
bit-error rate test
41.
Board and System Test
42.
board test
43.
bounds test
44.
built-in self-test
45.
capillary condensation redistribution test
46.
chi-square test
47.
closed bottle test
48.
cognitive screening test
49.
compartment fire test
50.
compartment test
51.
cone penetration test (CPT)
52.
COVID-19 antigen test
53.
cutting test
54.
cybersecurity test bed
55.
DDR4 interconnect test
56.
design and test
57.
design-for-test
58.
deterministic test sequences
59.
diagnostic test
60.
digital test
61.
Digital test and testable design
62.
double-pulse test
63.
drawing test
64.
dry droplet antimicrobial test
65.
embedded test
66.
fan pressurisation test
67.
final test result prediction
68.
four-point bending test
69.
FPGA based test
70.
FPGA-Assisted Test
71.
FPGA-centric test
72.
functional self-test
73.
functional test generation
74.
Granger causality test
75.
hardness test
76.
high-level synthesis for test
77.
high-level test data generation
78.
highlevel test generation
79.
high-speed serial link test
80.
IEEE 9 bus test system
81.
implementation-independent test generation
82.
in situ tensile test in SEM
83.
industrial field test
84.
in-situ tensile test in SEM
85.
Johansen cointegration test
86.
Kolmogorov-Smirnov test
87.
load test
88.
logic built-in self-test
89.
Luria alternating series test
90.
Mann–Kendall test
91.
memory interconnect test
92.
microprocessor test
93.
Model test
94.
multiplier test
95.
offline test generation
96.
orthogonal test
97.
package test analysis
98.
parallel design and test
99.
performance test
100.
piezocone penetration test (CPTu)
101.
Point Load Test index
102.
pressurisation test
103.
processor-centric board test
104.
progressive damage test
105.
provably correct test generation
106.
pseudo-exhaustive test
107.
purity test
108.
rtioco-based timed test sequences
109.
seasonal Mann Kendall test
110.
seismic piezocone penetration test
111.
self-test
112.
self-test architectures
113.
sentence writing test
114.
serial sevens test
115.
ship towing test tank
116.
similar material simulation test
117.
small‐scale test
118.
software based self-test
119.
software-based self-test
120.
software-based self-test (SBST)
121.
soil phosphorus (P) test
122.
standard test method
123.
static load test
124.
static-dynamic probing test (SDT)
125.
stress test
126.
system level test
127.
teaching design and test of systems
128.
tensile test
129.
test
130.
test and evaluation platform
131.
test bench
132.
test coverage
133.
test driven development
134.
test driven modelling
135.
test embankment
136.
test equipment
137.
test generation
138.
test generation and fault diagnosis
139.
test groups
140.
test model design
141.
test optimization
142.
test packets
143.
test path synthesis
144.
test patterns
145.
test point insertion
146.
test program generation
147.
test replication
148.
test scenario description language
149.
test-bed
150.
test-chips
151.
test-house
152.
test-pattern
153.
test-suite reduction
154.
Three-point bending test
155.
unit root test
156.
1995 ECC benchmark test
märksõna
2
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
16PF (test)
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT