Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Handbook of testing electronic systems (allikas)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
4
Vaata veel..
(1/78)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(4)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Defects, faults and fault models
Gramatova, Elena
;
Fisherova, Maria
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Pleskacz, Witold A.
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 26-96 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Test generation techniques and algorithms
Ubar, Raimund-Johannes
;
Gramatova, Elena
;
Fisherova, Maria
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 99-173 : ill
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Testing tools
Jutman, Artur
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 361-365 : ill
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Testing tools
Raik, Jaan
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 373-378 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 4, kuvan
1 - 4
võtmesõna
78
1.
courses on electronic testing and design
2.
Electronic Document and Records Management Systems (EDRMS)
3.
electronic payment systems
4.
nano-electronic systems design
5.
handbook
6.
MIL-HDBK-217F handbook
7.
accelerated testing
8.
acoustomechanical testing
9.
anaerobic testing
10.
aspect-oriented testing
11.
at-speed testing
12.
benchmark testing
13.
Berridge testing
14.
cancer genomic testing
15.
compliance testing
16.
compositional testing
17.
computer aided testing
18.
conformance testing
19.
cybersecurity testing
20.
D. non-destructive testing
21.
design field testing
22.
eddy current testing
23.
erosion testing
24.
fatigue testing
25.
fire testing
26.
hierarchical testing
27.
hypotheses testing
28.
integration testing
29.
laboratory scale testing
30.
load testing
31.
macro mechanical testing and green surface tribology
32.
material testing
33.
materials testing
34.
measurement and testing
35.
mechanical testing
36.
memory testing
37.
metamorphic testing
38.
microprocessor testing
39.
model based testing
40.
model-based mutation testing
41.
model-based testing
42.
mutation testing
43.
network-testing
44.
non destructive testing
45.
nondestructive testing
46.
non-destructive testing
47.
on-site testing
48.
pin on disc wear testing
49.
PMU calibration testing
50.
PMU testing
51.
point-of-care testing
52.
processor core testing
53.
processor testing
54.
real-time HiL testing
55.
regression testing
56.
RISC processor testing
57.
robustness testing
58.
scenario testing
59.
scratch testing
60.
security testing
61.
small-scale fire testing
62.
software testing
63.
software-in-the-loop (SIL) testing
64.
stand-alone testing
65.
stress-testing
66.
substation testing methods
67.
system testing
68.
tensile testing
69.
testing
70.
testing methods
71.
testing of digital devices
72.
testing of generator
73.
testing of phasor measurement units
74.
two-dimensional array testing
75.
wafer testing
76.
wear testing
77.
vibration testing
78.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT