On the reuse of TLM mutation analysis at RTL
autor
Guarnieri, Valerio
Hantson, Hanno
Raik, Jaan
Jenihhin, Maksim
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Valerio Guarnieri, ... Hanno Hantson, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar [et al.]
allikas
Journal of electronic testing : theory and applications
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 28, 4
ilmumisaasta
2012
leheküljed
p. 435-448 : ill
leitav
https://link.springer.com/article/10.1007/s10836-012-5303-6
märksõna
mutatsioonid
testimine
analüüs
riistvara
võtmesõna
mutation analysis
mutation testing
systemC
transaction-level modeling
register-transfer level
ISSN
0923-8174
märkused
Bibliogr.: 35 ref
keel
inglise