Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
mutation testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/97)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Beyond the Happy Path : A Safety-Critical Audit Methodology for Estonia’s I-Voting Processing Application
Treier, Tarvo
IEEE Access
2025
/
p. 203429-203443 : ill
https://doi.org//10.1109/ACCESS.2025.3638663
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas
On the reuse of TLM mutation analysis at RTL
Guarnieri, Valerio
;
Hantson, Hanno
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications
2012
/
p. 435-448 : ill
https://link.springer.com/article/10.1007/s10836-012-5303-6
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
97
1.
model-based mutation testing
2.
mutation testing
3.
missense mutation
4.
mutation
5.
mutation analysis
6.
Mutation and crossover operators
7.
mutation operators
8.
specification mutation
9.
timed automata mutation
10.
accelerated testing
11.
acoustomechanical testing
12.
anaerobic testing
13.
aspect-oriented testing
14.
assessment and testing
15.
at-speed testing
16.
benchmark testing
17.
Berridge testing
18.
burst testing
19.
cancer genomic testing
20.
circuit testing
21.
compliance testing
22.
compositional testing
23.
computer aided testing
24.
cone heater testing
25.
conformance testing
26.
courses on electronic testing and design
27.
cybersecurity testing
28.
D. non-destructive testing
29.
deformation testing
30.
design field testing
31.
destructive testing
32.
eddy current testing
33.
eddy current testing (ECT)
34.
erosion testing
35.
fabric testing
36.
fatigue testing
37.
fire testing
38.
hierarchical testing
39.
hypotheses testing
40.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
41.
integration testing
42.
laboratory scale testing
43.
load testing
44.
macro mechanical testing and green surface tribology
45.
material testing
46.
materials testing
47.
measurement and testing
48.
mechanical testing
49.
memory testing
50.
metamorphic testing
51.
microprocessor testing
52.
model based testing
53.
model-based testing
54.
multi-scenario testing
55.
network-testing
56.
non destructive testing
57.
nondestructive testing
58.
non-destructive testing
59.
non-destructive testing (NDT)
60.
On-site drug testing
61.
on-site testing
62.
pin on disc wear testing
63.
PMU calibration testing
64.
PMU testing
65.
point-of-care testing
66.
processor core testing
67.
processor testing
68.
real-time HiL testing
69.
regression testing
70.
RISC processor testing
71.
robustness testing
72.
safety and security testing
73.
scenario testing
74.
Scenario-Based Testing
75.
scratch testing
76.
security testing
77.
shear testing
78.
small-scale fire testing
79.
software testing
80.
software-in-the-loop (SIL) testing
81.
stand-alone testing
82.
stress-testing
83.
substation testing methods
84.
system testing
85.
tensile testing
86.
testing
87.
testing methods
88.
testing of digital devices
89.
testing of generator
90.
testing of phasor measurement units
91.
two-dimensional array testing
92.
ultrasonic testing
93.
wafer testing
94.
wear testing
95.
well testing
96.
vibration testing
97.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT