Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
mutation testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/95)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Beyond the Happy Path : A Safety-Critical Audit Methodology for Estonia’s I-Voting Processing Application
Treier, Tarvo
IEEE Access
2025
/
p. 203429-203443 : ill
https://doi.org//10.1109/ACCESS.2025.3638663
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas
On the reuse of TLM mutation analysis at RTL
Guarnieri, Valerio
;
Hantson, Hanno
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications
2012
/
p. 435-448 : ill
https://link.springer.com/article/10.1007/s10836-012-5303-6
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
95
1.
model-based mutation testing
2.
mutation testing
3.
missense mutation
4.
mutation
5.
mutation analysis
6.
Mutation and crossover operators
7.
mutation operators
8.
specification mutation
9.
timed automata mutation
10.
accelerated testing
11.
acoustomechanical testing
12.
anaerobic testing
13.
aspect-oriented testing
14.
assessment and testing
15.
at-speed testing
16.
benchmark testing
17.
Berridge testing
18.
burst testing
19.
cancer genomic testing
20.
compliance testing
21.
compositional testing
22.
computer aided testing
23.
cone heater testing
24.
conformance testing
25.
courses on electronic testing and design
26.
cybersecurity testing
27.
D. non-destructive testing
28.
deformation testing
29.
design field testing
30.
destructive testing
31.
eddy current testing
32.
eddy current testing (ECT)
33.
erosion testing
34.
fabric testing
35.
fatigue testing
36.
fire testing
37.
hierarchical testing
38.
hypotheses testing
39.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
40.
integration testing
41.
laboratory scale testing
42.
load testing
43.
macro mechanical testing and green surface tribology
44.
material testing
45.
materials testing
46.
measurement and testing
47.
mechanical testing
48.
memory testing
49.
metamorphic testing
50.
microprocessor testing
51.
model based testing
52.
model-based testing
53.
multi-scenario testing
54.
network-testing
55.
non destructive testing
56.
nondestructive testing
57.
non-destructive testing
58.
non-destructive testing (NDT)
59.
On-site drug testing
60.
on-site testing
61.
pin on disc wear testing
62.
PMU calibration testing
63.
PMU testing
64.
point-of-care testing
65.
processor core testing
66.
processor testing
67.
real-time HiL testing
68.
regression testing
69.
RISC processor testing
70.
robustness testing
71.
safety and security testing
72.
scenario testing
73.
Scenario-Based Testing
74.
scratch testing
75.
security testing
76.
shear testing
77.
small-scale fire testing
78.
software testing
79.
software-in-the-loop (SIL) testing
80.
stand-alone testing
81.
stress-testing
82.
substation testing methods
83.
system testing
84.
tensile testing
85.
testing
86.
testing methods
87.
testing of digital devices
88.
testing of generator
89.
testing of phasor measurement units
90.
two-dimensional array testing
91.
ultrasonic testing
92.
wafer testing
93.
wear testing
94.
vibration testing
95.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT