Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
hierarchical testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/105)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
How to generate high quality tests for digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Aarna, Margit
;
Kruus, Helena
;
Raik, Jaan
2004 International Semiconductor Conference : 27th edition, October 4-6, 2004, Sinaia, Romania : CAS 2004 proceedings. Volume 2
2004
/
p. 459-462 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/SMICND.2004.1403048
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
105
1.
hierarchical testing
2.
agglomerative hierarchical clustering
3.
analytical hierarchical process
4.
ascending hierarchical grid system
5.
hierarchical
6.
hierarchical approaches
7.
hierarchical cluster analysis (statistics)
8.
hierarchical control
9.
hierarchical finite state machine
10.
hierarchical internal variable
11.
hierarchical microstructure
12.
hierarchical modulation
13.
Hierarchical Multi-level Test Generation
14.
hierarchical service models
15.
hierarchical structure
16.
hierarchical structures
17.
hierarchical timing analysis
18.
hierarchical two-level analysis
19.
synthesis on hierarchical service models
20.
WordNet hierarchical structure
21.
accelerated testing
22.
acoustomechanical testing
23.
anaerobic testing
24.
aspect-oriented testing
25.
assessment and testing
26.
at-speed testing
27.
benchmark testing
28.
Berridge testing
29.
burst testing
30.
cancer genomic testing
31.
compliance testing
32.
compositional testing
33.
computer aided testing
34.
cone heater testing
35.
conformance testing
36.
courses on electronic testing and design
37.
cybersecurity testing
38.
D. non-destructive testing
39.
deformation testing
40.
design field testing
41.
destructive testing
42.
eddy current testing
43.
eddy current testing (ECT)
44.
erosion testing
45.
fabric testing
46.
fatigue testing
47.
fire testing
48.
hypotheses testing
49.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
50.
integration testing
51.
laboratory scale testing
52.
load testing
53.
macro mechanical testing and green surface tribology
54.
material testing
55.
materials testing
56.
measurement and testing
57.
mechanical testing
58.
memory testing
59.
metamorphic testing
60.
microprocessor testing
61.
model based testing
62.
model-based mutation testing
63.
model-based testing
64.
mutation testing
65.
network-testing
66.
non destructive testing
67.
nondestructive testing
68.
non-destructive testing
69.
non-destructive testing (NDT)
70.
On-site drug testing
71.
on-site testing
72.
pin on disc wear testing
73.
PMU calibration testing
74.
PMU testing
75.
point-of-care testing
76.
processor core testing
77.
processor testing
78.
real-time HiL testing
79.
regression testing
80.
RISC processor testing
81.
robustness testing
82.
safety and security testing
83.
scenario testing
84.
scratch testing
85.
security testing
86.
shear testing
87.
small-scale fire testing
88.
software testing
89.
software-in-the-loop (SIL) testing
90.
stand-alone testing
91.
stress-testing
92.
substation testing methods
93.
system testing
94.
tensile testing
95.
testing
96.
testing methods
97.
testing of digital devices
98.
testing of generator
99.
testing of phasor measurement units
100.
two-dimensional array testing
101.
ultrasonic testing
102.
wafer testing
103.
wear testing
104.
vibration testing
105.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT