Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

Ubar, Raimund-Johannes (autor)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 834
Vaata veel.. (4/147)
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (834)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
651

artikkel kogumikus

Temporally extended high-level decision diagrams for PSL assertions simulationJenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Tšepurov, Anton; Ubar, Raimund-JohannesProceedings : Thirteenth IEEE European Test Symposium : ETS 2008 : 25-29 May 2008, Verbania, Italy2008 / p. 61-68 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/4556029

artikkel kogumikus
652

artikkel ajakirjas

10th IEEE European Test SymposiumUbar, Raimund-Johannes; Prinetto, Paolo; Raik, JaanIEEE journal of design & test of computers2005 / p. 480-481 : phot http://dx.doi.org/10.1109/MDT.2005.106

artikkel ajakirjas
653

artikkel kogumikus

"Tervis ruudus", ehk, Tippkeskuse CEBE luguUbar, Raimund-JohannesTeadusmõte Eestis (X). Tehnikateadused. 3 : [artiklikogumik]2019 / lk. 200-215 : ill., fot https://www.ester.ee/record=b5208765*est

artikkel kogumikus
654

artikkel kogumikus

Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switchesRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Govind, Vineeth12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings2007 / p. 29-34 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.41

artikkel kogumikus
655

artikkel kogumikus

Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switchesRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Govind, VineethInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum2007 / lk. 33-37 : ill

artikkel kogumikus
656

artikkel kogumikus

Test cost minimization for hybrid BISTJervan, Gert; Peng, Zebo; Ubar, Raimund-JohannesIEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 25-27 October 2000, Yamanashi, Japan : proceedings2000 / p. 283-298 : ill https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/887168

artikkel kogumikus
657

artikkel ajakirjas

Test cover calculation in digital systems with word-level decision diagramsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Ivask, Eero; Brik, MarinaВестник Томского государственного университета2002 / с. 315-319 : ил

artikkel ajakirjas
658

artikkel kogumikus

Test generation : a hierarchical approachJervan, Gert; Ubar, Raimund-Johannes; Peng, Z.; Eles, PetruSystem-level test and validation of hardware/software systems2005 / p. 67-81 : ill

artikkel kogumikus
659

artikkel kogumikus

Test generation for digital systemsUbar, Raimund-JohannesDigest of papers - FTCS 13th Annual International Symposium on Fault-Tolerant Computing, June 28 - 30, 1983, Milano, Italy1983 / p. 374-377

artikkel kogumikus
660

artikkel kogumikus

Test generation for digital systems at functional levelUbar, Raimund-Johannes; Kuchcinski, Ktzysztof; Peng, Z.Research report LiTH-IDA-R-90-06, Linköping University, Sweden1990 / p. 1-21

artikkel kogumikus
661

artikkel kogumikus

Test generation for digital systems based on alternative graphsUbar, Raimund-JohannesDependable Computing - EDCC-1 : First European Dependable Computing Conference, Berlin, Germany, October 1994 : proceedings1994 / p. 151-164: ill

artikkel kogumikus
662

artikkel kogumikus

Test generation for finite state machinesUbar, Raimund-Johannes; Brik, MarinaBEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings1996 / p. 233-236: ill

artikkel kogumikus
663

artikkel kogumikus

Test generation for microprocessor control mechanismsLohuaru, Tõnu; Ubar, Raimund-JohannesFTSD-10 : Deseta Mezdunarodnaja Konferencija "Nadezdnost i Diagnostika na ECM. Mikrokompjutri i Sistemi", Varna, Bulgaria, 1987 = 10th International Conference on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics (1987)1987 / p. 305-311

artikkel kogumikus
664

artikkel kogumikus

Test generation for microprocessors on alternative graphsAlango, Villem; Kont, Toomas; Ubar, Raimund-Johannes33. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium : 24.-28.10.1988. H.3 Vortragsreihe B, technische und angewandte Informatik/Computertechnik1988 / p. 11-14

artikkel kogumikus
665

artikkel kogumikus

Test generation techniques and algorithmsUbar, Raimund-Johannes; Gramatova, Elena; Fisherova, MariaHandbook of testing electronic systems2005 / p. 99-173 : ill

artikkel kogumikus
666

artikkel kogumikus

Test generation with structurally synthesized BDD modelsRaik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the 5th Electronic Devices and Systems Conference, Brno, June 11-12, 19981998 / p. 66-68

artikkel kogumikus
667

artikkel ajakirjas

Test methods for crosstalk-induced delay and glitch faults in network-on-chip interconnects implementing asynchronous communication protocolsBengtsson, Tomas; Kumar, Shashi; Ubar, Raimund-Johannes; Jutman, Artur; Peng, ZeboIET computers and digital techniques2008 / 6, p. 445-460

artikkel ajakirjas
668

artikkel kogumikus

Test pattern generation for microprocessor systems on the alternative graph modelUbar, Raimund-JohannesProceedings of the 3rd Symposium of the IMEKO Technical Committee on Technical Diagnostics (TC10), held in Moscow, October 3 - 5, 19831985 / p. 403-410

artikkel kogumikus
669

artikkel kogumikus

Test set minimization using bipartite graphsMarkus, Antti; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesBEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings1998 / p. 175-178: ill

artikkel kogumikus
670

artikkel ajakirjas

Test synthesis with alternative graphsUbar, Raimund-JohannesIEEE design & test of computers1996 / Spring, p. 48-57: ill

artikkel ajakirjas
671

artikkel ajakirjas

Test system for fault detection and diagnosis in microprocessor control devicesUbar, Raimund-Johannes; Lohuaru, Tõnu; Männisalu, Mati; Pukk, P.; Vanamölder, E.Tallinna Tehnikaülikooli Toimetised1990 / lk. 63-77: ill

artikkel ajakirjas
672

artikkel ajakirjas

Test time minimization for hybrid BIST of core-based systemsJervan, Gert; Eles, Petru; Peng, Zebo; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, MaksimJournal of computer science and technology2006 / 6, p. 907-912 : ill https://link.springer.com/article/10.1007/s11390-006-0907-x

artikkel ajakirjas
673

artikkel kogumikus

Test time minimization for hybrid BIST of core-based systemsJervan, Gert; Eles, Petru; Peng, Zebo; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim12th Asian Test Symposium (ATS 2003) : 17-19 November 2003, Xian, China2003 / p. 318-325 : ill https://link.springer.com/article/10.1007/s11390-006-0907-x

artikkel kogumikus
674

artikkel kogumikus

Test time minimization for hybrid BIST with test pattern broadcastingUbar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Jervan, Gert; Peng, ZeboIEEE NORCHIP 2003 : 21 Norchip Conference : Riga, Latvia, 10-11 November 2003 : proceedings2003 / p. 112-116 : ill https://www.ida.liu.se/labs/eslab/publications/pap/db/norchip03.pdf

artikkel kogumikus
675

artikkel kogumikus

Testability analysis for efficient register-transfer level test generation [Electronic resource]Nõmmeots, Tanel; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes9th International Conference MIXDES 2002 : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, Wroclaw, Poland, 20-22 June 20022002 / [4] p. [CD-ROM]

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 834, kuvan 651 - 675

eelmine
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
järgmine

1. Ubar, Raimund-Johannes 1941
2. Räämet, Raimund 1918-2004
3. Aare, Johannes 1915-2000
4. Aavik, Eduard-Johannes
5. Ahrenschild, Johannes (-1936)
6. Alaots, Johannes
7. Aljak, Arnold Johannes
8. Allik, Erich-Johannes
9. Avik, Eduard Johannes 1891-1942
10. Drechsler, Wolfgang Johannes Max
11. Ehala, Johannes 1986
12. Hint, Johannes 1914-1985
13. Johannes, Ille 1939
14. Johannson, Johannes
15. Johanson, Johannes
16. Juhans, Johannes 1874-1956
17. Kajander, Aleksi Oskar Johannes 1994
18. Kiiwet, Johannes
19. Kiivet, Johannes 1879-1967
20. Kivit, Johannes
21. Kollist, Johannes 1884-1937
22. Kollist, Johannes Theodor
23. Korv, August Johannes 1911-1981
24. Krimmer, Robert Johannes
25. Käpp, Martin Johannes
26. Langel, Johannes 1900-1985
27. Langell, Johannes
28. Livländer, Robert Johannes
29. Lutsar, Richard-Johannes
30. Madise, Johannes 1920-?
31. Maltenek, Evald Leonhard Johannes
32. Matsulevitš, Johannes
33. Meitre, Johannes 1906-1978
34. Messer, Johannes
35. Muru, Johannes 1995
36. Mäll, Johannes 1911-1981
37. Mühlman, Johannes
38. Mühlmann, Johannes 1888-1936
39. Notermans, Antonius Johannes Hubertus 1959
40. Nuudi, Johannes 1895-1975
41. Palo, Johannes 1925-1960
42. Pals, Johannes 1903-1941
43. Pello, Johannes 1958
44. Pervik, Johannes 1892-1958
45. Presmann, Johannes 1942
46. Putk, Aksel-Johannes 1928-1999
47. Püümann, Mait Johannes
48. Renter, Olav-Johannes
49. Roes, Johannes 1914
50. Russwurm, Johannes
51. Russvurm, Johannes 1855-1939
52. Russvurm, Johannes Carl Gysbert Immanuel
53. Sakeus, Johannes 1880-1934
54. Taimsalu, Johannes 1891-1942
55. Teiman, Johannes
56. Teimann, Johannes Rudolf (kuni 22.05.1935)
57. Tomson, Johannes
58. Tuulre, Feliks Johannes 1908-1987
59. Veerus, Johannes Voldemar 1897-1972
60. Verus, Johannes Voldemar
61. Vuhk, Oskar Johannes

1. Ubar, Raimund-Johannes, 1941-
2. Hagelberg, Raimund, 1927-2012
3. Räämet, Raimund, 1918-2004
4. Aare, Johannes, 1915-2000
5. Aavik, Johannes, 1880-1973
6. Avik, Eduard Johannes, 1891-1942
7. Bender, Naatan Johannes
8. Erm, Johannes, 1998-
9. Granö, Johannes Gabriel
10. Hint, Johannes, 1914-1985
11. Johannes Paulus II, paavst, 1920-2005
12. Kert, Johannes
13. Kiivet, Johannes, 1879-1967
14. Kollist, Johannes
15. Käis, Johannes
16. Lang, Johannes
17. Maide, Johannes Voldemar
18. Mossov, Johannes
19. Pals, Johannes, 1903-1941
20. Pello, Johannes
21. Putk, Aksel-Johannes
22. Rammul, Aleksander Johannes, 1875-1949
23. Steinbrunn, Johannes
24. Taimsalu, Johannes, 1891-1942
25. Talu, Martin Johannes
26. Veerus, Johannes Voldemar, 1897-1972
27. Veski, Johannes Voldemar, 1873-1968
28. Voll, Johannes

1. Johannes Mittus, vasevalamise tööstus

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu