Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

Ubar, Raimund-Johannes (TTÜ autor)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 831
Vaata veel.. (4/149)
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (831)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
76

artikkel ajalehes

Avalik kiri Eesti elektrist : [Eesti elektrijaamade erastamisest NRG-le : Eesti Teaduste Akadeemia 36 akadeemiku pöördumine]Aarna, Olav; Lille, Ülo; Saarma, Mart; Saarma, Mart; Tamm, Boris, inform.; Ubar, Raimund-Johannes; Ernits, Peeter; Veiderma, MihkelPostimees2001 / lk. 24 https://www.ester.ee/record=b1072778*est https://artiklid.elnet.ee/record=b2295176*est

artikkel ajalehes
77

artikkel kogumikus

Back-traced deductive-parallel fault simulation for digital systemsHahanov, Vladimir; Ubar, Raimund-Johannes; Hyduke, StanleyProceedings : Euromicro Symposium on Digital System Design : Belek-Antalya, Turkey, September 1st to 6th, 20032003 / p. 370-377 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/1231969

artikkel kogumikus
78

artikkel kogumikus

Back-tracing and event-driven techniques in high-level simulation with decision diagramsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Morawiec, AdamISCAS 2000 Geneva : The 2000 IEEE International Symposium on Circuits and Systems : Emerging Technologies for the 21st Century : May 28-31, 2000 : proceedings. Vol. 12000 / p. I-208 - I-211

artikkel kogumikus
79

artikkel ajalehes

Balti Ülikoolide Sõprade SeltsUbar, Raimund-JohannesTehnikaülikool1992 / 18. dets., lk. 2

artikkel ajalehes
80

raamat

BEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia)Rang, Toomas; Min, Mart; Ubar, Raimund-Johannes1994

raamat
81

raamat

BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedingsRang, Toomas; Min, Mart; Ubar, Raimund-Johannes1996 https://www.ester.ee/record=b2150914*est

raamat
82

artikkel kogumikus

Behavioral level modeling of digital systems for testing purposesUbar, Raimund-Johannes42nd International Conference, Ilmenau, Germany, September 22-25, 1997. Part 11997 / p. 510-515

artikkel kogumikus
83

artikkel kogumikus

A benchmark suite for evaluating the efficiency of test toolsKruus, Helena; Ubar, Raimund-Johannes; Ellervee, Peeter; Gorev, Maksim; Pesonen, Vadim; Devadze, Sergei; Orasson, Elmet; Brik, Marina; Min, Mart; Annus, Paul; Kruus, Margus; Meigas, KaljuBEC 2012 : 2012 13th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 13th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-5, 2012, Tallinn, Estonia2012 / p. 85-88 : ill

artikkel kogumikus
84

artikkel ajakirjas

Berechnung von Booleschen Ableitungen bei der Testsatzanalyse für digitale SchaltungenUbar, Raimund-JohannesNachrichtentechnik, Elektronik : technisch-wissenschaftlishe Zeitschrift für die gesamte elektronische Nachrichtentechnik1977 / p. 21-23 : ill https://www.ester.ee/record=b1550811*est

artikkel ajakirjas
85

artikkel kogumikus

Berechnung von tests für die Fehlerdiagnose in DigitalsystemUbar, Raimund-JohannesInternationales wissenschaftliches Kolloquium, 21. 1. November bis 5. November 1976, H. 2: Vortragsreihe A 2: Entwurf, Analyse und Einsatz von informationsverarbeitenden Systemen: IWK1976 / p. [?]

artikkel kogumikus
86

artikkel ajakirjas

Beschreibung digitaler Einrichtungen mit alternativen Graphen für die FehlerdiagnoseUbar, Raimund-JohannesNachrichtentechnik, Elektronik : technisch-wissenschaftlishe Zeitschrift für die gesamte elektronische Nachrichtentechnik1980 / p. 96-102 : ill https://www.ester.ee/record=b1550811*est

artikkel ajakirjas
87

artikkel kogumikus

Bibliograafia : [Raimund-Johannes Ubar]Raimund-Johannes Ubar. Bibliograafia2016 / lk. [97]-243

artikkel kogumikus
88

artikkel kogumikus

BIST analyzer : a training platform for SoC testing [Electronic resource]Jutman, Artur; Tšertov, Anton; Tšepurov, Anton; Aleksejev, Igor; Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-Dietrich37th Annual Frontiers in Education Conference : Global Engineering : Knowledge Without Borders, Opportunities Without Passports : Milwaukee, Wisconsin, October 10-13, 20072007 / p. S3H-8-S3H-13 : ill. [CD-ROM] http://dx.doi.org/10.1109/FIE.2007.4418125

artikkel kogumikus
89

artikkel kogumikus

Block-level fault model-free debug and diagnosis in digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Raik, JaanProceedings of the 12th EUROMICRO Conference on Digital System Design, Architectures, Methods and Tools : Patras, Greece, August 27-29, 20092009 / p. 229-232 https://ieeexplore.ieee.org/document/5350128

artikkel kogumikus
90

artikkel kogumikus

Boolean derivatives and multi-valued simulation on binary decision diagramsUbar, Raimund-JohannesProceedings of the 4th International Workshop Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES'97 : Poznan, Poland, 12-14 June 19971997 / p. 115-120

artikkel kogumikus
91

artikkel kogumikus

Boolean fault dignosis with structurally synthesized BDDsUbar, Raimund-JohannesRecent progress in the Boolean domain2014 / p. 303-331 : ill

artikkel kogumikus
92

artikkel kogumikus

Bringing research issues into lab scenarios on the example of SoC testing [Electronic resource]Ubar, Raimund-Johannes; Jutman, Artur; Devadze, Sergei; Wuttke, Heinz-DietrichInternational Conference on Engineering Education - ICEE 2007 : September 3-7, 2007, Coimbra, Portugal2007 / [7] p. : ill. [CD-ROM] http://icee2007.dei.uc.pt/proceedings/papers/429.pdf

artikkel kogumikus
93

artikkel kogumikus

Built-in self diagnosis with multiple signature analyzers in digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Raik, JaanProceedings of the 9th IEEE Latin-American Test Workshop : LATW2008 : February 17-20, 2008, Puebla, Mexico2008 / p. 29-34 : ill

artikkel kogumikus
94

artikkel kogumikus

CAD für Digitaltechnik - eine Programmfamilie für den Entwurf von Testmustern zum Test von DigitalschaltungenUbar, Raimund-JohannesIBM Hochschulkongress '92: Offene Grenzen - offene Systeme, Dresden, 30.09-2.10.19921992 / S.IV9 1-14

artikkel kogumikus
95

artikkel kogumikus

CAD software for digital test and diagnosticsJervan, Gert; Markus, Antti; Paomets, Priidu; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of International Conference on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Ostrava, Czech Republik, May 12-14, 19971997 / p. 35-40

artikkel kogumikus
96

artikkel kogumikus

A CAD system for teaching digital testUbar, Raimund-Johannes; Ivask, Eero; Paomets, Priidu; Raik, JaanBEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 11994 / p. 369-372: ill

artikkel kogumikus
97

artikkel kogumikus

Calculation of LFSR seed and polynomial pair for BIST applicationsJutman, Artur; Tšertov, Anton; Ubar, Raimund-JohannesInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja2008 / p. 105-108 : ill

artikkel kogumikus
98

artikkel kogumikus

Calculation of LFSR seed and polynomial pair for BIST applications [Electronic resource]Jutman, Artur; Tšertov, Anton; Ubar, Raimund-Johannes2008 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : Bratislava, Slovakia, April 16-18, 20082008 / p. 275-279 : ill. [CD-ROM]

artikkel kogumikus
99

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDsJürimägi, Lembit; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanMicroprocessors and microsystems2020 / art. 103117, 12 p https://doi.org/10.1016/j.micpro.2020.103117 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG
100

artikkel kogumikus

Calculation of testability measures on structurally synthesized binary decision diagramsUbar, Raimund-Johannes; Heinlaid, J.; Raik, Jaan; Raun, L.BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings1998 / p. 179-182: ill

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 831, kuvan 76 - 100

eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
järgmine

1. Ubar, Raimund-Johannes
2. Palm, Raimund
3. Räämet, Raimund 1918-2004
4. Aare, Johannes 1915-2000
5. Aavik, Eduard-Johannes
6. Ahrenschild, Johannes (-1936)
7. Alaots, Johannes
8. Aljak, Arnold Johannes
9. Allik, Erich-Johannes
10. Avik, Eduard Johannes 1891-1942
11. Drechsler, Wolfgang Johannes Max
12. Ehala, Johannes
13. Hint, Johannes 1914-1985
14. Johannes, Ille
15. Johannson, Johannes
16. Johanson, Johannes
17. Juhans, Johannes 1874-1956
18. Kajander, Aleksi Oskar Johannes
19. Kiiwet, Johannes
20. Kiivet, Johannes 1879-1967
21. Kivit, Johannes
22. Kollist, Johannes 1884-1937
23. Kollist, Johannes Theodor
24. Korv, August Johannes 1911-1981
25. Krimmer, Robert Johannes
26. Käpp, Martin Johannes
27. Langel, Johannes 1900-1985
28. Langell, Johannes
29. Livländer, Robert Johannes
30. Lutsar, Richard-Johannes
31. Madise, Johannes 1920-?
32. Maltenek, Evald Leonhard Johannes
33. Matsulevitš, Johannes
34. Meitre, Johannes 1906-1978
35. Messer, Johannes
36. Muru, Johannes
37. Mäll, Johannes 1911-1981
38. Mühlman, Johannes
39. Mühlmann, Johannes 1888-1936
40. Notermans, Antonius Johannes Hubertus
41. Nuudi, Johannes 1895-1975
42. Palo, Johannes 1925-1960
43. Pals, Johannes 1903-1941
44. Pello, Johannes
45. Pervik, Johannes 1892-1958
46. Pervik, Johannes-Eduard
47. Presmann, Johannes 1942-2013
48. Putk, Aksel-Johannes 1928-1999
49. Püümann, Mait Johannes
50. Renter, Olav-Johannes
51. Roes, Johannes
52. Russwurm, Johannes
53. Russvurm, Johannes 1855-1939
54. Russvurm, Johannes Carl Gysbert Immanuel
55. Sakeus, Johannes 1880-1934
56. Taimsalu, Johannes 1891-1942
57. Teiman, Johannes
58. Teimann, Johannes Rudolf (kuni 22.05.1935)
59. Tomson, Johannes
60. Tuulre, Feliks Johannes 1908-1987
61. Veerus, Johannes Voldemar 1897-1972
62. Verus, Johannes Voldemar
63. Vuhk, Oskar Johannes

1. Ubar, Raimund-Johannes, 1941-
2. Hagelberg, Raimund, 1927-2012
3. Räämet, Raimund, 1918-2004
4. Aare, Johannes, 1915-2000
5. Aavik, Johannes, 1880-1973
6. Avik, Eduard Johannes, 1891-1942
7. Bender, Naatan Johannes
8. Erm, Johannes, 1998-
9. Granö, Johannes Gabriel
10. Hint, Johannes, 1914-1985
11. Johannes Paulus II, paavst, 1920-2005
12. Kert, Johannes
13. Kiivet, Johannes, 1879-1967
14. Kollist, Johannes
15. Käis, Johannes
16. Lang, Johannes
17. Maide, Johannes Voldemar
18. Mossov, Johannes
19. Pals, Johannes, 1903-1941
20. Pello, Johannes
21. Putk, Aksel-Johannes
22. Rammul, Aleksander Johannes, 1875-1949
23. Steinbrunn, Johannes
24. Taimsalu, Johannes, 1891-1942
25. Talu, Martin Johannes
26. Veerus, Johannes Voldemar, 1897-1972
27. Veski, Johannes Voldemar, 1873-1968
28. Voll, Johannes

1. Johannes Mittus, vasevalamise tööstus

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu