Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

Ubar, Raimund-Johannes (TTÜ autor)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 831
Vaata veel.. (4/149)
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (831)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
26

artikkel kogumikus

Alternatiivsete graafide mudel loogikalülituste funktsioonide kirjeldamiseks ja analüüsiksAnton, E.; Ubar, Raimund-JohannesXXIX vabariiklik üliõpilaste teaduslik- tehniline konverents 30. märtsist - 1. aprillini 1977 : ettekannete teesid1977 / lk. 42-43 https://www.ester.ee/record=b2449987*est

artikkel kogumikus
27

artikkel kogumikus

Alternative graph based test design in digital systemsUbar, Raimund-JohannesProceedings of 11. NORCHIP seminar, Trondheim, Nov. 9-10, 19931993 / p. 48-62

artikkel kogumikus
28

artikkel kogumikus

Alternative graphs and test pattern design in digital systemsUbar, Raimund-JohannesProc. of the 6th Workshop on New Directions for Testing, Montreal, Canada, May 20-22, 19921992

artikkel kogumikus
29

artikkel kogumikus

Alternative graphs as a mathematical tool and knowledge representation for diagnosis purposes in digital systemsUbar, Raimund-JohannesBEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 11994 / p. 285-292: ill

artikkel kogumikus
30

artikkel kogumikus

An approach for PSL assertion coverage analysis with high-level decision diagramsJenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Shchenova, TatjanaProceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'10) : St. Petersburg, Russia, September 17-20, 20102010 / p. 13-16 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/5742048

artikkel kogumikus
31

artikkel kogumikus

An approach for verification assertions reuse in RTL test pattern generationJenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Fujiwara, Hideo; Ubar, Raimund-Johannes; Viilukas, TaaviDigest of papers : IEEE 11th Workshop on RTL and High Level Testing : WRTLT'10 : December 5-6, 2010, Shanghai, China2010 / p. 107-110 : ill

artikkel kogumikus
32

artikkel kogumikus

An educational environment for digital testing : hardware, tools, and web-based runtime platformJutman, Artur; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Vislogubov, VladislavProceedings : DSD'2005 : 8th Euromicro Conference on Digital System Design : Architectures, Methods and Tools : Porto, Portugal, August 30 - September 3, 20052005 / p. 412-419 : ill https://www.researchgate.net/profile/Artur-Jutman/publication/220880167_An_Educational_Environment_for_Digital_Testing_Hardware_Tools_and_Web-Based_Runtime_Platform/links/02e7e53c3c71b0b2a7000000/An-Educational-Environment-for-Digital-Testing-Hardware-Tools-and-Web-Based-Runtime-Platform.pdf

artikkel kogumikus
33

artikkel kogumikus

An external test approach for network-on-a-chip switchesRaik, Jaan; Govind, Vineeth; Ubar, Raimund-Johannes2002-2011 : 20th Anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium2011 / p. 185-190 : ill

artikkel kogumikus
34

artikkel kogumikus

An external test approach for network-on-a-chip switchesRaik, Jaan; Govind, Vineeth; Ubar, Raimund-JohannesATS '06 : Proceedings of the 15th Asian Test Symposium : November 20-23, 2006, Fukuoka, Japan2006 / p. 437-442 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2006.23

artikkel kogumikus
35

artikkel kogumikus

An improved test generation approach for sequential circuits using decision diagramsBrik, Marina; Ubar, Raimund-JohannesBEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings1998 / p. 155-158: ill

artikkel kogumikus
36

artikkel kogumikus

Analysis of a test method for delay faults in NoC interconnectsBengtsson, Tomas; Jutman, Artur; Kumar, Shashi; Ubar, Raimund-Johannes; Peng, ZeboProceedings of the IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW'06) : Sochi, Russia, September 15-19, 20062006 / p. 42-46 : ill

artikkel kogumikus
37

artikkel kogumikus

Applets for learning digital design and test [Electronic resource]Ubar, Raimund-Johannes; Jutman, Artur; Kruus, Margus; Wuttke, Heinz-Dietrich1st International Conference on Interactive Mobile and Computer Aided Learning (IMCL2006) : Amman, Jordan, April 19-21, 20062006 / p. 1-4 : ill. [CD-ROM]

artikkel kogumikus
38

artikkel ajakirjas

Application of high-level decision diagrams for simulation-based verification tasksJenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Tšepurov, Anton; Ubar, Raimund-JohannesEstonian journal of engineering2010 / 1, p. 56-77 : ill

artikkel ajakirjas
39

artikkel kogumikus

Application of sequential test set compaction to LFSR reseedingAleksejev, Igor; Jutman, Artur; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes26th Norchip Conference : Tallinn, Estonia, 17-18 November 2008 : formal proceedings2008 / p. 102-107 : ill http://dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2008.4738292

artikkel kogumikus
40

artikkel ajakirjas

Application of structurally synthesized binary decision diagrams for timing simulation of digital circuitsJutman, Artur; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering2001 / 4, p. 269-288 : ill

artikkel ajakirjas
41

artikkel kogumikus

Application specific true critical paths identification in sequential circuitsJürimägi, Lembit; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Devadze, Sergei; Oyeniran, Adeboye Stephen2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2019) : 1-3 July 2019, Greece2019 / p. 299-304 : ill https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854442

artikkel kogumikus
42

artikkel ajakirjas

An approach for verification assertions reuse 2 in RTL test pattern generationJenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Viilukas, Taavi; Fujiwara, HideoJournal of Shanghai Normal University : Natural Sciences2010 / p. 441-447 : ill https://www.researchgate.net/publication/240613999_An_Approach_for_Verification_Assertions_Reuse_in_RTL_Test_Pattern_Generation

artikkel ajakirjas
43

artikkel kogumikus

An approach to system-level design for testJervan, Gert; Ubar, Raimund-Johannes; Peng, Z.; Eles, PetruSystem-level test and validation of hardware/software systems2005 / p. 121-149 : ill

artikkel kogumikus
44

artikkel kogumikus

APRICOT : a framework for teaching digital systems verificationRaik, Jaan; Jenihhin, Maksim; Tšepurov, Anton; Reinsalu, Uljana; Ubar, Raimund-Johannes19th EAEEIE Annual Conference : June 29-July 2, 2008, Tallinn, Estonia : formal proceedings2008 / p. 172-177 : ill http://dx.doi.org/10.1109/EAEEIE.2008.4610181

artikkel kogumikus
45

artikkel kogumikus

Arvamusi akadeemikutelt : teadustulemused, hinnangud ja ettepanekud : [arvamust avaldavad Jüri Engelbrecht, Ülo Lille, Boris Tamm, Mihkel Veiderma, Valdek Kulbach, Rein Küttner, Raimund-Johannes Ubar jt.]Engelbrecht, Jüri; Lille, Ülo; Tamm, Boris, inform.; Veiderma, Mihkel; Kulbach, Valdek; Küttner, Rein; Ubar, Raimund-JohannesEesti Teaduste Akadeemia aastaraamat 19971998 / lk. 121-143

artikkel kogumikus
46

artikkel kogumikus

Arvamusi akadeemikutelt ["kuumade teemade" kohta oma erialal]Küttner, Rein; Lille, Ülo; Saarma, Mart; Tamm, Boris, inform.; Ubar, Raimund-Johannes; Veiderma, Mihkel; Engelbrecht, JüriEesti Teaduste Akadeemia aastaraamat 19981999 / lk. 148-171

artikkel kogumikus
47

artikkel kogumikus

Arvamusi akadeemikutelt [oluliste teadusprobleemide kohta]Küttner, Rein; Lille, Ülo; Ubar, Raimund-Johannes; Veiderma, Mihkel; Öpik, Ilmar; Engelbrecht, JüriEesti Teaduste Akadeemia aastaraamat 19992000 / lk. 137-174

artikkel kogumikus
48

artikkel kogumikus

Arvamusi akadeemikutelt [oluliste teadusprobleemide kohta]Engelbrecht, Jüri; Kaljo, Dimitri; Krumm, Lembit; Mõtus, Leo; Tõugu, Enn; Ubar, Raimund-JohannesEesti Teaduste Akadeemia aastaraamat 20052006 / lk. 177-204. (Arvamusi akadeemikutelt)

artikkel kogumikus
49

artikkel kogumikus

Arvamusi akadeemikutelt [oluliste teadusprobleemide kohta]Engelbrecht, Jüri; Kaljo, Dimitri; Ubar, Raimund-JohannesEesti Teaduste Akadeemia aastaraamat = Annales academiae scientarum Estonicae 20132014 / lk. 258-273

artikkel kogumikus
50

artikkel ajakirjas

Arvutid diagnoosivad arvuteidUbar, Raimund-JohannesSide. Raadio. Televisioon : infoseeria 101985 / lk. 6-10 https://www.ester.ee/record=b1232303*est

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 831, kuvan 26 - 50

eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
järgmine

1. Ubar, Raimund-Johannes
2. Palm, Raimund
3. Räämet, Raimund 1918-2004
4. Aare, Johannes 1915-2000
5. Aavik, Eduard-Johannes
6. Ahrenschild, Johannes (-1936)
7. Alaots, Johannes
8. Aljak, Arnold Johannes
9. Allik, Erich-Johannes
10. Avik, Eduard Johannes 1891-1942
11. Drechsler, Wolfgang Johannes Max
12. Ehala, Johannes
13. Hint, Johannes 1914-1985
14. Johannes, Ille
15. Johannson, Johannes
16. Johanson, Johannes
17. Juhans, Johannes 1874-1956
18. Kajander, Aleksi Oskar Johannes
19. Kiiwet, Johannes
20. Kiivet, Johannes 1879-1967
21. Kivit, Johannes
22. Kollist, Johannes 1884-1937
23. Kollist, Johannes Theodor
24. Korv, August Johannes 1911-1981
25. Krimmer, Robert Johannes
26. Käpp, Martin Johannes
27. Langel, Johannes 1900-1985
28. Langell, Johannes
29. Livländer, Robert Johannes
30. Lutsar, Richard-Johannes
31. Madise, Johannes 1920-?
32. Maltenek, Evald Leonhard Johannes
33. Matsulevitš, Johannes
34. Meitre, Johannes 1906-1978
35. Messer, Johannes
36. Muru, Johannes
37. Mäll, Johannes 1911-1981
38. Mühlman, Johannes
39. Mühlmann, Johannes 1888-1936
40. Notermans, Antonius Johannes Hubertus
41. Nuudi, Johannes 1895-1975
42. Palo, Johannes 1925-1960
43. Pals, Johannes 1903-1941
44. Pello, Johannes
45. Pervik, Johannes 1892-1958
46. Pervik, Johannes-Eduard
47. Presmann, Johannes 1942-2013
48. Putk, Aksel-Johannes 1928-1999
49. Püümann, Mait Johannes
50. Renter, Olav-Johannes
51. Roes, Johannes
52. Russwurm, Johannes
53. Russvurm, Johannes 1855-1939
54. Russvurm, Johannes Carl Gysbert Immanuel
55. Sakeus, Johannes 1880-1934
56. Taimsalu, Johannes 1891-1942
57. Teiman, Johannes
58. Teimann, Johannes Rudolf (kuni 22.05.1935)
59. Tomson, Johannes
60. Tuulre, Feliks Johannes 1908-1987
61. Veerus, Johannes Voldemar 1897-1972
62. Verus, Johannes Voldemar
63. Vuhk, Oskar Johannes

1. Ubar, Raimund-Johannes, 1941-
2. Hagelberg, Raimund, 1927-2012
3. Räämet, Raimund, 1918-2004
4. Aare, Johannes, 1915-2000
5. Aavik, Johannes, 1880-1973
6. Avik, Eduard Johannes, 1891-1942
7. Bender, Naatan Johannes
8. Erm, Johannes, 1998-
9. Granö, Johannes Gabriel
10. Hint, Johannes, 1914-1985
11. Johannes Paulus II, paavst, 1920-2005
12. Kert, Johannes
13. Kiivet, Johannes, 1879-1967
14. Kollist, Johannes
15. Käis, Johannes
16. Lang, Johannes
17. Maide, Johannes Voldemar
18. Mossov, Johannes
19. Pals, Johannes, 1903-1941
20. Pello, Johannes
21. Putk, Aksel-Johannes
22. Rammul, Aleksander Johannes, 1875-1949
23. Steinbrunn, Johannes
24. Taimsalu, Johannes, 1891-1942
25. Talu, Martin Johannes
26. Veerus, Johannes Voldemar, 1897-1972
27. Veski, Johannes Voldemar, 1873-1968
28. Voll, Johannes

1. Johannes Mittus, vasevalamise tööstus

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu