Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 138472
Vaata veel..
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (1000*)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
32726

artikkel kogumikus

Hierarchical language for development of distributed algorithmsKaldma, TarmoThe 3rd Baltic Summer School on Information Technology and Systems Engineering, 1-5 August, 1995, Klaipeda : theses1995 / p. 25-28

artikkel kogumikus
32727

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Hierarchical microstructures and strengthening mechanisms of nano-TiC reinforced CoCrFeMnNi high-entropy alloy composites prepared by laser powder bed fusionChen, Hongyu; Kosiba, Konrad; Lu, Twen; Yao, Ning; Liu, Yang; Wang, Yonggang; Prashanth, Konda Gokuldoss; Suryanarayana, ChallapalliJournal of Materials Science & Technology2023 / p. 245-259 : ill https://doi.org/10.1016/j.jmst.2022.06.053 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG
32728

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Hierarchical nanostructures of ZnO obtained by spray pyrolysisDedova, Tatjana; Krunks, Malle; Oja Acik, Ilona; Klauson, Deniss; Volobujeva, Olga; Mere, ArvoMaterials chemistry and physics2013 / p. 69-75 : ill https://doi.org/10.1016/j.matchemphys.2013.04.026 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG
32729

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Hierarchical optimization configuration strategy of synchronous condenser in high penetration wind power sending systemsSun, Zhenglong; Qiao, Jianhua; Meng, Xin; Pan, Chao; Li, Zewei; Belikov, Juri; Levron, YoashElectronics (Switzerland)2024 / art. 4359 https://doi.org/10.3390/electronics13224359 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG
32730

artikkel ajakirjas

Hierarchical physical defect reasoning in digital circuitsKostin, Sergei; Ubar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Brik, MarinaEstonian journal of engineering2011 / 3, p. 185-200

artikkel ajakirjas
32731

artikkel kogumikus

Hierarchical regions of interestJärv, Priit; Tammet, Tanel; Tall, Marten2018 IEEE 19th International Conference on Mobile Data Management : MDM 2018, 26–28 June 2018, Aalborg University, Denmark : proceedings2018 / p. 86-95 https://doi.org/10.1109/MDM.2018.00025

artikkel kogumikus
32732

artikkel kogumikus

Hierarchical temporal memory implementation on FPGA using LFSR based spatial poolerKerner, Madis; Tammemäe, KalleProceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany2017 / p. 92-95 https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553

artikkel kogumikus
32733

artikkel kogumikus

Hierarchical test generation based on alternative graph modelUbar, Raimund-JohannesProceedings of the Second Workshop on Hierarchical Test Generation : Microelectronics Technology Park, Duisburg, Germany, September 25-26, 19951995 / p. 18

artikkel kogumikus
32734

artikkel ajakirjas

Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverageCibakova, Tatiana; Fischerova, Maria; Gramatova, Elena; Kuzmicz, W.; Pleskacz, Witold A.; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesMicroelectronics reliability2002 / p. 1141-1149 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S002627140200080X

artikkel ajakirjas
32735

artikkel kogumikus

Hierarchical test generation for complex digital systems with control and data processing partsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan"Test, Assembly and Packaging" : SEMICON Technical Symposium : Singapur, May 3-6, 19991999 / p. 43-52

artikkel kogumikus
32736

dissertatsioon

Hierarchical test generation for digital circuits represented by Decision Diagrams : thesis on informatics and system engineeringRaik, Jaan2001 https://www.ester.ee/record=b1578107*est

dissertatsioon
32737

artikkel kogumikus

Hierarchical test generation for digital systemsBrik, Marina; Jervan, Gert; Markus, Antti; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesMixed design of integrated circuits and systems1998 / p. 131-136: ill https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4615-5651-0_20

artikkel kogumikus
32738

artikkel kogumikus

Hierarchical test generation for digital systems based on combining bottom-up and top-down approachesRaik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesWorld Multiconference on Systemics, Cybernetics and Informatics, July 12-16, 1998, Orlando, Florida : proceedings. Vol. 11998 / p. 374-381: ill

artikkel kogumikus
32739

artikkel kogumikus

Hierarchical test generation for finite state machinesBrik, Marina; Ubar, Raimund-JohannesBEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 11994 / p. 319-324: ill

artikkel kogumikus
32740

artikkel kogumikus

Hierarchical test generation with multi-level decision diagram modelsJervan, Gert; Markus, Antti; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the 7th IEEE North Atlantic Test Workshop, West Greenwich RI, USA, May 28-29, 19981998 / p. 26-33 https://www.academia.edu/67811738/Hierarchical_Test_Generation_with_Multi_Level_Decision_Diagram_Models?hb-g-sw=7883185

artikkel kogumikus
32741

artikkel kogumikus

Hierarchical test generation. SEMI show slidesUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan"Test, Assembly and Packaging" : SEMICON Technical Symposium : Singapur, May 3-6, 19991999 / p. 53-64

artikkel kogumikus
32742

dissertatsioon

Hierarchical test pattern generation and untestability identification techniques for synchronous sequential circuits = Hierarhilised testintegreerimise ja mittetestitavuse identifitseerimise meetodid sünkroonsetele järjestikskeemideleRannaste, Anna2010 https://www.ester.ee/record=b2637391*est

dissertatsioon
32743

artikkel kogumikus

Hierarchical test synthesis for digital systems using alternative graph modelUbar, Raimund-JohannesQuantitative aspects of designing and validating dependable computing systems1995

artikkel kogumikus
32744

artikkel kogumikus

Hierarchical timing-critical paths analysis in sequential circuitsJürimägi, Lembit; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Devadze, Sergei; Kostin, Sergei2018 IEEE 28th International Symposium on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS 2018) : 2 – 4 July 2018, Spain2018 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/PATMOS.2018.8464176

artikkel kogumikus
32745

dissertatsioon

Hierarchically structured functional ceramic composites with graphene augmented nanofibers = Hierarhiliselt struktureeritud funktsionaalsed keraamilised komposiidid grafeenlisandiga nanokiududegaSaffarshamshirgar, Ali2021 https://www.ester.ee/record=b5453046*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/13881820-10e9-4116-bf2c-440a4c2f7b9b https://doi.org/10.23658/taltech.42/2021

dissertatsioon
32746

artikkel ajakirjas

Hierarhilisest testigenereerimisest ja mittetestitavuse analüüsistRannaste, AnnaA & A2010 / 4, lk. 38-39 https://artiklid.elnet.ee/record=b2286481*est

artikkel ajakirjas
32747

artikkel ajakirjas

Hierarhilis-temporaalse mälu printsiipTammemäe, KalleA & A2007 / 3, lk. 9-19 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b1020789*est

artikkel ajakirjas
32748

artikkel ajalehes

Hieronymuse kaitse all avati Tehnikaülikooli uus teabevaramuNurmiste, TaimiMente et Manu2009 / 20. nov., lk. 1, 2 : fot https://www.ester.ee/record=b1242496*est

artikkel ajalehes
32749

artikkel ajakirjas

Hieronymuse kaitse all avati Tehnikaülikooli uus teabevaramuNurmiste, TaimiRaamatukogu2010 / 1, lk. 8-9 : fot https://artiklid.elnet.ee/record=b1964354*est

artikkel ajakirjas
32750

artikkel kogumikus

High accuracy filter transmission measurement for determination of the detection efficiency calibration of Si-SPAD detectorsDhoska, Klodian; Hofer, Helmuth; Rodiek, Beatrice; Lopez, Marco; Kübarsepp, Toomas; Kück, StefanProceedings of the 10th International Conference of DAAAM Baltic Industrial Engineering, 12-13th May 2015, Tallinn, Estonia2015 / p. 123-127 : ill

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 138472, kuvan 32726 - 32750

eelmine
1306
1307
1308
1309
1310
1311
1312
1313
1314
1315
järgmine

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu